一种全电子轨道电路相位鉴别方法和系统技术方案

本发明专利技术提供一种全电子轨道电路相位鉴别方法和系统。全电子轨道电路相位鉴别方法包括：在学习模式下，鉴相电路采集内部基准信号和外部分线柜信号，微处理器多次同时获取采集模块采集的局部信号的相位和鉴相电路测量的相位差；在学习模式下，微处理器计算出修正基准值；在正常模式下，鉴相电路采集内部基准信号和外部分线柜信号，微处理器获取鉴相电路测量的相位差；在正常模式下，微处理器计算出外部分线柜信号的校准相位；其中，微处理器与采集模块和鉴相电路相连接。本发明专利技术能够有效解决闭塞区段的轨道长度对信号的相位产生改变的技术问题，从而获得校准相位以便进行轨道线路断线、破损检测。破损检测。破损检测。

【技术实现步骤摘要】
一种全电子轨道电路相位鉴别方法和系统


[0001]本专利技术涉及轨道交通
，特别是一种全电子轨道电路相位鉴别方法和系统。

技术介绍

[0002]轨道电路是由轨道线路和轨道绝缘构成的电路，用于自动、连续检测轨道线路是否被机车车辆占用，并具有轨道线路断线、破损检测功能。整个轨道系统路网依适当距离区分成许多闭塞区段，每个闭塞区段的轨道长度均不固定，各闭塞区段以轨道绝缘接头区隔，形成一段独立轨道电路。
[0003]如图1所示，GJZ220、GJF220与JJZ110、JJF110为室内轨道电源屏中输出相位相同的两路电压信号。GJZ220、GJF220为外部分线柜信号，JJZ110、JJF110为局部信号。JJZ110、JJF110输出后，直接进入全电子轨道电路模块。GJZ220、GJF220被输送到轨道电路上，经过整个闭塞区段和分线柜后被全电子轨道电路模块所接受，全电子轨道电路模块会做如下判断：1、判断接收信号的电压幅度，若该闭塞区段有列车占用，则列车轮对会对信号进行分流，导致接收信号的电压幅度产生变化；2、判断接收信号的相位，通过对同源信号JJZ110、JJF110的相位比较，若相位出现变化，则可以根据算法判断轨道线路断线、破损的位置。
[0004]由于每个闭塞区段的轨道长度存在很大差异，而轨道等效阻抗是呈感性的，所以会对信号的相位产生改变，闭塞区段的轨道长度越长对相位改变越大，为了获得校准相位以便进行断线、破损检测，所以要对测量相位进行校准。
[0005]目前全电子轨道电路模块都具有调相模块，具体是由无源器件电感电容串并联组成，有以下缺点：1、目前相位校准最大范围为
‑
30
°
— 30
°
之间，无法完全消除某些复杂闭塞区段的相位误差；2、目前相位校准是使用不同的电容组合进行调相，无法连续调节，相位误差修正效果很差。
[0006]3、目前不同闭塞区段的初始相位必须使用专业仪器进行检测。

技术实现思路

[0007]本专利技术的目的在于提供一种全电子轨道电路相位鉴别系统和方法，能够有效解决闭塞区段的轨道长度对信号的相位产生改变的技术问题，从而获得校准相位以便进行断线、破损检测。
[0008]为实现上述目的，本专利技术提供一种全电子轨道电路相位鉴别方法，包括：在学习模式下，所述鉴相电路采集内部基准信号和所述外部分线柜信号，微处理器多次同时获取采集模块采集的局部信号的相位和所述鉴相电路测量的相位差；
在所述学习模式下，所述微处理器计算出修正基准值；在正常模式下，所述鉴相电路采集内部基准信号和所述外部分线柜信号，所述微处理器获取所述鉴相电路测量的相位差；在所述正常模式下，所述微处理器计算出外部分线柜信号的校准相位；其中，所述微处理器与所述采集模块和所述鉴相电路相连接。
[0009]所述内部基准信号由基准电源输出，直接进入所述鉴相电路。所述局部信号由室内轨道电源屏输出，直接进入所述采集模块。所述外部分线柜信号由室内轨道电源屏输出，被输送到轨道电路上，经过整个闭塞区段和分线柜后被所述鉴相电路所接受。
[0010]新建轨道系统路网的各个闭塞区段，对信号的相位有一个初始改变。学习模式是指，在轨道系统路网刚建成时，给全电子轨道电路相位鉴别系统输入进入学习模式的控制指令，系统通过局部信号的相位和鉴相电路测量的相位差计算出修正基准值。
[0011]正常模式是指，轨道系统路网使用后，给全电子轨道电路相位鉴别系统输入进入正常模式的控制指令，系统通过修正基准值和鉴相电路测量的相位差计算出外部分线柜信号的校准相位。
[0012]优选地，在所述学习模式下，所述内部基准信号的相位是0
°
，所述外部分线柜信号的初始相位等于所述鉴相电路测量的所述外部分线柜信号和所述内部基准信号的相位差，所述修正基准值的计算公式为：其中,n为学习模式下，所述微处理器同时获取所述采集模块采集的局部信号的相位和所述鉴相电路测量的相位差的次数。
[0013]优选地，在所述正常模式下，所述内部基准信号的相位是0
°
，所述外部分线柜信号的测量相位等于所述鉴相电路测量的所述外部分线柜信号和所述内部基准信号的相位差，所述外部分线柜信号的校准相位的计算公式为：外部分线柜信号的校准相位=外部分线柜信号的测量相位+修正基准值。
[0014]优选地，在所述学习模式下，对不同闭塞区段，分别计算所述修正基准值。
[0015]优选地，所述鉴相电路为AD8302鉴相器，所述AD8302鉴相器精确相位测量比例系数为10mV/度，测量范围
‑
180
°
— 180
°
。
[0016]本专利技术还提供一种全电子轨道电路相位鉴别系统，包括采集模块、鉴相电路和微处理器，所述微处理器与所述采集模块和所述鉴相电路相连接，所述鉴相电路用于采集内部基准信号和外部分线柜信号，所述鉴相电路还用于测量外部分线柜信号和内部基准信号的相位差；在学习模式下，所述微处理器用于多次同时获取所述采集模块采集的局部信号的相位和所述鉴相电路测量的相位差，并计算出修正基准值；在正常模式下，所述微处理器用于获取所述鉴相电路测量的相位差，并计算出外部分线柜信号的校准相位。
[0017]优选地，在所述学习模式下，所述内部基准信号的相位是0
°
，所述外部分线柜信号的初始相位等于所述鉴相电路测量的外所述部分线柜信号和所述内部基准信号的相位差，所述修正基准值的计算公式为：
其中,n为学习模式下，所述微处理器同时获取所述采集模块采集的局部信号的相位和所述鉴相电路测量的相位差的次数。
[0018]优选地，在所述正常模式下，所述内部基准信号的相位是0
°
，所述外部分线柜信号的测量相位等于所述鉴相电路测量的所述外部分线柜信号和所述内部基准信号的相位差，所述外部分线柜信号的校准相位的计算公式为：外部分线柜信号的校准相位=外部分线柜信号的测量相位+修正基准值。
[0019]优选地，在所述学习模式下，对不同闭塞区段，分别计算所述修正基准值。
[0020]优选地，所述鉴相电路为AD8302鉴相器，所述AD8302鉴相器精确相位测量比例系数为10mV/度，测量范围
‑
180
°
— 180
°
。
[0021]优选地，所述全电子轨道电路相位鉴别系统还包括报警模块。所述正常模式下，所述微处理器将本次计算出的所述外部分线柜信号的校准相位与本次获取的所述局部信号的相位进行比较，若相位出现变化，则可以判断轨道线路断线、破损的位置，进而通过所述报警模块发出报警信息。
[0022]优选地，所述全电子轨道电路相位鉴别系统还包括显示模块。所述正常模式下，所述显示模块可以显示本次获取的所述外部分线柜信号的校准相位、所述外部分线柜信号的测量相位、所述修正基准值和所述局部信号的相位。
[0023]本专利技术还提供一种机器可读存储介质，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种全电子轨道电路相位鉴别方法，其特征在于，包括：确定模式选择；在学习模式下，鉴相电路采集内部基准信号和外部分线柜信号，微处理器多次同时获取采集模块采集的局部信号的相位和所述鉴相电路测量的相位差，并根据所述局部信号的相位和所述鉴相电路测量的相位差计算出修正基准值；在正常模式下，所述鉴相电路采集内部基准信号和所述外部分线柜信号，所述微处理器获取所述鉴相电路测量的相位差，并根据所述鉴相电路测量的相位差计算出外部分线柜信号的校准相位；其中，所述微处理器与所述采集模块和所述鉴相电路相连接。2.根据权利要求1所述的全电子轨道电路相位鉴别方法，其特征在于，在所述学习模式下，所述内部基准信号的相位是0
°
，所述外部分线柜信号的初始相位等于所述鉴相电路测量的所述外部分线柜信号和所述内部基准信号的相位差，所述修正基准值的计算公式为：其中,n为学习模式下，所述微处理器同时获取所述采集模块采集的局部信号的相位和所述鉴相电路测量的相位差的次数。3.根据权利要求2所述的全电子轨道电路相位鉴别方法，其特征在于，在所述正常模式下，所述内部基准信号的相位是0
°
，所述外部分线柜信号的测量相位等于所述鉴相电路测量的所述外部分线柜信号和所述内部基准信号的相位差，所述外部分线柜信号的校准相位的计算公式为：外部分线柜信号的校准相位=外部分线柜信号的测量相位+修正基准值。4.根据权利要求1所述的全电子轨道电路相位鉴别方法，其特征在于，在所述学习模式下，对不同闭塞区段，分别计算所述修正基准值。5.根据权利要求1所述的全电子轨道电路相位鉴别方法，其特征在于，所述鉴相电路包括AD8302鉴相器。6.一种全电子轨道电路相位鉴别系统，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：付立民，
申请(专利权)人：西南交通大学，
类型：发明
国别省市：