质量分析数据的解析方法、程序和质量分析数据的解析装置制造方法及图纸

本发明专利技术设计质量分析数据的解析方法、程序和质量分析数据的解析装置。提供能够以低成本进行鉴别候选的确定和/或部分结构的信息取得的解析对象物质的质量分析数据的解析方法。解析对象物质的质量分析数据的解析方法，包括：解析对象物质的质荷比及相对强度取得工序；解析对象物质的质量数据制备工序；和解析对象物质的鉴别候选确定工序。本发明专利技术的另一方案涉及用于执行解析对象物质的质量分析数据的解析方法的程序以及解析对象物质的质量分析数据的解析装置。的解析装置。的解析装置。

【技术实现步骤摘要】
质量分析数据的解析方法、程序和质量分析数据的解析装置


[0001]本专利技术涉及质量分析数据的解析方法、用于执行解析对象物质的质量分析数据的解析方法的程序和解析对象物质的质量分析数据的解析装置。

技术介绍

[0002]在各种
中，作为鉴别解析对象物质的手段，广泛使用质量分析。
[0003]例如，专利文献1记载了一种质量分析数据解析方法，其为对于一个乃至多个未知成分，使来自各成分的前体离子在n
‑
1(n≧2)阶段裂解，基于进行了对产生的碎片离子进行质量分析的MS
n
分析的结果，从上述未知成分中选出与目标成分类似的成分的质量分析数据解析方法，其特征在于，由采用上述MS
n
分析得到的图谱数据及目标成分的MS
n
图谱数据导出规定的变量，通过使用了该变量的多变量解析，求出上述目标成分与各未知成分的类似度，基于该类似度，选出类似于目标成分的成分。
[0004]专利文献2记载了一种质量分析数据解析装置，其为将化学变化前后的试样分别用色谱分离后，基于采用质量分析装置进行MS测定及MSMS测定得到的数据进行该化学变化产生的生成物的探索的质量分析数据解析装置，其特征在于，具有生成物探索单元，其中，对于上述化学变化前后的试样，比较上述MSMS测定的前体离子的质荷比的色谱，将只在变化后的试样中存在的峰判定为来自上述生成物的峰。
[0005]专利文献3记载了一种色谱质量分析用数据解析装置，其为解析用色谱质量分析装置收集的数据的色谱质量分析用数据解析装置，所述色谱质量分析装置具备：将试样中的成分在时间上分离的色谱、检测包含用该色谱分离的成分的试样中的成分的质量分析装置即主检测器、与检测包含用上述色谱分离的成分的试样中的成分的质量分析装置不同的副检测器，其特征在于，包括演算处理部和质荷比提取部。
[0006]现有技术文献
[0007]专利文献
[0008]专利文献1：日本特开2007
‑
285719号公报
[0009]专利文献2：国际公开第2008/065704号
[0010]专利文献3：国际公开第2018/087824号

技术实现思路

[0011]专利技术要解决的课题
[0012]目前为止，在用于鉴别解析对象物质的质量分析数据的解析中，进行将解析对象物质的质量分析图谱与基于已知化合物的质量分析图谱制备的已知化合物的质量分析数据库进行比较，由图谱图案的一致度来确定鉴别候选。以往的解析方法的情况下，需要使用可进行同位素比鉴别的高分辨率质量分析装置，因此存在解析所需的经济成本高的课题。另外，以往的解析方法的情况下，由图谱图案的一致度来确定鉴别候选，因此在试样中所含的解析对象物质的数据尚未在已知化合物的质量分析数据库中记录的情况下，存在着不仅
难以确定鉴别候选，而且难以取得其部分结构的信息的课题。在使用可低成本地进行解析的低分辨率质量分析装置的情形和/或在试样中所含的解析对象物质的数据尚未在已知化合物的质量分析数据库中记录的情形下，对于鉴别候选的确定和/或部分结构的信息取得，需要依赖于经验丰富的解析者的经验来进行质量分析数据的解析。这种情况下，存在着解析所需的人和时间的成本高的课题。
[0013]因此，本专利技术的目的在于提供能够以低成本进行鉴别候选的确定和/或部分结构的信息取得的、解析对象物质的质量分析数据的解析方法。
[0014]用于解决课题的手段
[0015]本专利技术人对用于解决上述课题的手段进行了各种研究。本专利技术人发现：通过测定解析对象物质的质量分析图谱，取得检测出的1个以上的离子峰的质荷比及相对强度，对于检测出的1个以上的离子峰的每一个，算出该离子峰与其他离子峰之间的质荷比之差，制备包含1个以上的离子峰的相对强度、质荷比及质荷比之差的解析对象物质的质量数据后，将该质量数据与1个以上的基准物质的质量数据进行比较，从而能够确定解析对象物质或其部分结构的鉴别候选。本专利技术人基于上述认识，完成了本专利技术。
[0016]即，本专利技术包含以下的方案及实施方式。
[0017](1)解析对象物质的质量分析数据的解析方法，其包括：
[0018]解析对象物质的数据要素取得工序，其中，测定解析对象物质的质量分析图谱，取得检测出的1个以上的离子峰的质荷比及相对强度；
[0019]解析对象物质的质量数据制备工序，其中，对于检测出的1个以上的离子峰的每一个，算出该离子峰与其他离子峰之间的质荷比之差，制备包含1个以上的离子峰的相对强度、质荷比及质荷比之差的解析对象物质的质量数据；和
[0020]解析对象物质的鉴别候选确定工序，其中，对制备的解析对象物质的质量数据与1个以上的基准物质或其部分结构的质量数据进行比较，确定解析对象物质或其部分结构的鉴别候选。
[0021](2)根据上述实施方式(1)所述的方法，其还包括：基准物质或其部分结构的质量数据制备工序，其中，测定1个以上的基准物质的质量分析图谱，对于1个以上的基准物质的每一个，算出检测出的1个以上的离子峰与其他离子峰之间的质荷比之差，对于1个以上的基准物质的每一个，制备包含1个以上的离子峰的相对强度、质荷比及质荷比之差的基准物质或其部分结构的质量数据。
[0022](3)根据上述实施方式(1)或(2)所述的方法，其中，在解析对象物质的鉴别候选确定工序中，还包括：
[0023]设定离子峰的相对强度的阈值n(其中，n≧0)，对包含阈值n以上的相对强度、质荷比及质荷比之差的解析对象物质的质量数据与1个以上的基准物质或其部分结构的质量数据进行比较，确定解析对象物质或其部分结构的鉴别候选的工序；和
[0024]使阈值n在0以上且检测出的1个以上的离子峰的相对强度的最大值的范围内变化，反复实施上述确定解析对象物质或其部分结构的鉴别候选的工序，将基于更多的离子峰的质量数据确定的鉴别候选和更大的阈值n下的鉴别候选作为可靠度更高的鉴别候选进行排序的工序。
[0025](4)用于执行根据上述实施方式(1)～(3)中任一项所述的解析对象物质的质量分
析数据的解析方法的程序。
[0026](5)解析对象物质的质量分析数据的解析装置，其具有：
[0027]测定解析对象物质的质量分析图谱的质量分析图谱测定单元；
[0028]取得采用质量分析图谱测定单元检测出的1个以上的离子峰的质荷比及相对强度的解析对象物质的数据要素取得单元；
[0029]对于检测出的1个以上的离子峰的每一个，算出该离子峰与其他离子峰之间的质荷比之差，制备包含1个以上的离子峰的相对强度、质荷比及质荷比之差的解析对象物质的质量数据的解析对象物质的质量数据制备单元；和
[0030]对制备的解析对象物质的质量数据与1个以上的基准物质或其部分结构的质量数据进行比较，确定解析对象物质或其部分结构的鉴别候选的解析对象物质的鉴别候选确定单元。
[0031]专利技术的效果
[0032]根据本专利技术，能本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.解析对象物质的质量分析数据的解析方法，其包括：解析对象物质的数据要素取得工序，其中，测定解析对象物质的质量分析图谱，取得检测出的1个以上的离子峰的质荷比及相对强度；解析对象物质的质量数据制备工序，其中，对于检测出的1个以上的离子峰的每一个，算出该离子峰与其他离子峰之间的质荷比之差，制备包含1个以上的离子峰的相对强度、质荷比及质荷比之差的解析对象物质的质量数据；和解析对象物质的鉴别候选确定工序，其中，对制备的解析对象物质的质量数据与1个以上的基准物质或其部分结构的质量数据进行比较，确定解析对象物质或其部分结构的鉴别候选。2.根据权利要求1所述的方法，其还包括：基准物质或其部分结构的质量数据制备工序，其中，测定1个以上的基准物质的质量分析图谱，对于1个以上的基准物质的每一个，算出检测出的1个以上的离子峰与其他离子峰之间的质荷比之差，对于1个以上的基准物质的每一个，制备包含1个以上的离子峰的相对强度、质荷比及质荷比之差的基准物质或其部分结构的质量数据。3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，在解析对象物质的鉴别候选确定工序中，还包括：设定离子峰的相对强度的阈值n，对包含阈值n以上的相对强度、质荷比及质荷比之差的解析...

【专利技术属性】
技术研发人员：坪内隆浩，加藤秀雄，
申请(专利权)人：丰田自动车株式会社，
类型：发明
国别省市：