非等间距分布的多探头天线测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种非等间距分布的多探头天线测试系统，转台驱动装置驱动测试转台绕竖直轴旋转，用于固定待测试天线的支撑抱杆同轴固定于测试转台上，多探头阵列环包括分布于以待测试天线中心为圆心的同一圆环上的顶探头、左半环探头和右半环探头，顶探头位于过圆心的竖直轴与圆环的交点处，左半环探头和右半环探头都等角间距的均匀排列，左半环相邻探头之间的夹角与右半环相邻探头之间的夹角相等，顶探头与相邻的左侧探头的夹角是顶探头与相邻右侧探头夹角的两倍，控制系统对顶探头、左侧探头和右侧探头传输的检测信号进行分析并控制转台驱动装置启停，本发明专利技术在不改变探头数量的情况下，增加采样密度，提高测试精度。提高测试精度。提高测试精度。

【技术实现步骤摘要】
非等间距分布的多探头天线测试系统


[0001]本专利技术涉及一种天线测试系统，特别涉及一种非等间距分布的多探头天线测试系统。

技术介绍

[0002]近年来，随着天线在卫星通信、电子导航、航天探测、雷达监测等领域的广泛应用，天线测试技术得到了快速发展。所有天线的设计生产都必须经过天线测试通过分析测量结果得到天线的各种性能指标，然后不断修改和完善天线的设计，从而得到满足需求的高性能天线。因此产生了一种多探头的天线测试系统，其中多探头测试可以增加天线测试效率和精度。
[0003]其中，对于多探头天线测试系统来说，多探头形成了多个测试通道，在天线测量中最重要的一点是提高测试精度和测试范围，而探头数量越多测试精度就越高、测试范围就越大，同时探头数量越多则测试系统也越大，测试成本就越高，因此，如何在不增加探头数量的情况下，提高测试精度就成为一种新的问题。

技术实现思路

[0004]为了克服上述缺陷，本专利技术提供了一种非等间距分布的多探头天线测试系统，该非等间距分布的多探头天线测试系统在不改变探头数量的情况下，能够有效增加采样密度，提高测试精度。
[0005]本专利技术为了解决其技术问题所采用的技术方案是：一种非等间距分布的多探头天线测试系统，包括多探头阵列环、测试转台、转台驱动装置、支撑抱杆及控制系统，所述测试转台能够绕竖直轴转动，转台驱动装置驱动测试转台旋转，支撑抱杆同轴固定安装于测试转台上，待测试天线能够固定安装于支撑抱杆上，多探头阵列环包括顶探头、左半环探头和右半环探头，所述顶探头、若干左半环探头和若干右半环探头分布于以待测试天线中心为圆心的同一圆环上，其中顶探头固定设于过圆心的竖直轴与圆环的交点处，若干左半环探头等角间距的均匀排列，若干右半环探头等角间距的均匀排列，且左半环相邻探头之间的夹角与右半环相邻探头之间的夹角相等，所述顶探头与相邻的左侧探头之间的夹角是顶探头与相邻右侧探头之间夹角的两倍，所述顶探头、左侧探头和右侧探头能够将检测信号传输给控制系统，控制系统能够对检测信号进行分析并控制转台驱动装置启停动作。
[0006]作为本专利技术的进一步改进，多个探头在一个平面内沿圆环分布组成所述多探头环,支撑抱杆上的被测天线位于所述多探头环的圆心。
[0007]作为本专利技术的进一步改进，所述顶探头与相邻的左侧探头之间的夹角为a
°
，顶探头与相邻右侧探头之间夹角为0.5a
°
，相邻两个右侧探头以及相邻两个左侧探头之间的夹角均为a
°
，所述顶探头与最远的左侧探头之间的夹角为na
°
，顶探头与最远的右侧探头之间的夹角为(n
‑
0.5)a
°
,其中na<180
°
。
[0008]作为本专利技术的进一步改进，所述探头阵列所在圆环直径不大于待测试天线中心到
测试转台表面的距离。
[0009]作为本专利技术的进一步改进，所述探头阵列还包括圆形安装轨道，所述顶探头、左半环探头和右半环探头分别固定安装于圆形安装轨道上，顶探头、左半环探头和右半环探头分别指向位于圆形安装轨道圆心上的待测试天线。
[0010]作为本专利技术的进一步改进，所述圆形安装轨道上还设有顶探头支架、左侧探头支架和右侧探头支架，所述顶探头支架能够沿圆形安装轨道轴向摆动设定角度安装于圆形安装轨道上，左侧探头支架和右侧探头支架分别能够沿圆形安装轨道圆周方向滑动设定距离的安装于圆形安装轨道上，所述左侧探头支架和右侧探头支架上还分别设有角度调节支架，所述角度调节支架能够沿圆形安装轨道轴向摆动设定角度的安装于左侧探头支架和右侧探头支架上，还设有定位件，所述定位件能够将顶探头支架、左侧探头支架和右侧探头支架与圆形安装轨道固定定位，定位件还能够将角度调节支架与左侧探头支架以及右侧探头支架固定定位，所述顶探头固定安装于顶探头支架上，左侧探头和右侧探头分别固定安装于左侧探头支架和右侧探头支架上的角度调节支架上。
[0011]作为本专利技术的进一步改进，所述探头阵列和支撑抱杆位于同一竖直平面上。
[0012]作为本专利技术的进一步改进，支撑杆以可拆卸方式固定在所述测试转台上，支撑抱杆上的被测物位于多探头环的圆心位置，各探头到所述多探头环中心的距离都相等。
[0013]本专利技术的有益效果是：本专利技术以环状分布探头阵列的顶探头为界，左侧探头和右侧探头分别均匀间隔排列，通过使顶探头与相邻左侧探头之间夹角是与顶杆头与相邻右侧探头之间夹角的两倍，进而使得各个左侧探头与各个右侧探头形成均匀交错状态排列，整个探头阵列形成非均匀排布状态，通过测试转台带动待测试天线360
°
旋转实现双倍密度测试，进而在不改变探头数量的情况下，非等间距分布的多探头可以增加采样密度，提高测试精度。
附图说明
[0014]图1为本专利技术的结构原理主视图；
[0015]图2为本专利技术的结构一种实施例主视图。
具体实施方式
[0016]实施例：一种非等间距分布的多探头天线测试系统，包括多探头阵列环、测试转台1、转台驱动装置、支撑抱杆2及控制系统，所述测试转台1能够绕竖直轴转动，转台驱动装置驱动测试转台1旋转，支撑抱杆2同轴固定安装于测试转台1上，待测试天线3能够固定安装于支撑抱杆2上，多探头阵列环包括顶探头4、左半环探头5和右半环探头6，所述顶探头4、若干左半环探头5和若干右半环探头6分布于以待测试天线3中心为圆心的同一圆环上，其中顶探头4固定设于过圆心的竖直轴与圆环的交点处，若干左半环探头5等角间距的均匀排列，若干右半环探头6等角间距的均匀排列，且左半环相邻探头之间的夹角与右半环相邻探头之间的夹角相等，所述顶探头4与相邻的左侧探头之间的夹角是顶探头4与相邻右侧探头之间夹角的两倍，所述顶探头4、左侧探头和右侧探头能够将检测信号传输给控制系统，控制系统能够对检测信号进行分析并控制转台驱动装置启停动作。
[0017]测试时，控制系统控制测试转台1带动支撑抱杆2绕竖直转轴360度旋转，顶探头4、
左半环探头5和右半环探头6分别对支撑抱杆2上的被测物天线发射信号并接收反射信号，最终信号传输给控制系统，获取被测天线的近场幅度和相位数据，由于位于顶探头4左侧半个圆环上的左侧探头与位于顶探头4右侧半个圆环上的右侧探头刚好形成均匀交错状态分布，当天线旋转360度时，左半环探头5和右半环探头6分别形成一个球面采样，且左侧探头与右侧探头采样点位在探头排列方向刚好交错，形成了扫描密度的加倍效果，在探头数量不变的前提下成倍提高了测试精度，使得用户可以通过较低的测试成本获得较高的测试精度。其中，顶探头4、左半环探头5和右半环探头6形成的圆环由两个半圆环组成，两个半圆环拼接形成一个整圆环，顶探头4固定设于两个半圆环拼接处的顶端，顶探头4刚好位于经过圆心的竖直线与圆环的交点处，左侧探头安装在左侧半圆环上，右侧探头安装于右侧半圆环上。
[0018]多个探头在一个平面内沿圆环分布组成所述多探头环,支撑抱杆2上的被测天线位于所述多本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种非等间距分布的多探头天线测试系统，其特征在于：包括多探头阵列环、测试转台(1)、转台驱动装置、支撑抱杆(2)及控制系统，所述测试转台能够绕竖直轴转动，转台驱动装置驱动测试转台旋转，支撑抱杆同轴固定安装于测试转台上，待测试天线(3)能够固定安装于支撑抱杆上，多探头阵列环包括顶探头(4)、左半环探头(5)和右半环探头(6)，所述顶探头、若干左半环探头和若干右半环探头分布于以待测试天线中心为圆心的同一圆环上，其中顶探头固定设于过圆心的竖直轴与圆环的交点处，若干左半环探头等角间距的均匀排列，若干右半环探头等角间距的均匀排列，且左半环相邻探头之间的夹角与右半环相邻探头之间的夹角相等，所述顶探头与相邻的左侧探头之间的夹角是顶探头与相邻右侧探头之间夹角的两倍，所述顶探头、左侧探头和右侧探头能够将检测信号传输给控制系统，控制系统能够对检测信号进行分析并控制转台驱动装置启停动作。2.根据权利要求1所述的非等间距分布的多探头天线测试系统，其特征在于：多个探头在一个平面内沿圆环分布组成所述多探头环,支撑抱杆上的被测天线位于所述多探头环的圆心。3.根据权利要求1所述的非等间距分布的多探头天线测试系统，其特征在于：所述顶探头与相邻的左侧探头之间的夹角为a
°
，顶探头与相邻右侧探头之间夹角为0.5a
°
，相邻两个右侧探头以及相邻两个左侧探头之间的夹角均为a
°
，所述顶探头与最远的左侧探头之间的夹角为na
°
，顶探头与最远的右侧探头之间的夹角为(n
‑
0.5)a
°
,其中na<...

【专利技术属性】
技术研发人员：张佳莺，陈宇钦，何丽华，袁国强，王琳，
申请(专利权)人：苏州益谱电磁科技有限公司，
类型：发明
国别省市：