一种旁瓣对消干扰样本选择方法技术

本发明专利技术公开了一种旁瓣对消干扰样本选择方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、由上位机提供样本个数参数和外部初始门限，由数据源提供干扰数据；S2、读取外部初始门限、样本个数参数和干扰数据，将初始门限赋值给当前门限；S3、计算干扰数据大于当前门限的样本数，并判断该样本数是否大于等于样本个数参数；S4、若上述判断不成立，则将当前门限按照规则降低并赋值，重复执行步骤S3，直至成立；S5、当判断成立时从大于当前门限的样本数中选出所述样本个数参数个样本，将其送入旁瓣对消模块进行对消处理。本方法采用下降划门限的方法选择干扰样本，工程运算量适中，保证了干扰样本的可靠获取，同时保证了旁瓣对消功能抗干扰效果。同时保证了旁瓣对消功能抗干扰效果。同时保证了旁瓣对消功能抗干扰效果。

【技术实现步骤摘要】
一种旁瓣对消干扰样本选择方法


[0001]本专利技术涉及雷达空域抗干扰旁瓣对消技术，尤其涉及一种旁瓣对消干扰样本选择方法。

技术介绍

[0002]雷达对旁瓣噪声压制干扰所采取的空域抗干扰方法为旁瓣对消。同时随着干扰技术的发展，旁瓣对消的抗干扰效果有一定的消弱，需要更进一步适应干扰技术的发展。

技术实现思路

[0003]针对雷达空域抗干扰旁瓣对消技术中的干扰样本选择问题，本专利技术的目的在于提供一种旁瓣对消干扰样本选择的工程实现方法，旨在提升旁瓣对消抗干扰能力。
[0004]为此，本专利技术提供了一种旁瓣对消干扰样本选择方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、由上位机提供样本个数参数和外部初始门限，由数据源提供干扰数据；S2、读取外部初始门限、样本个数参数和干扰数据，将初始门限赋值给当前门限；S3、计算干扰数据大于当前门限的样本数，并判断该样本数是否大于等于样本个数参数；S4、若上述判断不成立，则将当前门限按照规则降低并赋值，重复执行步骤S3，直至成立；
[0005]S5、当判断成立时从大于当前门限的样本数中选出所述样本个数参数个样本，将其送入旁瓣对消模块进行对消处理。
[0006]本专利技术属于雷达空域抗干扰旁瓣对消技术中的干扰样本选择问题，旨在提升旁瓣对消抗干扰能力。主要功能是给出了一种旁瓣对消干扰样本选择的一种工程实现方法。其采用下降划门限的方法选择干扰样本，工程运算量适中，保证了干扰样本的可靠获取，同时保证了旁瓣对消功能抗干扰效果。
[0007]除了上面所描述的目的、特征和优点之外，本专利技术还有其它的目的、特征和优点。下面将参照图，对本专利技术作进一步详细的说明。
附图说明
[0008]构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本专利技术的进一步理解，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：
[0009]图1是本专利技术的旁瓣对消样本选择方法流程图；以及
[0010]图2是本专利技术的门限法与现有的最大值法、固定选样法结果对比图。
具体实施方式
[0011]需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本专利技术。
[0012]本专利技术的主要是通过将选择门限逐步降低直至选出规定数目的超过门限的样本作为旁瓣对消的干扰样本。
[0013]本专利技术的旁瓣对消的干扰样本选择方法的处理流程如图1所示。
[0014]步骤一：系统上电后，执行旁瓣对消处理时，读取外部初始门限、样本个数参数和干扰数据并将初始门限赋值给当前门限；其中外部初始门限、样本个数两个参数可由上位机进行设置。
[0015]步骤二：判断所有干扰数据大于当前门限的样本个数是否大于等于样本个数参数，若是转到步骤四，若否则跳转到步骤三；
[0016]步骤三：当前门限按照规则降低并赋值为当前门限，跳转到步骤二；
[0017]步骤四：将大于当前样本门限参数的样本个数参数个样本送旁瓣对消模块；
[0018]步骤五：读取干扰数据和干扰样本数据，进行旁瓣对消处理；
[0019]步骤六：结束。
[0020]其中降低门限的规则方法为每次降低等比下降或者等差下降。如等比下降时Th(n+1)＝Th(n)*M；(其中M为下降比例系数(小于1)，如0.707、0.5、0.3)；若采样等差下降时，Th(n+1)＝Th(n)
‑
X；(其中X为下降差值，如100、500、1000)。
[0021]其中Th(n)为当前取样门限值，Th(n+1)为下一次取样门限值。
[0022]干扰取样方法运算量对比如表1所示。
[0023]表1运算量对比表
[0024]取样方法本方法固定取样最大值法最大比较次数15000*(门限更改次数+1)0样本数*15000
[0025]样本数的典型值大于256，而门限等差下降或者等比下降典型值一般不大于10次，因此最大值法典型运算量至少是本方法的20倍以上。
[0026]最大值法及本方法(门限值取65(分贝))选择干扰样本结果如图2所示。通过上表和图2可以看出，本方法运算量较最大值法小，比固定取样法大，同时对消效果较固定取样法好，适于工程应用。
[0027]外部初始门限和门限降低规则一般根据操作人员经验设定，为获得最优值，可辅助以下方法来选择外部初始门限和门限降低规则，来合理控制运算量。
[0028]若第一次判断干扰数据大于当前门限的样本数大于样本个数参数a倍时，则对外部初始门限进行调整并输出，同时提醒外部初始门限设置过低。其中，a为外部设定值，例如a＝5、10等数值，该调整用于抬升外部初始门限，例如每次抬升的值等于门限按照降低规则降低10次的值，直至干扰数据大于当前门限的样本数小于样本个数参数，并输入该合适的外部初始门限。若第一次计算干扰数据大于当前门限的样本数稍大于样本个数参数(例如1倍)，这时设置的初始门限最优。
[0029]上述方法还包括对执行判断步骤的次数进行计数，若计数的次数过大，超出设定次数b，则调整门限降低规则，例如适当提升比例系数M或者提升下降差值X。该b可以选择10、11、12等数值。
[0030]以上所述仅为本专利技术的优选实施例而已，并不用于限制本专利技术，对于本领域的技术人员来说，本专利技术可以有各种更改和变化。凡在本专利技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本专利技术的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种旁瓣对消干扰样本选择方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、由上位机提供样本个数参数和外部初始门限，由数据源提供干扰数据；S2、读取外部初始门限、样本个数参数和干扰数据，将初始门限赋值给当前门限；S3、计算干扰数据大于当前门限的样本数，并判断该样本数是否大于等于样本个数参数；S4、若上述判断不成立，则将当前门限按照规则降低并赋值，重复执行步骤S3，直至成立；S5、当判断成立时从大于当前门限的样本数中选出所述样本个数参数个样本，将其送入旁瓣对消模块进行对消处理。2.根据权利要求1所述的旁瓣对消干扰样本选择方法，其特征在于，将当前门限按照规则降低并赋值的规则方法为每次降低等比下降。3.根据权利要求2所述的旁瓣对消干扰样本选择方法，其特征在于，Th(n+1)＝Th(n)*M，其中M为下降比例系数，其值小于1，其中Th(n)为当前取样的门限值，Th(n+1)为下一次取样的门限值。4.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：秦庆兵，储仲勋，裴爱蕊，
申请(专利权)人：安徽博微长安电子有限公司，
类型：发明
国别省市：