本实用新型专利技术公开了一种高精度轴承内圈圆度检测装置，包括基座、发射接收单元、反射单元和定位单元，所述的发射接收单元位于所述的基座上部左侧，所述的发射接收单元包括发射接收转盘、发射器和接收器，所述的反射单元对应所述的发射机收单元设置于所述的基座上部右侧，所述的反射单元包括反射器转盘、反射调整盘和反射镜，所述的定位单元包括定位座，所述的定位座设置于所述的基座顶部中间，通过同步旋转发射器、接收器和反射镜，扫描位于所述的定位座上的轴承内圈，测量轴承内圈参数。测量轴承内圈参数。测量轴承内圈参数。
【技术实现步骤摘要】
一种高精度轴承内圈圆度检测装置
[0001]本技术涉及轴承加工领域，具体是一种高精度轴承内圈圆度检测装置。
技术介绍
[0002]轴承的加工精度是保证轴承质量和使用寿命的重要基础，其中轴承的内径的精度检测尤为重要，其关系到轴承的装配效果和实际使用情况。现有的轴承检测方法为通过游标尺对轴承的内径进行三点式测量，这种方式精度较低，耗费时间和人力成本；造影检测方式，通过大尺寸接收器和面光源发射器，将工件造影投射于接收器上并用视觉识别技术，对投影进行分析，其优势是可以复现复杂曲面轮廓，但造价高、技术复杂，为了进行检测还需要采购与之对应的转动式卡盘及卡座，在应对不同的工件时只能采购尽量大的尺寸设备，而对于批量的工程测量圆度来说，存在过度浪费，成本畸高的问题。
技术实现思路
[0003]本技术针对现有技术中的不足，提供了一种高精度轴承内圈圆度检测装置，包括基座、发射接收单元、反射单元和定位单元，所述的发射接收单元位于所述的基座上部左侧，所述的发射接收单元包括发射接收转盘、发射器和接收器，所述的反射单元对应所述的发射接收单元设置于所述的基座上部右侧，所述的反射单元包括反射器转盘、反射调整盘和反射镜，所述的定位单元包括定位座，所述的定位座设置于所述的基座顶部中间，通过同步旋转发射器、接收器和反射镜，扫描位于所述的定位座上的轴承内圈，测量轴承内圈参数。
[0004]优选的，所述的发射接收转盘通过伺服电机驱动连接，所述的发射接收转盘中部连接有固定轴，所述的发射接收单元还包括固定轴，所述的固定轴设置调整腔，所述的调整腔为长方体空腔。
[0005]优选的，所述的调整腔两端分别轴对称设置有发射器和接收器，所述的发射器为校准激光发射器，所述的接收器为激光传感器。
[0006]优选的，所述的发射器和所述的接收器分别安装在发射转杆上，所述的发射转杆设置有调整旋钮螺钉，所述的调整腔侧壁设置有滑槽，所述的滑槽两侧刻画有刻度，所述的调整旋钮螺钉活动套接于所述的滑槽内。
[0007]优选的，所述的反射单元还包括反射调整杆，所述的反射器转盘中轴上设置有反射调整杆。
[0008]优选的，所述的反射调整杆转动连接于所述的反射器转盘，所述的反射调整杆顶部中心设置有调整槽，所述的调整槽上滑动设置有定位锥。
[0009]优选的，所述的反射器转盘前部设置有两个半圆形反射调整盘，两个所述的反射调整盘的直边中心对称位置设置有滑动腔，所述的滑动腔套接在所述的反射调整杆上，所述的定位锥通过调整螺钉卡接固定所述的反射调整盘。
[0010]优选的，两个所述的反射调整盘前面板上对称设置有反射镜，所述的反射镜为反
射棱镜，所述的反射镜反射面与所述的反射调整盘呈45度角，两个所述的反射镜形成反射回路。
[0011]优选的，还包括定位座，所述的定位座设置在所述的基座顶部中央，所述的基座一侧设置有半圆环状的挡圈，所述的定位座中心设置有可上下移动的调整柱，所述的调整柱顶部设置有柔性夹，所述的定位座在所述的挡圈对侧设置有导向座，所述的导向座为梯形，从外侧向内高度逐渐降低。
[0012]优选的，所述的基座内部设置有同步齿轮组，所述的同步齿轮组通过齿轮啮合与所述的发射接收转盘，同步传动连接所述的反射器转盘。
[0013]与现有技术相比，本技术的有益效果在于：通过调整发射接收器与反射器使得适应测量不同尺寸的轴承圈；使用通用器件小尺寸传感器降低使用成本；通过设置导向座及导向片安全快速地将轴承圈导入制定测量位置；可伸缩调整柱顶部设置柔性固定夹，减少对工件伤害；可通过替换中心的底座和夹持装置，测量外圈参数。
附图说明
[0014]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，以下将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图进行论述，显然，在结合附图进行描述的技术方案仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图所示实施例得到其它的实施例及其附图。
[0015]图1是本技术一种高精度轴承内圈圆度检测装置的立体结构示意图。
[0016]图2是本技术一种高精度轴承内圈圆度检测装置的俯视示意图。
[0017]图3是本技术一种高精度轴承内圈圆度检测装置的侧视示意图。
[0018]图4是本技术一种高精度轴承内圈圆度检测装置的侧视示意图。
[0019]图5是本技术一种高精度轴承内圈圆度检测装置的立体结构示意图。
[0020]图中：1
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基座、2
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发射接收转盘、21
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发射器、22
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接收器、23
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发射转杆、3
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反射器转盘、31
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反射调整盘、32
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反射调整杆、33
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反射镜、4
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定位座、41
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挡圈、42
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导向座、43
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导向片、44
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调整柱。
具体实施方式
[0021]以下将结合附图对本技术各实施例的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部实施例。基于本技术中所述的实施例，本领域普通技术人员在不需要创造性劳动的前提下所得到的所有其它实施例，都在本技术所保护的范围内。
[0022]本技术的实施例，提供一种高精度轴承内圈圆度检测装置，如图1至图5所示，包括基座1，所述的基座1为中空长方体，所述的基座1两侧设置有安装孔，通过安装孔安装在产线的基板上。所述的基座1左侧上方固定设置有发射接收单元，所述的发射接收单元包括发射接收转盘2，所述的发射接收转盘2通过伺服电机驱动连接，所述的发射接收转盘2中部连接有固定轴，所述的固定轴设置调整腔，所述的调整腔为长方体空腔，所述的调整腔两端分别轴对称设置有发射器21和接收器22，所述的发射器21为校准激光发射器21，所述的接收器22为激光传感器。所述的发射器21和所述的接收器22分别安装在发射转23杆上，所
述的发射转23杆设置有调整旋钮螺钉，所述的调整腔侧壁设置有滑槽，所述的滑槽两侧刻画有刻度，所述的调整旋钮螺钉活动套接于所述的滑槽内，通过扭动所述的调整旋钮螺钉固定所述的发射转23杆的位置，所述的发射转23杆通过调整伸出所述的调整腔的长度来调整所述的发射器21与所述的接收器22之间的距离。
[0023]还包括反射单元，所述的基座1右侧与所述的发射接收单元对称设置有反射器转盘3，所述的反射器转盘3中轴设置有反射调整杆32。所述的反射调整杆32转动连接于所述的反射器转盘3，所述的反射调整杆32顶部中心设置有调整槽，所述的调整槽上滑动设置有定位锥。所述的反射器转盘3前部设置有两个半圆形反射调整盘31，两个所述的反射调整盘31的直边中心对称位置设置有滑动腔，所述的滑动腔套接在所述的反射调整杆32上本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种高精度轴承内圈圆度检测装置，其特征在于：包括基座(1)、发射接收单元、反射单元和定位单元，所述的发射接收单元位于所述的基座(1)上部左侧，所述的发射接收单元包括发射接收转盘(2)、发射器(21)和接收器(22)，所述的反射单元对应所述的发射接收单元设置于所述的基座(1)上部右侧，所述的反射单元包括反射器转盘(3)、反射调整盘(31)和反射镜(33)，所述的定位单元包括定位座(4)，所述的定位座(4)设置于所述的基座(1)顶部中间，通过同步旋转发射器(21)、接收器(22)和反射镜(33)，扫描位于所述的定位座(4)上的轴承内圈，测量轴承内圈参数。2.根据权利要求1所述的高精度轴承内圈圆度检测装置，其特征在于：所述的发射接收转盘(2)通过伺服电机驱动连接，所述的发射接收转盘(2)中部连接有固定轴，所述的发射接收单元还包括固定轴，所述的固定轴设置调整腔，所述的调整腔为长方体空腔。3.根据权利要求2所述的高精度轴承内圈圆度检测装置，其特征在于：所述的调整腔两端分别轴对称设置有发射器(21)和接收器(22)，所述的发射器(21)为校准激光发射器(21)，所述的接收器(22)为激光传感器。4.根据权利要求3所述的高精度轴承内圈圆度检测装置，其特征在于：所述的发射器(21)和所述的接收器(22)分别安装在发射转杆(23)上，所述的发射转杆(23)设置有调整旋钮螺钉，所述的调整腔侧壁设置有滑槽，所述的滑槽两侧刻画有刻度，所述的调整旋钮螺钉活动套接于所述的滑槽内。5.根据权利要求4所述的高精度轴承内圈圆度检测装置，其特征在于：所述的反射单元还包括反射调整杆(32)，所述的反射器转...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄善伟，
申请(专利权)人：宁波固特轴承有限公司，
类型：新型
国别省市：
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