本申请公开了一种仪表回路测试方法、装置、电子设备及非易失性存储介质。其中，该方法包括：确定待测试集合，其中，待测试集合包含至少一个待测试仪表；对待测试集合中的至少一个待测试仪表进行回路测试，记录过程数据，其中，过程数据包括：设定信号值与反馈信号值；依据过程数据，确定待测试仪表的回路状态，其中，回路状态包括：仪表回路正常、仪表回路异常。本申请解决了目前对仪表进行回路测试时，需通过设备管理软件或手操器解析仪表设备描述文件后再进行操作造成的需耗费大量人力与时间逐个去操作仪表进行回路测试的技术问题。去操作仪表进行回路测试的技术问题。去操作仪表进行回路测试的技术问题。
【技术实现步骤摘要】
仪表回路测试方法、装置、电子设备及非易失性存储介质
[0001]本申请涉及工业过程控制领域，具体而言，涉及一种仪表回路测试方法、装置、电子设备及非易失性存储介质。
技术介绍
[0002]目前，基于HART现场总线协议的智能仪表在工业控制系统中占有相当大的份额，而且呈现出快速增长的趋势，主要是因为HART现场总线协议在保留了传统4～20mA的模拟信号的同时，又叠加了数字通信方式，因此HART回路既兼容了传统模拟控制回路信号传输方式，又提供了许多现场总线协议特有的功能，例如对现场仪表的远程配置、故障诊断功能等等。仪表在生产过程中，各种信息及其输出信号都需要在出厂前预设和调校，同时也需要对产品性能指标进行检验，把好产品质量关，使产品达到企业或者国家标准。
[0003]然而考虑到工业现场环境的复杂性，基于HART现场总线协议的智能仪表在实际工作过程中仍然可能出现各种故障而无法完成正常的检测和控制任务，控制系统中仪表如果发生故障并无法及时准确地被排除，那么就有可能影响到工业生产的安全性以及效率，从而造成一系列严重的后果。因此对系统用户而言，及时高效地确保工业控制系统中仪表回路功能完整是十分重要的。
[0004]现有技术中，在对智能仪表进行回路测试时，往往通过设备管理软件或手操器连接上仪表获取仪表的设备描述文件解析后再进行操作，在现场复杂的环境以及上万台仪表的条件下，需要消耗大量的人力与时间去进行操作，同时需要手动记录每个行为操作与数据，测试方法比较繁琐、缺乏便利性。
[0005]针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
[0006]本申请实施例提供了一种仪表回路测试方法、装置、电子设备及非易失性存储介质，以至少解决目前对仪表进行回路测试时，需通过设备管理软件或手操器解析仪表设备描述文件后再进行操作造成的需耗费大量人力与时间逐个去操作仪表进行回路测试的技术问题。
[0007]根据本申请实施例的一个方面，提供了一种仪表回路测试方法，包括：确定待测试集合，其中，待测试集合包含至少一个待测试仪表；对待测试集合中的至少一个待测试仪表进行回路测试，记录过程数据，其中，过程数据包括：设定信号值与反馈信号值；依据过程数据，确定待测试仪表的回路状态，其中，回路状态包括：仪表回路正常、仪表回路异常。
[0008]可选地，对待测试集合中的至少一个待测试仪表进行回路测试包括：发送设定指令与设定信号值至待测试仪表，其中，设定指令用于将待测试仪表的输入数据设置恒定输入信号，恒定输入信号的数值为设定信号值；获取待测试仪表输出的反馈信号值；发送强制取消指令至待测试仪表，其中强制取消指令用于取消待测试仪表已设置的恒定输入信号。
[0009]可选地，在发送设定指令与设定信号值至待测试仪表前还包括：确定待测试集合
中待测试仪表的测试点数，其中，测试点数用于确定设定信号值的信号数量。
[0010]可选地，在测试点数大于1的情况下，发送第一设定信号值与设定指令至待测试仪表后，获取与第一设定信号值对应的待测试仪表输出的第一反馈信号值，其中，第一设定信号值为多个设定信号值中任一设定信号值；在获取与第一设定信号值对应的待测试仪表输出的第一反馈信号值后，发送第二设定信号值与设定指令至待测试仪表后，获取与第二设定信号值对应的待测试仪表输出的第二反馈信号值，其中，第二设定信号值为多个设定信号值中除第一设定信号外任一设定信号值；在多个设定信号值均获取到对应的反馈信号值后，将强制取消指令发送至待测试仪表。
[0011]可选地，依据过程数据，确定待测试仪表的回路状态包括：获取与设定信号值对应的预期反馈信号值；比较反馈信号值与预期反馈信号值，确定反馈信号值与预期反馈信号值之间的差值是否在预设取值区间内；在二者差值在预设取值区间内的情况下，判定待测试仪表的回路状态为仪表回路正常。
[0012]可选地，依据过程数据，确定待测试仪表的回路状态还包括：在二者差值超出预设取值区间内的情况下，判定待测试仪表的回路状态为仪表回路异常，发送告警信息，并对该待测试仪表再次进行回路测试进行确认。
[0013]可选地，依据过程数据，确定待测试仪表的回路状态还包括：依据过程数据绘制数据趋势图进行分析，生成分析报表，其中数据趋势图用于显示反馈信号值随设定信号值变化而变化的趋势。
[0014]根据本申请实施例的另一方面，还提供了一种仪表回路测试装置，包括：分组模块，用于确定待测试集合，其中，待测试集合包含至少一个待测试仪表；测试模块，对待测试集合中的至少一个待测试仪表进行回路测试，记录过程数据，其中，过程数据包括：设定信号值与反馈信号值；判定模块，用于依据过程数据，确定待测试仪表的回路状态，其中，回路状态包括：仪表回路正常、仪表回路异常。
[0015]根据本申请实施例的又一方面，还提供了一种电子设备，电子设备包括处理器，处理器用于运行程序，其中，程序运行时执行仪表回路测试方法。
[0016]根据本申请实施例的再一方面，还提供了一种非易失性存储介质，非易失性存储介质包括存储的程序，其中，在程序运行时控制非易失性存储介质所在设备执行仪表回路测试方法。
[0017]在本申请实施例中，采用确定待测试集合，其中，待测试集合包含至少一个待测试仪表；对待测试集合中的至少一个待测试仪表进行回路测试，记录过程数据，其中，过程数据包括：设定信号值与反馈信号值；依据过程数据，确定待测试仪表的回路状态，其中，回路状态包括：仪表回路正常、仪表回路异常的方式，通过将回路测试依赖的回路测试方法从设备描述文件解析剥离出来，让回路测试可以脱离解析设备描述文件而进行，达到了仪表进行自动批量回路测试的目的，从而实现了降低劳动强度，方便仪表回路检测与故障排除及维护，提升基于HART现场总线协议的智能仪表检测的便利性和准确性的技术效果，进而解决了目前对仪表进行回路测试时，需通过设备管理软件或手操器解析仪表设备描述文件后再进行操作造成的需耗费大量人力与时间逐个去操作仪表进行回路测试技术问题。
附图说明
[0018]此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
[0019]图1是根据本申请实施例提供的一种仪表回路测试的方法流程的示意图；
[0020]图2是根据本申请实施例提供的一种回路测试方法的方法流程的示意图；
[0021]图3是根据本专利技术实施例提供的一种仪表回路测试装置的结构示意图；
[0022]图4是根据本申请实施例提供的一种用于实现仪表回路测试的方法的计算机终端(或电子设备)的硬件结构框图。
具体实施方式
[0023]为了使本
的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种仪表回路测试方法，其特征在于，包括：确定待测试集合，其中，所述待测试集合包含至少一个待测试仪表；对所述待测试集合中的所述至少一个待测试仪表进行回路测试，记录过程数据，其中，所述过程数据包括：设定信号值与反馈信号值；依据所述过程数据，确定所述待测试仪表的回路状态，其中，所述回路状态包括：仪表回路正常、仪表回路异常。2.根据权利要求1所述的仪表回路测试方法，其特征在于，对所述待测试集合中的所述至少一个待测试仪表进行回路测试包括：发送设定指令与所述设定信号值至所述待测试仪表，其中，所述设定指令用于将所述待测试仪表的输入数据设置恒定输入信号，所述恒定输入信号的数值为所述设定信号值；获取所述待测试仪表输出的反馈信号值；发送强制取消指令至所述待测试仪表，其中所述强制取消指令用于取消所述待测试仪表已设置的恒定输入信号。3.根据权利要求2所述的仪表回路测试方法，其特征在于，在发送设定指令与设定信号值至所述待测试仪表前还包括：确定所述待测试集合中所述待测试仪表的测试点数，其中，所述测试点数用于确定所述设定信号值的信号数量。4.根据权利要求3所述的仪表回路测试方法，其特征在于，所述方法还包括：在所述测试点数大于1的情况下，发送第一设定信号值与所述设定指令至所述待测试仪表后，获取与所述第一设定信号值对应的所述待测试仪表输出的第一反馈信号值，其中，所述第一设定信号值为多个所述设定信号值中任一所述设定信号值；在获取与所述第一设定信号值对应的所述待测试仪表输出的第一反馈信号值后，发送第二设定信号值与所述设定指令至所述待测试仪表后，获取与所述第二设定信号值对应的所述待测试仪表输出的第二反馈信号值，其中，所述第二设定信号值为多个所述设定信号值中除第一设定信号外任一所述设定信号值；在多个所述设定信号值均获取到对应的所述反馈信号值后，将所述强制取消指令发送...
【专利技术属性】
技术研发人员：梁云龙，沈利斌，刘祺鹤，翁一凡，
申请(专利权)人：浙江中控技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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