【技术实现步骤摘要】
基于波谱展开与幅度项补偿的线阵天线近场圆周测量方法
[0001]本专利技术属于天线测量领域,涉及一种线阵天线近场测量方法,具体涉及一种基于波谱展开与幅度项补偿的通过圆周采样实现的线阵天线近场测量方法,可用于线阵天线的设计、研发与维护。
技术介绍
[0002]一维线性天线阵列在基站天线设计、相控阵设计等技术设计领域有着广泛的应用,而一维线性阵列天线的研发、设计和维护都离不开近场测量技术。通常对阵列天线进行近场测量时需要使用三维采样扫描的近场测量方法,而由于一维线性天线阵列主要是关注组阵维度切面的方向图特性,因此一维线性天线阵列可采用二维简化的二维单切面的近场测量方法,相比于三维方法改善了测量效率,而二维单切面的近场测量方法在采样方式上通常可分为直线测量方法和圆周测量方法。对于圆周测量方法,通常是通过圆周采样方法采集待测天线阵列中心工作频率的离散近场电场信号,将获得的离散信号还原为连续的近场电场信号,再对该信号进行傅里叶逆变换获得波谱展开系数,最终对中心工作频率点波谱展开系数进行远场外推,获取单切面远场方向图。近场测量的测量效率 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于波谱展开与幅度项补偿的线性阵列天线近场圆周测量方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)获取线性阵列天线三个工作频率点的近场电场信号:(1a)初始化中心位于平面极坐标系原点的线性阵列天线的工作频率点为f0,f0对应的波长为λ0,进行圆周采样的半径为d,采样次数为C,采样间距为其中其中表示向上取整,k表示中心工作频率点f0下的波数,k=2π/λ0,(1b)计算线性阵列天线的两个差分工作频率点f1=f0+Δf和f2=f0‑
Δf,并在频率点f0、f1、f2下对线性阵列天线的近场区域分别进行C次圆周近场采样,得到圆周离散电场信号集合U0={U
01
,U
02
,
…
,U
0c
,...,U
0C
}、U1={U
11
,U
12
,
…
,U
1c
,...,U
1C
}、U2={U
21
,U
22
,
…
,U
2c
,...,U
2C
},然后通过奈奎斯特采样定理对圆周离散电场信号集合U0、U1、U2分别进行还原变换,得到连续的近场电场信号其中,Δf∈[0.001MHz,100MHz],表示圆周近场采样信号在极坐标上的极角坐标;(2)获取差分近场电场信号:对频率点f1、f2下的近场电场信号进行差分,得到差分近场电场信号进行差分,得到差分近场电场信号(3)获取线性阵列天线两个近场电场...
【专利技术属性】
技术研发人员:焦永昌,翦璋,张依轩,张玉,赵勋旺,
申请(专利权)人:西安电子科技大学,
类型:发明
国别省市:
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