本实用新型专利技术涉及集成电路测试领域，特别是一种集成电路用测试装置，包括机架、安装架、测试组件、夹持组件和移动组件，所述机架水平设置，所述安装架设有两个，两个安装架间隔设置在机架的顶部，且两个安装架对称设置，所述测试组件水平设置在两个安装架之间，且测试组件与两个安装架固定连接，所述测试组件位于机架的上方，所述移动组件滑动设置在机架上，且移动组件位于测试组件的下方，所述夹持组件分别设置在两个安装架上，且夹持组件与移动组件固定连接。本实用新型专利技术的优点在于：通过夹持组件可对不同大小的集成电路进行夹紧固定，通过移动组件与测试组件的配合，便于测试，且便于移动。动。动。
【技术实现步骤摘要】
一种集成电路用测试装置
[0001]本技术涉及集成电路测试
，特别是一种集成电路用测试装置。
技术介绍
[0002]集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。它在电路中用字母“IC”表示。集成电路专利技术者为杰克
·
基尔比(基于锗(Ge)的集成电路)和罗伯特
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诺伊思(基于硅(Si)的集成电路)。当今半导体工业大多数应用的是基于硅的集成电路。
[0003]现有的测试装置结构较大且不便于对其进行移动，对于集成电路的固定效果较差，并且操作过程较为繁琐，在使用时不便于测试者对电路板进行大规模的测试，从而导致样本较小影响测试的准确性。
技术实现思路
[0004]本技术的目的在于克服现有技术的缺点，提供一种集成电路用测试装置。
[0005]本技术的目的通过以下技术方案来实现：一种集成电路用测试装置，包括机架、安装架、测试组件、夹持组件和移动组件，所述机架水平设置，所述安装架设有两个，两个安装架间隔设置在机架的顶部，且两个安装架对称设置，所述测试组件水平设置在两个安装架之间，且测试组件与两个安装架固定连接，所述测试组件位于机架的上方，所述移动组件滑动设置在机架上，且移动组件位于测试组件的下方，所述夹持组件分别设置在两个安装架上，且夹持组件与移动组件固定连接。
[0006]优选的，所述测试组件包括伺服电机、安装板、固定板、移动螺杆、限位杆、移动齿条和滑动件，所述安装板水平设置在两个安装架之间，且安装板的两侧壁分别与两个安装架固定连接，所述固定板设有四个，四个固定板呈矩阵设置在安装板的底部，所述移动螺杆水平设置在两个固定板之间，且移动螺杆的两端分别与两个固定板的侧壁转动连接，所述限位杆水平设置在另两个固定板之间，且限位杆的两端分别与另两个固定板的侧壁固定连接，所述移动齿条水平设置在安装板的下方，且移动齿条的两端分别套设在移动螺杆与限位杆上，所述伺服电机设置在一个固定板的外侧壁上，且伺服电机的输出端贯穿一个固定板与移动螺杆固定连接，所述滑动件套设在移动齿条上。
[0007]优选的，所述滑动件包括滑动架、驱动电机、转动齿轮和测试触点，所述滑动架套设在移动齿条上，所述转动齿轮转动设置在滑动架内，且转动齿轮位于移动齿条的下方，所述驱动电机设置在滑动架的侧壁上，且驱动电机的输出端贯穿滑动架与转动齿轮固定连接，所述测试触点竖直设置在滑动架的底部。
[0008]优选的，所述移动组件包括移动电机、连接板、固定齿条、滑动座、从动齿轮和放置
板，所述连接板设有两个，两个连接板间隔设置在机架的底部，所述固定齿条水平设置在两个连接板之间，且固定齿条的两端分别与两个连接板的侧壁固定连接，所述滑动座竖直设置在固定齿条的上方，且滑动座的顶端贯穿机架并延伸出去，所述滑动座与机架滑动连接，所述从动齿轮转动设置在滑动座的下段，且从动齿轮与固定齿条相啮合，所述移动电机设置在滑动座的侧壁上，且移动电机的输出端贯穿滑动座与从动齿轮固定连接，所述放置板水平设置在滑动座的顶部。
[0009]优选的，所述放置板上开设有开槽，且开槽内设有散热风扇，所述散热风扇的上方设有盖板，且盖板的外侧壁与放置板相插接，所述盖板上开设有若干个间隔设置的通孔。
[0010]优选的，所述夹持组件包括L型板、夹持电机、转动座、转动轴和夹持件，所述夹持件设有两个，两个夹持件分别设置在两个安装架上，且两个夹持件均与机架的顶部滑动连接，所述L型板设置在一个安装架的侧壁上，所述夹持电机设置在L型板的侧壁上，且夹持电机的输出端贯穿L型板与一个夹持件固定连接，所述转动座设置在固定齿条的底部，所述转动轴水平设置在固定齿条的下方，且转动轴的中段与转动座转动连接。
[0011]优选的，每个所述夹持件均包括转动螺杆、夹持板、同步轮和同步带，所述转动螺杆水平设置在机架的上方，且转动螺杆的一端位于放置板的旁侧，转动螺杆的另一端贯穿一个安装架并延伸出去，所述夹持板套设在转动螺杆上，且夹持板与机架滑动连接，所述同步轮设有两个，两个同步轮分别套设在转动螺杆和转动轴上，所述同步带套设在两个同步轮上，所述夹持电机的输出端与一个转动螺杆固定连接。
[0012]本技术具有以下优点：
[0013]测试者将需要测试的集成电路板放置在放置板上，移动电机带动与其输出端固定连接的从动齿轮转动，带动滑动座沿固定齿条的长度方向进行移动，滑动座带动其顶部的放置板移动，从而将集成电路板移动至测试组件的下方，夹持电机转动，带动与其输出端固定连接的一个转动螺杆转动，转动螺杆带动套设在其上的夹持板沿其长度方向进行移动，并且在同步轮与同步带的设置，带动转动轴转动，并使转动轴带动另一个转动螺杆转动，从而通过两个夹持板对集成电路板进行夹持，接着伺服电机转动，带动与其输出端固定连接的移动螺杆转动，使套设在其上的移动齿条沿移动螺杆与限位杆的长度方向进行移动，并带动滑动架移动，同时驱动电机带动与其输出端固定连接的转动齿轮转动，通过转动齿轮与移动齿条相啮合的作用下，使滑动架沿移动齿条的长度方向移动，带动测试触点移动，使测试触点能够对集成电路板进行大规模测试，便于测试，且便于移动。
附图说明
[0014]图1为本技术的立体结构示意图；
[0015]图2为本技术中测试组件的结构示意图；
[0016]图3为本技术中夹持组件的结构示意图；
[0017]图4为本技术中移动组件的结构示意图；
[0018]图5为本技术中放置板的结构示意图。
[0019]图中：1
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机架、2
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安装架、3
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测试组件、31
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伺服电机、32
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安装板、33
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固定板、34
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移动螺杆、35
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限位杆、36
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移动齿条、37
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滑动件、371
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滑动架、372
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驱动电机、373
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转动齿轮、374
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测试触点、4
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夹持组件、41
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L型板、42
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夹持电机、43
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转动座、44
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转动轴、45
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夹持件、
451
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转动螺杆、452
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夹持板、453
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同步轮、454
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同步带、5
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移动组件、51
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移动电机、52
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连接板、53
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种集成电路用测试装置，其特征在于：包括机架(1)、安装架(2)、测试组件(3)、夹持组件(4)和移动组件(5)，所述机架(1)水平设置，所述安装架(2)设有两个，两个安装架(2)间隔设置在机架(1)的顶部，且两个安装架(2)对称设置，所述测试组件(3)水平设置在两个安装架(2)之间，且测试组件(3)与两个安装架(2)固定连接，所述测试组件(3)位于机架(1)的上方，所述移动组件(5)滑动设置在机架(1)上，且移动组件(5)位于测试组件(3)的下方，所述夹持组件(4)分别设置在两个安装架(2)上，且夹持组件(4)与移动组件(5)固定连接。2.根据权利要求1所述的一种集成电路用测试装置，其特征在于：所述测试组件(3)包括伺服电机(31)、安装板(32)、固定板(33)、移动螺杆(34)、限位杆(35)、移动齿条(36)和滑动件(37)，所述安装板(32)水平设置在两个安装架(2)之间，且安装板(32)的两侧壁分别与两个安装架(2)固定连接，所述固定板(33)设有四个，四个固定板(33)呈矩阵设置在安装板(32)的底部，所述移动螺杆(34)水平设置在两个固定板(33)之间，且移动螺杆(34)的两端分别与两个固定板(33)的侧壁转动连接，所述限位杆(35)水平设置在另两个固定板(33)之间，且限位杆(35)的两端分别与另两个固定板(33)的侧壁固定连接，所述移动齿条(36)水平设置在安装板(32)的下方，且移动齿条(36)的两端分别套设在移动螺杆(34)与限位杆(35)上，所述伺服电机(31)设置在一个固定板(33)的外侧壁上，且伺服电机(31)的输出端贯穿一个固定板(33)与移动螺杆(34)固定连接，所述滑动件(37)套设在移动齿条(36)上。3.根据权利要求2所述的一种集成电路用测试装置，其特征在于：所述滑动件(37)包括滑动架(371)、驱动电机(372)、转动齿轮(373)和测试触点(374)，所述滑动架(371)套设在移动齿条(36)上，所述转动齿轮(373)转动设置在滑动架(371)内，且转动齿轮(373)位于移动齿条(36)的下方，所述驱动电机(372)设置在滑动架(371)的侧壁上，且驱动电机(372)的输出端贯穿滑动架(371)与转动齿轮(373)固定连接，所述测试触点(374)竖直设置在滑动架(371)的底部。4.根据权利要求1所述的一种集成电路用测试装置，其特征在于：所述移动组件(5)包括移动电机(51)、连接板(52)、固定齿条(53)、滑动座(54)、从动齿轮(55)和放...
【专利技术属性】
技术研发人员：孟奕峰，
申请(专利权)人：成都职业技术学院，
类型：新型
国别省市：
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