无线缆芯片天线阻抗和增益测量方法技术

本发明专利技术公开了一种无线缆芯片天线阻抗和增益测量方法，先建立探头和被测天线的电磁模型，再建立基于单向传输方程的自由空间传播模型和测量系统的模型，然后建立包含探头、自由空间传播和被测天线的测量系统的电磁模型，推导出包含任意探头、自由空间传播和任意被测天线的测量系统的完整电磁模型，然后，确定探头、自由空间传播和被测天线的各散射矩阵，并从近场距离测量中，提取定天线阻抗和增益，本发明专利技术克服了传统探针和馈电线缆的泄露电流和散射效应等对芯片天线的影响，本发明专利技术可以很好地应用于馈线对被测天线有较大影响的场景，大大提高了该类天线的测量精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及通信领域中的一种天线测试方法，特别涉及一种无线缆芯片天线阻抗和增益测量方法。

技术介绍

1、近些年来，天线小型化技术被广泛应用于助听器、手机、便携式无线设备、传感器和射频识别，芯片封装等领域。天线小型化的产品虽然便于携带、方便运输，极大地方便了人们的生活，但是天线小型化会导致天线阻抗带宽狭窄、辐射效率低下等问题。若需要准确地表征小天线的性能，最重要的是参数，即输入阻抗和增益。但就目前拥有的几种测量技术来说，阻抗和增益的测量仍然是一项具有挑战性的任务。

2、用雷达横截面法测量天线阻抗和增益，r.j.garbacz在其文章中已有描述，后来j.appel-hansen、w.wiesbeck和e.heidrich研究发现，该方法可以很好地应用于多个波长的天线，但当它用于低辐射效率的esa时，被测信号的动态范围就变得相当低，大大降低了测量精度。于是hsin-chia lu和tah-hsiung chu提出了另一种改进的测量方法，即rcs法和三天线法的结合。然而，它只是部分无线缆，因为馈电线缆用于测量aut的反射系数。然后，天线增益通过考虑上本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种无线缆芯片天线阻抗和增益测量方法，其特征在于：包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的无线缆芯片天线阻抗和增益测量方法，其特征在于：所述探头为任意探头，被测天线为任意芯片天线。

3.根据权利要求1所述的无线缆芯片天线阻抗和增益测量方法，其特征在于：该模型采用球面波展(SWE)对探头和被测天线(AUT)进行建模，所述测量系统采用球面波展(SWE)的三个耦合多端口网络级联建模。

4.根据权利要求3所述的无线缆芯片天线阻抗和增益测量方法，其特征在于：对探头和被测天线(AUT)进行建模方程式如下：

5.根据权利要求3所述的无线缆芯片天线阻抗...

【技术特征摘要】

1.一种无线缆芯片天线阻抗和增益测量方法，其特征在于：包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的无线缆芯片天线阻抗和增益测量方法，其特征在于：所述探头为任意探头，被测天线为任意芯片天线。

3.根据权利要求1所述的无线缆芯片天线阻抗和增益测量方法，其特征在于：该模型采用球面波展(swe)对探头和被测天线(aut)进行建模，所述测量系统采用球面波展(swe)的三个耦合多端口网络级联建模。

4.根据权利要求3所述的无线缆芯片天线阻抗和增益测量方法，其特征在于：对探头和被测天线(aut)进行建模方程式如下：

5.根据权利要求3所述的无线缆芯片天线阻抗和增益测量方法，其特征在于：被测天线的总散射矩阵表示为：

6.根据权利要求3所述的无线缆芯片天线阻抗和增益测量方法，其特征在于：步骤三中建立基于单向传输方程的自由空间传播模型时，先分别定义探头坐标(x，y，z)和被测天线(aut)坐标(x...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈宇钦，张佳莺，袁国强，王琳，
申请(专利权)人：苏州益谱电磁科技有限公司，
类型：发明
国别省市：