检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种能够抑制在向多个光电二极管入射的光中产生不期望的图案的检测装置。检测装置具有：基板；多个光电二极管，设于基板，且在第一方向上排列；多个透镜，与多个光电二极管的每一个重叠地设置；以及遮光层，设于多个光电二极管与多个透镜之间，且具有多个开口，在与一个光电二极管重叠的区域设有多个开口，并且与一个光电二极管重叠的区域中的多个开口的排列方向相对于第一方向倾斜。开口的排列方向相对于第一方向倾斜。开口的排列方向相对于第一方向倾斜。

【技术实现步骤摘要】
检测装置


[0001]本专利技术涉及检测装置。

技术介绍

[0002]在专利文献1中，记载了如下的图像输入光学系统，其具有：透镜阵列，排列有多个透镜；光传感器阵列，排列有多个光传感器；以及针孔阵列，设于透镜阵列与光传感器阵列之间。在专利文献2中，记载了如下的光学拍摄装置，其在微透镜与光传感器之间具有设有开口的遮光层。
[0003]在专利文献3以及专利文献4中，分别记载了配置于显示装置之下的光学指纹传感器。在专利文献3中，硅基板上的多个光传感器的排列方向相对于显示装置的像素的排列方向倾斜地配置。在专利文献4中，指纹传感器相对于显示装置的长轴方向倾斜地设置。
[0004]现有技术文献
[0005]专利文献
[0006]专利文献1：日本特开平9
‑
171154号公报
[0007]专利文献2：美国专利申请公开第2020/0089928号说明书
[0008]专利文献3：美国专利申请公开第2018/0239941号说明书
[0009]专利文献4：日本特开2019
‑
49716号公报

技术实现思路

[0010]根据光传感器的光电二极管等的排列与配置于光传感器之上的显示装置的布线、发光元件等的排列的关系，存在有在入射到光传感器的光中产生莫尔条纹(干扰条纹)等不期望的图案的情况。在专利文献3以及专利文献4中，由于光传感器的制造工序、指纹传感器与显示装置的组装工序中的制约较大，因此存在有难以实现的情况。
[0011]本专利技术的目的在于提供一种能够抑制在向多个光电二极管入射的光中产生不期望的图案的检测装置。
[0012]本专利技术的一个方式的检测装置具有：基板；多个光电二极管，设于所述基板，且在第一方向上排列；多个透镜，与多个所述光电二极管的每一个重叠地设置；以及遮光层，设于多个所述光电二极管与多个所述透镜之间，且具有多个开口，在与一个所述光电二极管重叠的区域设有多个所述开口，并且与一个所述光电二极管重叠的区域中的多个所述开口的排列方向相对于所述第一方向倾斜。
[0013]本专利技术的一个方式的检测装置具有：基板；多个光电二极管，设于所述基板，且在第一方向上排列；多个透镜，与多个所述光电二极管的每一个重叠地设置；以及遮光层，设于多个所述光电二极管与多个所述透镜之间，且具有多个开口，在与一个所述光电二极管重叠的区域设有多个所述开口，并且与一个所述光电二极管重叠的区域中的多个所述开口中的至少一个所述开口的直径与其他所述开口的直径不同。
[0014]本专利技术的一个方式的检测装置具有：基板；多个光电二极管，设于所述基板，且在
第一方向上排列；多个透镜，与多个所述光电二极管的每一个重叠地设置；以及遮光层，设于多个所述光电二极管与多个所述透镜之间，且具有多个开口，在与一个所述光电二极管重叠的区域设有多个所述开口以及多个所述透镜，多个所述开口的数量与多个所述透镜的数量不同。
附图说明
[0015]图1是表示第一实施方式所涉及的检测装置以及显示装置的俯视图。
[0016]图2是图1的II
‑
II
’
剖视图。
[0017]图3是表示实施方式所涉及的检测装置的结构例的框图。
[0018]图4是表示检测元件的电路图。
[0019]图5是表示第一实施方式所涉及的滤光器的俯视图。
[0020]图6是表示滤光器的剖视图。
[0021]图7是用于示意性地说明倾斜方向的光入射到滤光器的情况下的、光的行进的说明图。
[0022]图8是示意性地表示检测元件的光电二极管的俯视图。
[0023]图9是表示第一变形例所涉及的滤光器的俯视图。
[0024]图10是表示第二变形例所涉及的滤光器的俯视图。
[0025]图11是表示第二实施方式所涉及的检测装置所具有的滤光器的俯视图。
[0026]图12是表示第三实施方式所涉及的检测装置所具有的滤光器的俯视图。
[0027]图13是示意性地表示第四实施方式所涉及的光电二极管的俯视图。
[0028]图14是表示部分光电二极管的简易剖面结构的剖视图。
[0029]附图标记说明
[0030]1、1A、1B、1C、1D、检测装置；2、阵列基板；3、检测元件；7、7A、7B、7C、7D、滤光器；10、传感器部；21、基板；29、保护膜；30、30A、光电二极管；30S、30S
‑
1、30S
‑
2、30S
‑
3、30S
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4、30S
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5、30S
‑
6、30S
‑
7、30S
‑
8、部分光电二极管；71、第一遮光层；72、第二遮光层；73、过滤层；74、第一透光性树脂层；75、第二透光性树脂层；78、透镜；100、显示装置；AA、检测区域；GA、周边区域；OP1、第一开口；OP2、第二开口。
具体实施方式
[0031]参照附图对用于实施本专利技术的方式(实施方式)详细地进行说明。本公开并不被以下的实施方式所记载的内容限定。另外，在以下所记载的构成要素中包含本领域技术人员能够容易地想到的要素、实质上相同的要素。进而，以下所记载的构成要素能够适当组合。此外，公开只不过是一个例子，对于本领域技术人员而言，关于保持本公开的主旨的适当变更，容易想到的内容当然也包含在本公开的范围内。另外，附图为了使说明更加明确，与实际的方式相比，存在有示意性地表示各部分的宽度、厚度、形状等的情况，但是终究只是一个例子，并不限定本公开的解释。另外，在本公开和各图中，对于与已出现的图相关地叙述的要素同样的要素，有时标注相同的附图标记，适当省略详细的说明。
[0032]在本说明书以及权利要求书中，在表示在某构造体之上配置其他构造体的方式时，在仅表述为“上”的情况下，只要没有特别说明，则包括以与某构造体接触的方式在正上
方配置其他构造体的情况、以及在某构造体的上方经由另外的构造体配置其他构造体的情况这两者。
[0033](第一实施方式)
[0034]图1是表示第一实施方式所涉及的检测装置以及显示装置的俯视图。图2是图1的II
‑
II
’
剖视图。另外，在图1中，为了易于观察附图，用双点划线表示显示装置100。
[0035]如图1以及图2所示，第一实施方式所涉及的检测装置1配置于显示装置100的下侧(图2所示的罩构件122的相反侧)。显示装置100是有机EL显示面板(OLED：OrganicLightEmittingDiode)。如图1所示，显示装置100具有多个子像素SPX。多个子像素SPX在显示区域排列成矩阵状。此外，显示装置100的显示区域与检测装置1的检测区域AA重叠地设置。在图1中，显示装置100的显示区域的整个区域与检测装置1的检测区域AA重叠。但是，也可以与显示装置100的显示区域的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测装置，其特征在于，具有：基板；多个光电二极管，设于所述基板，且在第一方向上排列；多个透镜，与多个所述光电二极管的每一个重叠地设置；以及遮光层，设于多个所述光电二极管与多个所述透镜之间，且具有多个开口，在与一个所述光电二极管重叠的区域设有多个所述开口，并且与一个所述光电二极管重叠的区域中的多个所述开口的排列方向相对于所述第一方向倾斜。2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，多个所述透镜与多个所述开口的每一个重叠地设置，在与一个所述光电二极管重叠的区域中，多个所述透镜的排列方向相对于所述第一方向倾斜。3.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，多个所述光电二极管具有在所述第一方向上相邻的第一光电二极管以及第二光电二极管，与所述第一光电二极管重叠的区域中的多个所述开口的排列方向和与所述第二光电二极管重叠的区域中的多个所述开口的排列方向平行。4.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，多个所述光电二极管具有在所述第一方向上相邻的第一光电二极管以及第二光电二极管，与所述第一光电二极管重叠的区域中的多个所述开口的排列方向和与所述第二光电二极管重叠的区域中的多个所述开口的排列方向交叉。5.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于，多个所述光电二极管具有：第三光电二极管，在与所述第一方向交叉的第二方向上排列，并且在与所述第一方向交叉的第二方向上与所述第一光电二极管相邻；以及第四光电二极管，与所述第三光电二极管在所述第一方向上相邻，与所述第一光电二极管至所述第四光电二极管各自重叠的区域中的多个所述开口的排列方向配置为相互正交。6.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，在与一个所述光电二极管重叠的区域中，多个所述开口中的至少一个所述开口的直径与其他所述开口的直径不同。7.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，在与一个所述光电二极管重叠的区域中，多个所述开口的数量与多个所述透镜的数量不同。8.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，在与一个所述光电二极管重叠的区域且与多个所述透镜中的至少一个所述透镜相对应的区域中，在所述遮光层未形成所述开口。9.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，一个所述光...

【专利技术属性】
技术研发人员：多胡惠二，扇一公俊，川崎哲，
申请(专利权)人：株式会社日本显示器，
类型：发明
国别省市：