基于图像处理的瓦楞纸质量检测方法技术

技术编号:35431431 阅读:11 留言:0更新日期:2022-11-03 11:36
本发明专利技术涉及图像处理领域,提出了一种基于图像处理的瓦楞纸质量检测方法,包括:S1:获取待检测瓦楞纸表面灰度图;S2:得到待检测瓦楞纸表面频谱图;S3:计算每个高频高亮点与低频中心点的距离;S4:得到每个高频高亮点的频率异常程度;S5:得到整体间距异常程度;S6:判断待检测瓦楞纸是否存在间距异常,若存在,判断待检测瓦楞纸质量不合格;否则,进行S7;S7:得到霍夫空间图像;S8:得到第一目标列和第二目标列中每个高亮点的异常程度;S9:得到第一目标列和第二目标列中高亮点的缺损影响程度;S10:得到缺损综合评测系数,通过缺损综合评测系数判断待检测瓦楞纸的质量是否合格。本发明专利技术提高了检测效率。提高了检测效率。提高了检测效率。

【技术实现步骤摘要】
基于图像处理的瓦楞纸质量检测方法


[0001]本专利技术涉及图像处理领域,具体涉及一种基于图像处理的瓦楞纸质量检测方法。

技术介绍

[0002]瓦楞纸是由挂面纸和通过瓦楞辊加工而形成的波形的瓦楞纸粘合而成的板状物,一般分为单瓦楞纸板和双瓦楞纸板两类。瓦楞纸的专利技术和应用有一百多年的历史,具有成本低、质量轻、加工易、强度大、印刷适应性样优良、储存搬运方便等优点,80%以上的瓦楞纸均可通过回收再生,瓦楞纸可用作快递或者货物的包装,相对环保,使用较为广泛。
[0003]对于瓦楞纸板,其瓦楞的合格程度直接影响了瓦楞纸板的质量优劣,瓦楞出现印刷缺损或者部分瓦楞宽度间距过大都会影响瓦楞纸板的质量。现有技术是通过人工目测的方式对瓦楞纸进行质量检测,这种方法效率低,且检测结果的准确性过分依赖于检测人员,很难保证准确率。
[0004]本专利技术旨在通过图像处理相关技术,利用霍夫空间矩阵及频谱相关知识来快速检测瓦楞纸板中瓦楞是否有异常缺陷,进而快速分析瓦楞纸板的质量,提高检测筛选精度,大幅减少人工检测花费的时间。

技术实现思路

[0005]本专利技术提供一种基于图像处理的瓦楞纸质量检测方法,以解决现有的检测效率低的问题。
[0006]本专利技术的一种基于图像处理的瓦楞纸质量检测方法,采用如下技术方案:S1:获取待检测瓦楞纸表面灰度图;S2:通过待检测瓦楞纸表面灰度图得到待检测瓦楞纸表面频谱图;S3:通过待检测瓦楞纸表面频谱图中每个高频高亮点对应的三角函数的最小正周期计算每个高频高亮点与低频中心点的距离;S4:通过待检测瓦楞纸表面频谱图中每个高频高亮点与低频中心点的距离以及像素值最大的高频高亮点与低频中心点的距离得到每个高频高亮点的频率异常程度;S5:通过所有高频高亮点的像素值和频率异常程度得到待检测瓦楞纸的整体间距异常程度;S6:利用待检测瓦楞纸的整体间距异常程度判断待检测瓦楞纸是否存在间距异常,若待检测瓦楞纸存在间距异常,判断待检测瓦楞纸质量不合格;否则,进行S7;S7:通过待检测瓦楞纸表面灰度图得到待检测瓦楞纸表面二值图,将待检测瓦楞纸表面二值图中的瓦楞像素点转换到霍夫空间,得到霍夫空间图像;S8:获取霍夫空间图像中每列高亮点的方差,选取所有列高亮点的方差中最小的两个方差对应的列分别作为第一目标列和第二目标列,分别通过第一目标列和第二目标列中每个高亮点的像素值以及第一目标列和第二目标列的高亮点像素均值得到第一目标列和第二目标列中每个高亮点的异常程度;
S9:分别通过第一目标列和第二目标列中所有高亮点的异常程度得到第一目标列和第二目标列中高亮点的缺损影响程度;S10:通过第一目标列和第二目标列中的高亮点像素均值、高亮点个数以及高亮点的缺损影响程度得到待检测瓦楞纸的缺损综合评测系数,通过待检测瓦楞纸的缺损综合评测系数判断该待检测瓦楞纸的质量是否合格。
[0007]进一步的,所述的一种基于图像处理的瓦楞纸质量检测方法,每个高频高亮点与低频中心点的距离为该高频高亮点所对应的三角函数的最小正周期的倒数。
[0008]进一步的,所述的一种基于图像处理的瓦楞纸质量检测方法,获取每个高频高亮点的频率异常程度的方法为:获取像素值最大的高频高亮点与低频中心点的距离;通过像素值最大的高频高亮点与低频中心点的距离以及目标高频高亮点与低频中心点的距离得到距离差;通过该距离差和像素值最大的高频高亮点与低频中心点的距离的比值得到目标高频高亮点的频率异常程度。
[0009]进一步的,所述的一种基于图像处理的瓦楞纸质量检测方法,得到待检测瓦楞纸的整体间距异常程度的方法为:式中:表示待检测瓦楞纸的整体间距异常程度,表示第个高频高亮点的间距异常程度,表示第个高频高亮点,表示高频高亮点的个数;高频高亮点的间距异常程度的表达式为:式中:表示第个高频高亮点的像素值,表示第个高频高亮点的频率异常程度。
[0010]进一步的,所述的一种基于图像处理的瓦楞纸质量检测方法,第一目标列和第二目标列中每个高亮点的异常程度分别为第一目标列和第二目标列中每个高亮点的像素值与第一目标列和第二目标列的像素值均值差值的绝对值。
[0011]进一步的,所述的一种基于图像处理的瓦楞纸质量检测方法,得到第一目标列和第二目标列中高亮点的缺损影响程度的方法为:分别通过第一目标列和第二目标列中每个高亮点的异常程度和所有高亮点的异常程度得到第一目标列和第二目标列中每个高亮点的异常程度权重;分别通过第一目标列和第二目标列中所有高亮点的异常程度权重和异常程度得到第一目标列和第二目标列中高亮点的缺损影响程度。
[0012]进一步的,所述的一种基于图像处理的瓦楞纸质量检测方法,待检测瓦楞纸的缺损综合评测系数的表达式为:
式中:表示待检测瓦楞纸的缺损综合评测系数,表示第一目标列高亮点的缺损影响程度, 表示第二目标列高亮点的缺损影响程度,表示第一目标列高亮点的像素累加值,表示第二目标列高亮点的像素累加值。
[0013]本专利技术的有益效果是:本专利技术利用频谱图中高频高亮点的像素值和频率异常程度得到瓦楞纸整体间距异常程度,从而筛除出存在间距异常的待检测瓦楞纸,将不存在间距异常的待检测瓦楞纸二值图中的瓦楞像素点转换到霍夫空间,利用霍夫空间图像中的相关参数计算瓦楞纸缺损综合评测系数,最后通过缺损综合评测系数快速检测瓦楞纸板的质量是否合格,相对于现有技术,检测效率更高,避免了人工检测花费大量时间,同时提高了检测筛选精度。
附图说明
[0014]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0015]图1为本专利技术的一种基于图像处理的瓦楞纸质量检测方法的实施例的流程示意图。
具体实施方式
[0016]下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。
[0017]实施例1本专利技术的主要目的是:利用霍夫空间矩阵及频谱图像,快速判断分析瓦楞纸的质量是否合格,提高质量筛选精度,减少人工检测所花费的时间。
[0018]本专利技术的一种基于图像处理的瓦楞纸质量检测方法的实施例,如图1所示,包括:本专利技术所针对的情景为:采集瓦楞纸板瓦楞面表面图像,通过频谱及霍夫变换相关应用,对其进行质量分析。
[0019]S1:获取待检测瓦楞纸表面灰度图。
[0020]本实施例需要利用相机采集瓦楞纸板瓦楞面表面图像,并对其进行灰度化处理,得到其灰度图。
[0021]瓦楞纸板的瓦楞表面分布有相互平行且等长的一条条瓦楞,而瓦楞中间则是凹槽部分。由于不处于同一平面导致对光的反射不同,所以瓦楞与凹槽会反映出不同的灰度,又因为瓦本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于图像处理的瓦楞纸质量检测方法,其特征在于,包括:S1:获取待检测瓦楞纸表面灰度图;S2:通过待检测瓦楞纸表面灰度图得到待检测瓦楞纸表面频谱图;S3:通过待检测瓦楞纸表面频谱图中每个高频高亮点对应的三角函数的最小正周期计算每个高频高亮点与低频中心点的距离;S4:通过待检测瓦楞纸表面频谱图中每个高频高亮点与低频中心点的距离以及像素值最大的高频高亮点与低频中心点的距离得到每个高频高亮点的频率异常程度;S5:通过所有高频高亮点的像素值和频率异常程度得到待检测瓦楞纸的整体间距异常程度;S6:利用待检测瓦楞纸的整体间距异常程度判断待检测瓦楞纸是否存在间距异常,若待检测瓦楞纸存在间距异常,判断待检测瓦楞纸质量不合格;否则,进行S7;S7:通过待检测瓦楞纸表面灰度图得到待检测瓦楞纸表面二值图,将待检测瓦楞纸表面二值图中的瓦楞像素点转换到霍夫空间,得到霍夫空间图像;S8:获取霍夫空间图像中每列高亮点的方差,选取所有列高亮点的方差中最小的两个方差对应的列分别作为第一目标列和第二目标列,分别通过第一目标列和第二目标列中每个高亮点的像素值以及第一目标列和第二目标列的高亮点像素均值得到第一目标列和第二目标列中每个高亮点的异常程度;S9:分别通过第一目标列和第二目标列中所有高亮点的异常程度得到第一目标列和第二目标列中高亮点的缺损影响程度;S10:通过第一目标列和第二目标列中的高亮点像素均值、高亮点个数以及高亮点的缺损影响程度得到待检测瓦楞纸的缺损综合评测系数,通过待检测瓦楞纸的缺损综合评测系数判断该待检测瓦楞纸的质量是否合格。2.根据权利要求1所述的一种基于图像处理的瓦楞纸质量检测方法,其特征在于,每个高频高亮点与低频中心点的距离为该高频高亮点所对应的三角函数的最小正周期的倒数。3.根据权利要求1所述的一种基于图像处理的瓦楞纸质量检测方...

【专利技术属性】
技术研发人员:严峰
申请(专利权)人:南通华烽纸业有限公司
类型:发明
国别省市:

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