一种紧缩场、球面近场复合天线测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种紧缩场、球面近场复合天线测试系统，包括电磁波暗室、紧缩场反射板、可倒伏吸波板、馈源、探头和多轴转台，多轴转台上设有待测天线安装位；紧缩场反射板与多轴转台相互正对，可倒伏吸波板设在紧缩场反射板与多轴转台之间，且正对于多轴转台，探头设在可倒伏吸波板上；可倒伏吸波板具有直立状态和倒伏状态，且在直立状态下在紧缩场反射板与多轴转台之间构成完全遮挡，在倒伏状态下不构成遮挡；馈源设于紧缩场反射板前方的一侧，且指向紧缩场反射板。该系统将紧缩场测试系统和球面近场测试系统整合在同一个电磁波暗室中，从而覆盖更多的工作频率范围，提高测试场的利用率，降低测试成本，同时避免转场带来的麻烦。同时避免转场带来的麻烦。同时避免转场带来的麻烦。

【技术实现步骤摘要】
一种紧缩场、球面近场复合天线测试系统


[0001]本技术涉及天线测试
，特别地，涉及一种紧缩场、球面近场复合天线测试系统。

技术介绍

[0002]在现代无线通信系统中，天线是不可或缺的关键组成部分之一，为了衡量天线实际的工作性能，就需要更为精确的测试系统对天线实际工作情况进行评估验证。
[0003]远场测试和近场测试为天线的两类主要测试方法，这两种测试均需要在电磁波暗室中进行；其中，天线的远场测试是传统的方法，但由于远场测试过程中被测天线与探头之间需要保持较大距离，对于尺寸相对较大的天线，如大规模MIMO(多输入多输出)天线而言，难以满足远场测试的条件，适于采用近场测试手段。
[0004]此外，5G时代的到来，随着频率的升高，大型被测件(例如基站天线)的远场条件距离变得很长，意味着要求的微波暗室尺寸变大进而成本增加，这样才能保证暗室内静区的性能,因而在微波暗室的实现远场条件变得困难。并且随着远场距离的增加路径损耗变大，从而导致的测试精度下降也是不容忽视的问题。紧缩场的出现解决了上述2个问题。远场测试的紧缩场测量技术采用镜面本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种紧缩场、球面近场复合天线测试系统，其特征在于：包括电磁波暗室(1)、紧缩场反射板(2)、可倒伏吸波板(3)、馈源(4)、探头(5)和多轴转台(6)，所述多轴转台(6)上设有待测天线安装位；所述紧缩场反射板(2)与所述多轴转台(6)相互正对地设在所述电磁波暗室(1)中，所述可倒伏吸波板(3)设在所述紧缩场反射板(2)与所述多轴转台(6)之间，且正对于所述多轴转台(6)，所述探头(5)设在所述可倒伏吸波板(3)正对于所述多轴转台(6)的正对面上；所述可倒伏吸波板(3)具有一直立状态和一倒伏状态，该可倒伏吸波板(3)在直立状态下在所述紧缩场反射板(2)与所述多轴转台(6)之间构成完全遮挡，在倒伏状态下不构成遮挡；所述馈源(4)设于所述紧缩场反射板(2)前方的一侧，且指向所述紧缩场反射板(2)。2.根据权利要求1所述的一种紧缩场、球面近场复合天线测试系统，其特征在于：所述可倒伏吸波板(3)底部设有一旋转轴(7)，并通过该旋转轴(7)在直立状态和倒伏状态之间转动。3.根据权利要求2所述的一种紧缩场、球面近场复合天线测试系统，其特征在于：所述旋转轴(7)由一电机或液压装置驱动...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈宇钦，张佳莺，何丽华，袁国强，王琳，
申请(专利权)人：苏州益谱电磁科技有限公司，
类型：新型
国别省市：