用于电子电路的测试架构，对应设备和方法技术

本公开的实施例涉及用于电子电路的测试架构，对应设备和方法。根据加载在测试激励寄存器中的测试激励信息，在测试激励发生器组中产生用于施加到至少一个被测电路的测试激励信号。测试激励寄存器中测试激励信息的加载被控制为根据经由编程接口加载到控制寄存器组中的相应控制寄存器中的测试编程信息。根据加载在所述控制寄存器中的测试编程信息来激活测试激励发生器。从所述至少一个被测电路接收的测试结果信号用于产生签名比较信号，所述签名比较信号与存储在输入签名寄存器组中的相应可编程签名参考信号进行比较，所述签名比较信号是响应于从所述测试结果信号产生的签名比较信号与所述相应参考信号不匹配而产生的。比较信号与所述相应参考信号不匹配而产生的。比较信号与所述相应参考信号不匹配而产生的。

【技术实现步骤摘要】
用于电子电路的测试架构，对应设备和方法
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请要求2021年3月30日提交的意大利申请No.102021000007856的优先权，该申请的全部内容在此通过引用并入本文。


[0003]本申请案涉及测试电子电路，且在特定实施例中涉及逻辑内建自测试(LBIST)架构。

技术介绍

[0004]如今，在诸如汽车领域的领域中，电子设备不再仅用于实现车载舒适特征。电子器件现在广泛地涉及实现被动/主动安全系统，其目的是防止或至少减少对驾驶员和乘客的伤害：相关功能可以包括诸如向前碰撞警告、盲点监视、自动紧急制动、气囊和ABS特征等功能。
[0005]这种情况是采用诸如ISO 26262标准的规范的基础，该规范应用于设计汽车电子设备，以便提供评估和记录电气和电子(E/E)系统中的安全等级的共同基础。
[0006]为了检测所实现的安全机制中的可能故障、功能逻辑块中的潜在点故障(LPF)或单点故障(SPF)，通过周期性在线测试来促进充分满足诸如ISO 26262的安全规范。
[0007]尽管在该领域中进行了广泛的活动，但是诸如SoC之类的产品以及用于汽车市场的其它产品可以受益于能够以有效方式测试各种硬件(HW)安全机制的可配置在线BIST机制的可用性。

技术实现思路

[0008]本申请的一个或多个实施例有助于为(子)系统的在线/离线测试提供高度可配置的LBIST架构。
[0009]一个或多个实施例可以涉及对应的设备。诸如包括如本文所示的自测试控制架构(可能与相关联的扫描链电路结合)的SoC的半导体器件可以是这种器件的示例。
[0010]一个或多个实施例可以涉及相应的方法。
[0011]一个或多个实施例可以提供以下优点中的一个或多个。通过选择(静态)配置参数，可以在面积成本与性能目标(测试覆盖率、测试时间)之间达成充分的权衡。可以实现在多个简单/复杂数字子系统中的集成，用于系统和子系统的完全/部分在线LBIST测试。全套安全设计/电路装置或仅可编程/可配置子集可涉及测试。可以在运行时(例如，经由软件)以减小的面积开销来触发一个或多个测试会话。测试会话中涉及的模块可以顺序或并行测试；这种级别的可配置性有助于在面积、测试时间和各种情况的覆盖方面达到适当的折衷。作为一个副产物，可以获得用于校正系统尺寸的通用“经验法则”。
附图说明
[0012]现在将参考附图仅以举例的方式描述一个或多个实施例，其中：
[0013]图1A和图1B共同表示根据本说明书的实施例的电路结构的框图，
[0014]图2是可以在如图1A和图1B所示的架构中包括的寄存器中提供的字段的示例。
[0015]图3是被配置为与根据本说明书的实施例的架构协作的测试电路的框图，以及
[0016]图4是图1B的电路结构的部件的示例性电路图。
具体实施方式
[0017]在随后的描述中，示出了一个或多个具体细节，目的在于提供对本描述的实施例的示例的深入理解。可以在没有一个或多个具体细节的情况下，或者利用其他方法，组件，材料等来获得实施例。在其他情况下，没有详细示出或描述已知的结构，材料或操作，从而不会模糊实施例的某些方面。
[0018]在本说明书的框架中对“一实施例”或“一个实施例”的引用旨在指示关于该实施例描述的特定配置，结构或特性被包括在至少一个实施例中。因此，可能出现在本说明书的一个或多个点中的诸如“在实施例中”或“在一个实施例中”的短语不一定指同一个实施例。
[0019]此外，在一个或多个实施方案中，特定的构象，结构或特征可以以任何适当的方式组合。
[0020]这里使用的标题/参考仅仅是为了方便而提供的，因此不限定保护范围或实施例的范围。
[0021]为了简洁起见，在整个说明书中使用各种缩写。
[0022]虽然对于本领域技术人员是已知的，但是下面再现了许多这些首字母缩略词以及它们的含义以直接参考。
[0023]LBIST＝逻辑内置自测试
[0024]SoC＝片上系统
[0025]IP＝知识产权(核心或块：可重复使用的逻辑，单元或集成电路布局设计单元)
[0026]CAD＝计算机辅助设计
[0027]CUT＝被测电路
[0028]LFSR＝线性反馈移位寄存器
[0029]MISR＝多输入签名寄存器
[0030]ECC＝纠错码
[0031]FCU＝故障收集单元
[0032]SPF＝单点故障
[0033]LPF＝潜在点故障
[0034]EDPA＝增强型数据处理架构
[0035]RTL＝寄存器转移电平
[0036]EOC＝计数器结束
[0037]一个或多个实施例提供了用于周期性在线/离线LBIST操作的(电路)架构。
[0038]该结构的静态和动态可配置性使其适用于测试各种类型的数字块(组合或顺序)。
[0039]这也适用于复杂的块(例如，具有许多逻辑门和存储器元件的子系统)。
[0040]此外，一个或多个实施例可以同时(按照所涉及的硬件的有效方式)处理不同类型的被测电路(CUT)和不同数目的实例，每种类型的实例可以存在于单个IP或整个系统中。
[0041]应了解，如本文中所使用，名称“被测电路”(因此，措辞“至少一个”被测电路)可应用于具有不同复杂性且相互(完全)独立(例如，属于装置中的不同子系统，设计单元等)的不同DUT(被测设计)的多个实例。
[0042]一个或多个实施例涉及减小的面积开销。这还便于将运行时间LBIST特征应用于小逻辑块，例如ECC校验/校正和生成一(1)。这些目前存在于各种汽车IP中，并且可能受到潜在故障的影响。
[0043]如今，各种CAD厂商提出了在SoC或IP中自动插入LBIST方案的专有解决方案。
[0044]尽管基于设计和生成LBIST方案的灵活性，自动生成和插入的LBIST方案可能不能使用单个LFSR和内部控制器为不同类型的CUT提供并发测试。
[0045]这种限制不利于诸如面积开销、测试覆盖和时间的参数之间的令人满意的折衷。这可以是当CUT不是特别复杂(例如，逻辑块用于生成和检查不同类型的ECC方案)时的情况。
[0046]这里讨论的高度可配置的LBIST方案由于其(静态/动态)灵活性而能够处理可能存在于IP或SoC中的复杂和简单的CUT。
[0047]一个或多个实施例基于包括不同类型的子块的分层架构，每个子块专用于特定功能，其数目和内部并行性可以在配置或设计阶段期间经由(静态)RTL参数来配置(静态)。此外，内部连接和它们的并行性可以根据为设计参数设置的值改变。
[0048]如图1A和图1B所示的架构是围绕高级外围总线(APB)构造的，并且旨在与故障收集单元接口(FCU Intf.)和自测试控制单元接口(STCU Intf.)协作。
[0049]如图1A本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路，包括：测试激励发生器组，所述测试激励发生器组中的每个测试激励发生器能够被激活以根据加载在所述测试激励发生器中的测试激励寄存器中的测试激励信息来产生用于至少一个被测电路的测试激励信号；控制器组，所述控制器组中的每个控制器被配置为根据加载到一控制寄存器组中的相应控制寄存器中的测试控制信息来控制将测试激励信息加载到所述测试激励发生器组中的相应发生器中的所述测试激励寄存器中；测试编程接口，被配置为将测试编程信息加载到所述控制寄存器组中的所述控制寄存器中，其中所述测试激励发生器组中的所述测试激励发生器能够根据经由所述测试编程接口加载到所述控制寄存器组中的所述控制寄存器中的测试编程信息来激活；输入签名寄存器组，其被配置为在其中存储指示从所述测试编程接口接收的签名参考值的签名参考信号；以及签名控制电路装置，包括耦合到所述输入签名寄存器组中的相应签名寄存器的签名控制模块组，所述签名控制电路装置被配置成：响应于施加到所述至少一个被测电路的所述测试激励信号而从所述至少一个被测电路接收测试结果信号，根据从所述至少一个被测电路接收的所述测试结果信号产生签名比较信号，在所述签名控制模块组中将根据从所述至少一个被测电路接收的所述测试结果信号产生的所述签名比较信号与所述输入签名寄存器组中的相应签名参考信号进行比较，以及响应于根据从所述至少一个被测电路接收的所述测试结果信号产生的所述签名比较信号与所述输入签名寄存器组中的相应签名参考信号不匹配而产生错误信号。2.根据权利要求1所述的电路，其中所述控制寄存器组中的所述控制寄存器被配置为从所述测试编程接口接收测试编程信息，所述测试编程信息包括：测试会话数目，针对所述测试会话数目激活所述测试激励发生器组中的测试激励发生器以产生用于所述至少一个被测电路的测试激励信号，测试循环数目，针对所述测试循环数目在用于所述至少一个被测电路的测试会话中激活所述测试激励发生器组中的测试激励发生器，定时测试模式激活信息，用于在编程时间激活所述测试激励发生器组中的测试激励发生器，或捕获模式信息，指示用于所述至少一个被测电路的输出测试信号的捕获周期的数目。3.根据权利要求2所述的电路，其中所述控制寄存器组中的所述控制寄存器被配置为从所述测试编程接口接收测试控制信息，所述测试控制信息包括指示用于所述至少一个被测电路的输出测试信号的捕获循环的数目的捕获模式信息以及用以在所述捕获模式信息中插入额外循环的信息。4.根据权利要求1所述的电路，其中所述测试激励发生器组中的每个测试激励发生器包括作为所述测试激励发生器中的所述测试激励寄存器的线性反馈移位寄存器。5.根据权利要求1所述的电路，其中所述测试激励发生器组被配置为产生用于所述至少一个被测试电路的所述测试激励信号，所述至少一个被测试电路具有与其耦合的信号，包括：
测试模式指示信号；扫描输入和扫描输出使能信号；或测试捕获信号。6.根据权利要求1所述的电路，其中所述签名控制电路装置包括压缩器电路装置，所述压缩器电路被配置为响应于施加到所述至少一个被测电路的所述测试激励信号而从所述至少一个被测电路接收多个测试结果信号组，所述压缩器电路装置被配置为根据来自所述至少一个被测电路的所述多个测试结果信号组中的每组测试结果信号产生相应的签名比较信号，以用于与所述签名控制模块组中的相应参考信号进行比较。7.一种装置，包括：根据权利要求1所述的电路；以及至少一个附加电路，被配置为被带入测试模式，其中在所述测试模式期间，所述至少一个附加电路耦合到：所述电路中的所述测试激励发生器组，以从其接收所述测试激励信号，以及所述签名控制电路装置，以响应于施加到其的所述测试激励信号而向其提供所述测试结果信号。8.根据权利要求7所述的装置，其中所述至少一个附加电路包括：待测试的逻辑电路装置；以及扫描链电路装置，其被配置为：在所述测试模式期间将测试输入数据根据来自所述电路中的所述测试激励发生器组的所述测试激励信号而施加到所述逻辑电路装置，在所述测试模式期间从所述逻辑电路装置恢复测试输出信号，并且将所述测试输出信号作为测试结果信号施加到所述电路中的所述签名控制电路装置。9.一种电路，包括：测试激励发生器组，被配置为产生用于至少一个被测电路的测试激励信号；控制器组，耦合到所述测试激励发生器组并被配置为控制所述测试激励发生器组中测试激励信息的加载；以及测试编程接口，耦合到所述控制器组并被配置为将测试编程信息加载到所述控制器组中，所述测试激励发生器组在运行时能够由所述控制器组经由软件使用所述测试编程接口来配置。10.根据权利要求9所述的电路，进一步包括：输入签名寄存器组，其被配置为在其中存储指示从所述测试编程接口接收的签名参考值的签...

【专利技术属性】
技术研发人员：L，
申请(专利权)人：意法半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：