一种基于直线拟合的表面缺陷检测方法及检测系统技术方案

本发明专利技术公开了一种基于直线拟合的表面缺陷检测方法及检测系统，其中方法包括：在产品的表面图像上，沿若干个搜索线方向分别进行采样，得到与若干个搜索线方向对应的若干个采样点群；获取每个采样点群中每个采样点的灰度值，得到与若干个采样点群对应的若干个数据点集；对每个数据点集进行直线拟合，得到与若干个数据点集对应的若干条基准线；通过每条基准线求对应的数据点集中每个采样点的基准值，并根据采样点的灰度值与对应的基准值之间的计算结果，确定采样点是否为表面缺陷点。本发明专利技术可对产品的表面缺陷进行自动检测，提高了检测效率和检测精度，能够满足现代化生产需求，易于市场推广。于市场推广。于市场推广。

【技术实现步骤摘要】
一种基于直线拟合的表面缺陷检测方法及检测系统


[0001]本专利技术涉及机器视觉检测
，尤其涉及一种基于直线拟合的表面缺陷检测方法及检测系统。

技术介绍

[0002]近年来，随着科学技术的发展，各行各业中自动化生产所占的比重不断增长。
[0003]目前，传统的表面缺陷检测往往采用人工质检的方式进行，这种检测方式不仅时间长，以及需要耗费大量人力财力，而且检测结果容易受质检人员的主观因素影响，从而容易出现漏检和误检的情况。再说，随着生产速度的不断提高，人工质检的方式无法保证在较低成本的情况下逐个检测生产的所有产品，所以传统的人工质检方式已经无法满足现代自动化生产需求，在表面缺陷检测领域中引入机器视觉是具有重大意义。
[0004]因此，需要对现有技术进行改进。
[0005]以上信息作为背景信息给出只是为了辅助理解本公开，并没有确定或者承认任意上述内容是否可用作相对于本公开的现有技术。

技术实现思路

[0006]本专利技术提供一种基于直线拟合的表面缺陷检测方法及检测系统，以解决现有技术的不足。
[0007]为实现上述目的，本专利技术提供以下的技术方案：
[0008]第一方面，本专利技术实施例提供一种基于直线拟合的表面缺陷检测方法，所述方法包括：
[0009]在产品的表面图像上，沿若干个搜索线方向分别进行采样，得到与若干个所述搜索线方向对应的若干个采样点群；
[0010]获取每个所述采样点群中每个采样点的灰度值，得到与若干个所述采样点群对应的若干个数据点集；
[0011]对每个所述数据点集进行直线拟合，得到与若干个所述数据点集对应的若干条基准线；
[0012]通过每条所述基准线求对应的所述数据点集中每个所述采样点的基准值，并根据所述采样点的灰度值与对应的所述基准值之间的计算结果，确定所述采样点是否为表面缺陷点。
[0013]进一步地，所述基于直线拟合的表面缺陷检测方法中，所述在产品的表面图像上，沿若干个搜索线方向分别进行采样，得到与若干个所述搜索线方向对应的若干个采样点群的步骤包括：
[0014]在产品的表面图像上，以X方向、Y方向、圆环方向中的任一半径方向确定若干个搜索线方向；
[0015]沿每个所述搜索线方向,以一定步长进行采样，得到与若干个所述搜索线方向对
应的若干个采样点群。
[0016]进一步地，所述基于直线拟合的表面缺陷检测方法中，所述对每个所述数据点集进行直线拟合，得到与若干个所述数据点集对应的若干条基准线的步骤包括：
[0017]对每个所述数据点集进行累计概率霍夫变换，以去除离群点；
[0018]将每个所述数据点集中剩余的点进行直线拟合，得到与若干个所述数据点集对应的若干条基准线。
[0019]进一步地，所述基于直线拟合的表面缺陷检测方法中，所述通过每条所述基准线求对应的所述数据点集中每个所述采样点的基准值，并根据所述采样点的灰度值与对应的所述基准值之间的计算结果，确定每个所述采样点是否为表面缺陷的步骤包括：
[0020]通过每条所述基准线求对应的所述数据点集中每个所述采样点的基准值；
[0021]若所述采样点的灰度值与对应的所述基准值之间的差值大于凸起阈值，则确定所述采样点为凸起表面缺陷点；
[0022]若所述采样点的基准值与对应的所述灰度值之间的差值大于凹陷阈值，则确定所述采样点为凹陷表面缺陷点。
[0023]进一步地，所述基于直线拟合的表面缺陷检测方法中，在所述通过每条所述基准线求对应的所述数据点集中每个所述采样点的基准值，并根据所述采样点的灰度值与对应的所述基准值之间的计算结果，确定所述采样点是否为表面缺陷点的步骤之后，所述方法还包括：
[0024]将所述表面缺陷点进行合并，以确定对应的表面缺陷类型。
[0025]第二方面，本专利技术实施例提供一种基于直线拟合的表面缺陷检测系统，所述系统包括：
[0026]图像采样模块，用于在产品的表面图像上，沿若干个搜索线方向分别进行采样，得到与若干个所述搜索线方向对应的若干个采样点群；
[0027]灰度获取模块，用于获取每个所述采样点群中每个采样点的灰度值，得到与若干个所述采样点群对应的若干个数据点集；
[0028]直线拟合模块，用于对每个所述数据点集进行直线拟合，得到与若干个所述数据点集对应的若干条基准线；
[0029]计算确定模块，用于通过每条所述基准线求对应的所述数据点集中每个所述采样点的基准值，并根据所述采样点的灰度值与对应的所述基准值之间的计算结果，确定所述采样点是否为表面缺陷点。
[0030]进一步地，所述基于直线拟合的表面缺陷检测系统中，所述图像采样模块具体用于：
[0031]在产品的表面图像上，以X方向、Y方向、圆环方向中的任一方向确定若干个搜索线方向；
[0032]沿每个所述搜索线方向,以一定步长进行采样，得到与若干个所述搜索线方向对应的若干个采样点群。
[0033]进一步地，所述基于直线拟合的表面缺陷检测系统中，所述直线拟合模块具体用于：
[0034]对每个所述数据点集进行累计概率霍夫变换，以去除离群点；
[0035]将每个所述数据点集中剩余的点进行直线拟合，得到与若干个所述数据点集对应的若干条基准线。
[0036]进一步地，所述基于直线拟合的表面缺陷检测系统中，所述计算确定模块具体用于：
[0037]通过每条所述基准线求对应的所述数据点集中每个所述采样点的基准值；
[0038]若所述采样点的灰度值与对应的所述基准值之间的差值大于凸起阈值，则确定所述采样点为凸起表面缺陷点；
[0039]若所述采样点的基准值与对应的所述灰度值之间的差值大于凹陷阈值，则确定所述采样点为凹陷表面缺陷点。
[0040]进一步地，所述基于直线拟合的表面缺陷检测系统中，所述系统还包括：
[0041]类型确定模块，用于在所述通过每条所述基准线求对应的所述数据点集中每个所述采样点的基准值，并根据所述采样点的灰度值与对应的所述基准值之间的计算结果，确定所述采样点是否为表面缺陷点的步骤之后，将所述表面缺陷点进行合并，以确定对应的表面缺陷类型。
[0042]与现有技术相比，本专利技术实施例具有以下有益效果：
[0043]本专利技术实施例提供的一种基于直线拟合的表面缺陷检测方法及检测系统，可以对产品的表面缺陷进行自动检测，不仅有效缩短了人工检测的时间成本，提高了检测效率，而且还避免了人工检测的主观因素，显著提高了检测精度，从而能够满足现代化生产需求，具有较高的市场推广潜力。
附图说明
[0044]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0045]图1是本专利技术实施本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于直线拟合的表面缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：在产品的表面图像上，沿若干个搜索线方向分别进行采样，得到与若干个所述搜索线方向对应的若干个采样点群；获取每个所述采样点群中每个采样点的灰度值，得到与若干个所述采样点群对应的若干个数据点集；对每个所述数据点集进行直线拟合，得到与若干个所述数据点集对应的若干条基准线；通过每条所述基准线求对应的所述数据点集中每个所述采样点的基准值，并根据所述采样点的灰度值与对应的所述基准值之间的计算结果，确定所述采样点是否为表面缺陷点。2.根据权利要求1所述的基于直线拟合的表面缺陷检测方法，其特征在于，所述在产品的表面图像上，沿若干个搜索线方向分别进行采样，得到与若干个所述搜索线方向对应的若干个采样点群的步骤包括：在产品的表面图像上，以X方向、Y方向、圆环方向中的任一方向确定若干个搜索线方向；沿每个所述搜索线方向,以一定步长进行采样，得到与若干个所述搜索线方向对应的若干个采样点群。3.根据权利要求1所述的基于直线拟合的表面缺陷检测方法，其特征在于，所述对每个所述数据点集进行直线拟合，得到与若干个所述数据点集对应的若干条基准线的步骤包括：对每个所述数据点集进行累计概率霍夫变换，以去除离群点；将每个所述数据点集中剩余的点进行直线拟合，得到与若干个所述数据点集对应的若干条基准线。4.根据权利要求1所述的基于直线拟合的表面缺陷检测方法，其特征在于，所述通过每条所述基准线求对应的所述数据点集中每个所述采样点的基准值，并根据所述采样点的灰度值与对应的所述基准值之间的计算结果，确定每个所述采样点是否为表面缺陷的步骤包括：通过每条所述基准线求对应的所述数据点集中每个所述采样点的基准值；若所述采样点的灰度值与对应的所述基准值之间的差值大于凸起阈值，则确定所述采样点为凸起表面缺陷点；若所述采样点的基准值与对应的所述灰度值之间的差值大于凹陷阈值，则确定所述采样点为凹陷表面缺陷点。5.根据权利要求1所述的基于直线拟合的表面缺陷检测方法，其特征在于，在所述通过每条所述基准线求对应的所述数据点集中每个所述采样点的基准值，并根据所述采样点的灰度值与对应的所述基准值之间的计算结果，确定所述采样点是否为表...

【专利技术属性】
技术研发人员：欧高亮，
申请(专利权)人：广东奥普特科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：