一种高稳定性LCD芯片测试平台制造技术

本发明专利技术属于高稳定性LCD芯片测试平台，尤其涉及一种高稳定性LCD芯片测试平台，包括机体，所述机体内部固设有第一电机，所述第一电机输出端固设有第一螺纹杆，所述第一螺纹杆外部转动设有第一螺母，所述第一螺母与所述第一螺纹杆之间螺纹传动接触，所述第一螺母外部固定套设有滑块，所述滑块与所述机体滑动接触，所述滑块远离所述第一螺纹杆一端底部固设有主臂，所述主臂内部中间滑动设有滑杆，所述滑杆与所述主臂之间通过两个第一弹簧连接，所述滑杆远离所述第一弹簧一端中间固设有吸盘，所述吸盘周围固设有限位壳，所述主臂内部一侧固设有气泵，所述气泵与所述吸盘连通，能够排除干扰因素并稳定的对LCD芯片进行检测。干扰因素并稳定的对LCD芯片进行检测。干扰因素并稳定的对LCD芯片进行检测。

【技术实现步骤摘要】
一种高稳定性LCD芯片测试平台


[0001]本专利技术属于高稳定性LCD芯片测试平台，尤其涉及一种高稳定性LCD芯片测试平台。

技术介绍

[0002]LCD已经广泛应用于数码产品领域，与之配套的LCD驱动芯片的需求量也大幅度增加。LCD驱动芯片的测试贯穿在芯片的设计、制造与应用的全过程中，是保证驱动芯片品质的重要手段。
[0003]然而，现有的LCD驱动芯片测试设备易受外界环境等因素影响，测试准确度较差，并且LCD芯片区别于其他芯片的一大特点就是PIN脚十分的多，这导致了测量准确性进一步的降低。
[0004]因此现在急需一种能够排除干扰因素并稳定的对LCD芯片进行检测的高稳定性LCD芯片测试平台。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是针对现有中技术存在的上述问题，提出了一种能够排除干扰因素并稳定的对LCD芯片进行检测的高稳定性LCD芯片测试平台。
[0006]为了实现上述目的，本专利技术采用以下技术方案：一种高稳定性LCD芯片测试平台，包括机体，所述机体内部固设有第一电机，所述第一电机输出端固设有第一螺纹杆，所述第一螺纹杆外部转动设有第一螺母，所述第一螺母与所述第一螺纹杆之间螺纹传动接触，所述第一螺母外部固定套设有滑块，所述滑块与所述机体滑动接触，所述滑块远离所述第一螺纹杆一端底部固设有主臂，所述主臂内部中间滑动设有滑杆，所述滑杆与所述主臂之间通过两个第一弹簧连接，所述滑杆远离所述第一弹簧一端中间固设有吸盘，所述吸盘周围固设有限位壳，所述主臂内部一侧固设有气泵，所述气泵与所述吸盘连通。
[0007]优选的，所述机体面向所述滑块一侧固设有检测架，所述检测架顶部滑动设有检测台，所述检测台与所述检测架之间通过第三弹簧连接，所述检测架顶部固设有触头，所述检测台远离所述检测架一侧中间固设有检测模块。
[0008]优选的，所述机体两侧分别固设有侧架，一侧所述侧架顶部固设有待检盘，另一侧所述侧架顶部固设有清洗箱。
[0009]优选的，所述机体内部靠近所述滑块一侧滑动设有压杆，所述压杆底部注满液压油，所述压杆远离所述滑块方向滑动设有拉杆，所述拉杆与所述机体之间通过第二弹簧连接，所述压杆底部与所述拉杆处通过软管连通，所述拉杆远离所述第二弹簧一端固设有防尘板，所述防尘板与所述检测台滑动接触。
[0010]优选的，所述清洗箱内侧底部固设有第二电机，所述第二电机输出端固设有小齿轮，所述小齿轮一侧滑动设有第二螺纹杆，所述第二螺纹杆外部与所述小齿轮对应处转动套设有第二螺母，所述第二螺母与所述第二螺纹杆螺纹传动接触，所述第二螺纹杆靠近所
述检测台一端固设有清洗座，所述清洗座远离所述检测台方向固设有循环泵。
[0011]优选的，所述清洗座内部四周分别转动设有多个清洗辊，外侧每个所述清洗辊之间通过第一锥齿轮、第二锥齿轮传动，一侧所述清洗辊转轴一端固设有第三电机，所述第三电机输出端与此处所述清洗辊转轴固定连接，所述清洗辊表面为软质且内部呈空心格栅状。
[0012]优选的，所述清洗座内部分别开有出水道、回流道，所述回流道与所述出水道连通所述循环泵与所述清洗辊。
[0013]有益效果
[0014]本专利技术通过改进在此提供一种高稳定性LCD芯片测试平台，与现有技术相比，具有如下改进及优点：
[0015]1.通过设置防尘板，能够在不进行检测时将检测模块进行密封保护防止受到干扰。
[0016]2.通过设置触头，能够在不进行检测时断开检测电路保证系统的稳定性和安全性。
[0017]3.通过设置清洗辊，能够在芯片检测出现异常时对芯片引脚进行抗氧化清洗，排除引脚氧化引起的芯片异常，并且清洗辊的设计使其在应对数量很多的PIN脚时，也能有效的与每一个PIN脚接触。
附图说明
[0018]图1为本专利技术立体图；
[0019]图2为本专利技术俯视图；
[0020]图3为图2中A
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A处剖视图；
[0021]图4为图2中B
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B处剖视图；
[0022]图5为图3中D处局部放大图；
[0023]图6为图5中C
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C处局部剖视图。
[0024]图中：10、滑块；11、主臂；12、气泵；13、第一弹簧；14、滑杆；15、防尘壳；16、清洗箱；17、侧架；18、检测架；19、检测台；20、检测模块；21、待检盘；22、防尘板；23、限位壳；24、吸盘；25、第一螺纹杆；26、第一螺母；27、压杆；28、软管；29、第二弹簧；30、第一电机；31、机体；32、拉杆；33、循环泵；34、第二螺纹杆；35、第二电机；36、小齿轮；37、第二螺母；38、清洗座；39、清洗辊；40、回流道；41、出水道；42、第一锥齿轮；43、第二锥齿轮；45、第三电机；47、第三弹簧；49、触头。
具体实施方式
[0025]以下是本专利技术的具体实施例并结合附图，对本专利技术的技术方案作进一步的描述，但本专利技术并不限于这些实施例。
[0026]在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“内”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该专利技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第
二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0027]结合图1
‑
6，一种高稳定性LCD芯片测试平台，包括机体31，机体31内部固设有第一电机30，第一电机30输出端固设有第一螺纹杆25，第一螺纹杆25外部转动设有第一螺母26，第一螺母26与第一螺纹杆25之间螺纹传动接触，第一螺母26外部固定套设有滑块10，滑块10与机体31滑动接触，滑块10远离第一螺纹杆25一端底部固设有主臂11，主臂11内部中间滑动设有滑杆14，滑杆14与主臂11之间通过两个第一弹簧13连接，滑杆14远离第一弹簧13一端中间固设有吸盘24，吸盘24周围固设有限位壳23，主臂11内部一侧固设有气泵12，气泵12与吸盘24连通。
[0028]进一步的，机体31面向滑块10一侧固设有检测架18，检测架18顶部滑动设有检测台19，检测台19与检测架18之间通过第三弹簧47连接，检测架18顶部固设有触头49，检测台19远离检测架18一侧中间固设有检测模块20。
[0029]进一步的，机体31两侧分别固设有侧架17，一侧侧架17顶部固设有待检盘21，另一侧侧架17顶部固设有清洗箱16。
[0030]进一步的，机体31内部靠近滑块10一侧滑动设有压杆27，压杆27底部注满液压油，压杆27远离滑块10方向滑动设有拉杆32，拉杆32与机体31之间通过第二弹簧29连接，压杆27底部与拉杆32处通过软管28连通，拉杆32远离第二弹簧29一端固设有防尘板22，防尘板22与检测台19滑动接触。
[0031]进一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高稳定性LCD芯片测试平台，包括机体(31)，其特征在于，所述机体(31)内部固设有第一电机(30)，所述第一电机(30)输出端固设有第一螺纹杆(25)，所述第一螺纹杆(25)外部转动设有第一螺母(26)，所述第一螺母(26)与所述第一螺纹杆(25)之间螺纹传动接触，所述第一螺母(26)外部固定套设有滑块(10)，所述滑块(10)与所述机体(31)滑动接触，所述滑块(10)远离所述第一螺纹杆(25)一端底部固设有主臂(11)，所述主臂(11)内部中间滑动设有滑杆(14)，所述滑杆(14)与所述主臂(11)之间通过两个第一弹簧(13)连接，所述滑杆(14)远离所述第一弹簧(13)一端中间固设有吸盘(24)，所述吸盘(24)周围固设有限位壳(23)，所述主臂(11)内部一侧固设有气泵(12)，所述气泵(12)与所述吸盘(24)连通。2.根据权利要求1所述的一种高稳定性LCD芯片测试平台，其特征在于，所述机体(31)面向所述滑块(10)一侧固设有检测架(18)，所述检测架(18)顶部滑动设有检测台(19)，所述检测台(19)与所述检测架(18)之间通过第三弹簧(47)连接，所述检测架(18)顶部固设有触头(49)，所述检测台(19)远离所述检测架(18)一侧中间固设有检测模块(20)。3.根据权利要求1所述的一种高稳定性LCD芯片测试平台，其特征在于，所述机体(31)两侧分别固设有侧架(17)，一侧所述侧架(17)顶部固设有待检盘(21)，另一侧所述侧架(17)顶部固设有清洗箱(16)。4.根据权利要求1所述的一种高稳定性LCD芯片测试平台，其特征在于，所述机体(31)内部靠近所述滑块(10)一侧滑动设有压...

【专利技术属性】
技术研发人员：李俊霖，刘建飞，
申请(专利权)人：杭州宇邦安防设备有限公司，
类型：发明
国别省市：