一种晶体振荡器试验装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种晶体振荡器试验装置，包括箱体，所述箱体的顶部安装有电机，所述电机的输出轴延伸至箱体的内部并安装有支撑柱，所述支撑柱的底部转动连接有支撑板，所述支撑板固定安装于箱体的内部，所述支撑柱的两侧均安装有放置结构；本实用新型专利技术通过箱体、电机、支撑柱、支撑板、放置结构、隔板、凹槽、密封结构、加热器、制冷器和检测机构的设置，使本试验装置具备可以对晶体振荡器进行耐温试验，并对耐温试验后的晶体振荡器进行检测的优点，且方便将晶体振荡器进行转移，防止工作人员在转移晶体振荡器的过程中受到高温或者低温的侵蚀，解决了现有的试验装置其检测结果单一，不具有一定参考价值的问题。具有一定参考价值的问题。具有一定参考价值的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种晶体振荡器试验装置


[0001]本技术涉及晶体振荡器
，具体为一种晶体振荡器试验装置。

技术介绍

[0002]有一些电子设备需要频率高度稳定的交流信号，而LC振荡器稳定性较差，频率容易漂移(即产生的交流信号频率容易变化)。在振荡器中采用一个特殊的元件——石英晶体，可以产生高度稳定的信号，这种采用石英晶体的振荡器称为晶体振荡器。
[0003]中国专利网公开了“一种晶体振荡器试验装置”，专利号为“CN204028255U”，该专利通过试验过程试验电源输出通过控制板而输出恒压，并对每个晶体振荡器添加高频吸收回路后加到被试晶体振荡器上，控制板上对应每个被试晶体振荡器通过巡回监测被试晶体振荡器的输出的状态，但是该专利仅对正常状态下的晶体振荡器进行试验，无法对高低温测试后的晶体振荡器进行检测，检测范围较小，且检测结果单一，不具有一定的参考价值，为此，我们提出了一种晶体振荡器试验装置，来解决上述内容存在的问题。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种晶体振荡器试验装置，具备可以对晶体振荡器进行耐温试验，并对耐温试验后的晶体振荡器进行检测的优点，解决了现有的试验装置其检测结果单一，不具有一定参考价值的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种晶体振荡器试验装置，包括箱体，所述箱体的顶部安装有电机，所述电机的输出轴延伸至箱体的内部并安装有支撑柱，所述支撑柱的底部转动连接有支撑板，所述支撑板固定安装于箱体的内部，所述支撑柱的两侧均安装有放置结构，所述支撑柱的正面和背面均安装有隔板，所述隔板远离支撑柱的一侧开设有凹槽，所述隔板的外侧设有密封结构，所述箱体内腔顶部的左侧安装有加热器，所述箱体内腔顶部的右侧安装有制冷器，所述箱体内部的底部安装有检测机构。
[0006]优选的，所述放置结构包括放置板，所述放置板安装于支撑柱的侧面，所述放置板的顶部安装有竖板，所述竖板与支撑柱的侧面固定连接，所述竖板的正面和背面均固定安装有横板。
[0007]优选的，所述横板的数量为两个，且横板呈上下放置。
[0008]优选的，所述密封结构包括滑槽，所述滑槽开设于箱体的两侧，所述滑槽的内部滑动连接有密封板，所述滑槽的内部安装有电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的输出端与密封板固定连接，所述密封板与凹槽配合使用。
[0009]优选的，所述滑槽内部的两侧均固定安装有限位杆，所述限位杆与密封板的内部滑动连接。
[0010]优选的，所述箱体正面的两侧均安装有箱门，所述箱门的表面安装有控制器。
[0011]与现有技术相比，本技术的有益效果如下：
[0012]1、本技术通过箱体、电机、支撑柱、支撑板、放置结构、隔板、凹槽、密封结构、
加热器、制冷器和检测机构的设置，使本试验装置具备可以对晶体振荡器进行耐温试验，并对耐温试验后的晶体振荡器进行检测的优点，且方便将晶体振荡器进行转移，防止工作人员在转移晶体振荡器的过程中受到高温或者低温的侵蚀，解决了现有的试验装置其检测结果单一，不具有一定参考价值的问题。
[0013]2、本技术通过放置板、竖板和横板的设置，可以对晶体振荡器进行放置，并方便工作人员进行拿取，通过此种设计，方便对多个晶体振荡器进行放置，通过滑槽、密封板和电动伸缩杆的设置，可以对密封板进行推动，并与凹槽进行配合使用，对箱体内部进行隔开，防止高低温进行扩散，通过限位杆的设置，可以对密封板的移动进行支撑和限位，增强其移动时的稳定性，通过箱门的设置，方便工作人员对耐温试验后的晶体振荡器进行转移，通过控制器的设置，可以对试验装置的电力设备进行控制。
附图说明
[0014]图1为本技术结构剖视示意图；
[0015]图2为本技术结构左视剖视示意图；
[0016]图3为本技术局部结构立体示意图；
[0017]图4为本技术图2中A处的局部放大图；
[0018]图5为本技术结构主视示意图。
[0019]图中：1、箱体；2、电机；3、支撑柱；4、支撑板；5、放置结构；51、放置板；52、竖板；53、横板；6、隔板；7、凹槽；8、密封结构；81、滑槽；82、密封板；83、电动伸缩杆；9、加热器；10、制冷器；11、检测机构；12、限位杆；13、箱门；14、控制器。
具体实施方式
[0020]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0021]请参阅图1
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5，一种晶体振荡器试验装置，包括箱体1，箱体1的顶部安装有电机2，电机2的输出轴延伸至箱体1的内部并安装有支撑柱3，支撑柱3的底部转动连接有支撑板4，支撑板4固定安装于箱体1的内部，支撑柱3的两侧均安装有放置结构5，支撑柱3的正面和背面均安装有隔板6，隔板6远离支撑柱3的一侧开设有凹槽7，隔板6的底部与支撑板4的顶部相接触，但不影响其发生相对转动，隔板6的外侧设有密封结构8，箱体1内腔顶部的左侧安装有加热器9，箱体1内腔顶部的右侧安装有制冷器10，箱体1内部的底部安装有检测机构11，通过箱体1、电机2、支撑柱3、支撑板4、放置结构5、隔板6、凹槽7、密封结构8、加热器9、制冷器10和检测机构11的设置，使本试验装置具备可以对晶体振荡器进行耐温试验，并对耐温试验后的晶体振荡器进行检测的优点，且方便将晶体振荡器进行转移，防止工作人员在转移晶体振荡器的过程中受到高温或者低温的侵蚀，解决了现有的试验装置其检测结果单一，不具有一定参考价值的问题。
[0022]在本实施例中，放置结构5包括放置板51，放置板51安装于支撑柱3的侧面，放置板51的顶部安装有竖板52，竖板52与支撑柱3的侧面固定连接，竖板52的正面和背面均固定安
装有横板53，通过放置板51、竖板52和横板53的设置，可以对晶体振荡器进行放置，并方便工作人员进行拿取。
[0023]在本实施例中，横板53的数量为两个，且横板53呈上下放置，通过此种设计，方便对多个晶体振荡器进行放置。
[0024]在本实施例中，密封结构8包括滑槽81，滑槽81开设于箱体1的两侧，滑槽81的内部滑动连接有密封板82，滑槽81的内部安装有电动伸缩杆83，电动伸缩杆83的输出端与密封板82固定连接，密封板82与凹槽7配合使用，通过滑槽81、密封板82和电动伸缩杆83的设置，可以对密封板82进行推动，并与凹槽7进行配合使用，对箱体1内部进行隔开，防止高低温进行扩散。
[0025]在本实施例中，滑槽81内部的两侧均固定安装有限位杆12，限位杆12与密封板82的内部滑动连接，通过限位杆12的设置，可以对密封板82的移动进行支撑和限位，增强其移动时的稳定性。
[0026]在本实施例中，箱体本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种晶体振荡器试验装置，包括箱体(1)，其特征在于：所述箱体(1)的顶部安装有电机(2)，所述电机(2)的输出轴延伸至箱体(1)的内部并安装有支撑柱(3)，所述支撑柱(3)的底部转动连接有支撑板(4)，所述支撑板(4)固定安装于箱体(1)的内部，所述支撑柱(3)的两侧均安装有放置结构(5)，所述支撑柱(3)的正面和背面均安装有隔板(6)，所述隔板(6)远离支撑柱(3)的一侧开设有凹槽(7)，所述隔板(6)的外侧设有密封结构(8)，所述箱体(1)内腔顶部的左侧安装有加热器(9)，所述箱体(1)内腔顶部的右侧安装有制冷器(10)，所述箱体(1)内部的底部安装有检测机构(11)。2.根据权利要求1所述的一种晶体振荡器试验装置，其特征在于：所述放置结构(5)包括放置板(51)，所述放置板(51)安装于支撑柱(3)的侧面，所述放置板(51)的顶部安装有竖板(52)，所述竖板(52)与支撑柱(3)的侧面固定连接，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨东杰，
申请(专利权)人：江苏上频高新科技有限公司，
类型：新型
国别省市：