一种光模块波长测试系统技术方案

本实用新型专利技术涉及一种光模块波长测试系统，包括温循/老化测试板，温循/老化测试板上设有分光器、波长检测电路，波长检测电路包括第一光电二极管、第二光电二极管和差分比较器，分光器用于将待测光模块的激光输出口的输出光分成两路，并将第一路光通过Etalon后作用于第一光电二极管，以及将第二路光直接作用于第二光电二极管，第一光电二极管的输出端与差分比较器的第一输入端连接，第二光电二极管的输出端与差分比较器的第二输入端连接，差分比较器的输出端与温循/老化箱控制系统的控制单元连接，控制单元与待测光模块连接。本实用新型专利技术可以利用模块在老化或者温循工序中，并行进行波长检测，大大节省了测试时间，提高测试效率。提高测试效率。提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种光模块波长测试系统


[0001]本技术属于光通信
，具体涉及一种光模块波长测试系统。

技术介绍

[0002]随着可调谐模块的应用，波长测试在模块制作和测试中越来越成为制约提高成品率和生产产能的关键。支持全波段的单个tunable模块具有48波或者96波，甚至超过100个波长。如果一个波长不符合要求也达不到出厂标准，所以一般生产时需要对所有波长进行测试。模块本身波长切换时间为1秒，稳定时间为0.5秒，波长计每个型号稳定时间不同，但是一般准确测试需要稳定3秒以上，这样一个波长测试时间约为4.5秒，假设有100个波长需要测试，仅波长测试一项就用时7.5分钟以上，大大制约了产能的提升，且中间一个波长出问题，就要下机确认，严重影响测试效率。
[0003]模块在生产环节都必须有老化或者温循工序，也可两者兼具。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于克服现有技术中的至少一种缺陷，提供了一种光模块波长测试系统，其可以进行光模块波长测试，并利用模块在老化或者温循工序中，并行进行波长检测，大大节省了测试时间，提高测试效率。
[0005]本技术的技术方案是这样实现的：本技术公开了一种光模块波长测试系统，包括测试板和控制单元，所述测试板上设有分光器、波长检测电路，所述波长检测电路包括第一光电二极管、第二光电二极管和差分比较器，所述分光器用于将待测光模块的激光输出口的输出光分成两路，并将第一路光通过Etalon后作用于第一光电二极管，以及将第二路光直接作用于第二光电二极管，所述第一光电二极管用于接收第一路光产生对应的第一光电流，所述第二光电二极管用于接收第二路光产生对应的第二光电流，所述第一光电二极管的输出端与差分比较器的第一输入端连接，所述第二光电二极管的输出端与差分比较器的第二输入端连接，差分比较器的输出端与控制单元连接，所述控制单元与待测光模块连接。
[0006]进一步地，所述控制单元连接有人机交互界面。
[0007]进一步地，所述测试板上设有供电电路，所述供电电路用于给光模块和测试板供电。
[0008]进一步地，所述测试板包括温循/老化测试板本体，在温循/老化测试板本体上设置分光器、波长检测电路，所述控制单元为温循/老化箱控制系统的控制单元；所述测试板放置在温循/老化箱内，并与温循/老化箱控制系统电连接。
[0009]进一步地，所述温循/老化箱控制系统通过网络与服务器通讯连接。
[0010]进一步地，所述测试板上设有用于与光模块的金手指连接的插接口，待测光模块安装在测试板上，待测光模块的金手指与测试板的插接口插接，形成电连接。
[0011]进一步地，光模块的激光输出口通过光纤连接到测试板，所述测试板上设有用于
与光纤连接的光纤连接器，所述光纤连接器与分光器耦合。
[0012]进一步地，所述测试板上设置有光开关和多个光纤连接器，多个光纤连接器与多个待测光模块之间通过光纤一一对应连接，当光开关具有多个光输入端口和一个光输出端口时，光开关的多个光输入端口分别一一对应与多个光纤连接器耦合，光开关的一个光输出端口与分光器耦合，通过该光开关实现多个待测光模块的激光输出之间的切换；当光开关具有多个光输入端口和两个光输出端口时，光开关的多个光输入端口分别一一对应与多个光纤连接器耦合，光开关的两个光输出端口分别输出所述第一路光和所述第二路光，通过该光开关实现多个待测光模块的激光输出之间的切换以及将选定的待测光模块的激光输出口的输出光分成两路。
[0013]本技术至少具有如下有益效果：采用本专利技术的波长检测电路，根据差分比较器输出ADC取样值就可以判断模块工作波长是否有偏差，偏差多少。
[0014]在现有的温循/老化测试板上增加波长测试的电路和器件如分光器、波长检测电路等，将测试板放置在温循/老化箱内，并与温循/老化箱控制系统电连接。利用模块在老化或者温循工序中，并行进行波长检测，大大节省了测试时间，提高测试效率。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0016]图1为本技术实施例提供的光模块波长测试系统的示意图；
[0017]图2为本技术的一种实施例提供的光模块波长测试系统的测试板的波长检测部分的示意图；
[0018]图3为本技术的另一种实施例提供的光模块波长测试系统的测试板的波长检测部分的示意图；
[0019]图4为tunable光模块的与波长相关的各参数的电路示意图；
[0020]图5为本技术一种实施例提供的Etalon电流、Reference电流与与波长(为了增加辨识度，以频率形式体现)的关系示意图；
[0021]图6为本技术一种实施例提供的差分比较器输出的ADC取样值与波长(为了增加辨识度，以频率形式体现)的关系示意图。
具体实施方式
[0022]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。
[0023]术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征；在本技术的描述中，除非另有说明，“多个”、“若干”的
含义是两个或两个以上。
[0024]参见图1至图3，本技术实施例提供一种光模块波长测试系统，包括测试板和控制单元，所述测试板上设有分光器、波长检测电路，所述波长检测电路包括第一光电二极管、第二光电二极管和差分比较器，所述分光器用于将待测光模块的激光输出口的输出光分成两路，并将第一路光通过Etalon后作用于第一光电二极管，以及将第二路光直接作用于第二光电二极管，所述第一光电二极管用于接收第一路光产生对应的第一光电流，称为Etalon电流，所述第二光电二极管用于接收第二路光产生对应的第二光电流，称为Reference电流，所述第一光电二极管的输出端与差分比较器的第一输入端连接，所述第二光电二极管的输出端与差分比较器的第二输入端连接，差分比较器的输出端与控制单元连接，所述控制单元与待测光模块连接。所述差分比较器用于接收Etalon电流、Reference电流进行差分比较，输出ADC值给控制单元。
[0025]进一步地，所述控制单元连接有人机交互界面。
[0026]进一步地，所述测试板上设有供电电路，所述供电电路用于给光模块和测试板供电。
[0027]进一步地，所述测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光模块波长测试系统，其特征在于：包括测试板和控制单元，所述测试板上设有分光器、波长检测电路，所述波长检测电路包括第一光电二极管、第二光电二极管和差分比较器，所述分光器用于将待测光模块的激光输出口的输出光分成两路，并将第一路光通过Etalon后作用于第一光电二极管，以及将第二路光直接作用于第二光电二极管，所述第一光电二极管用于接收第一路光产生对应的第一光电流，所述第二光电二极管用于接收第二路光产生对应的第二光电流，所述第一光电二极管的输出端与差分比较器的第一输入端连接，所述第二光电二极管的输出端与差分比较器的第二输入端连接，差分比较器的输出端与控制单元连接，所述控制单元与待测光模块连接。2.如权利要求1所述的光模块波长测试系统，其特征在于：所述控制单元连接有人机交互界面。3.如权利要求1所述的光模块波长测试系统，其特征在于：所述测试板上设有供电电路，所述供电电路用于给光模块和测试板供电。4.如权利要求1所述的光模块波长测试系统，其特征在于：所述测试板包括温循/老化测试板本体，在温循/老化测试板本体上设置分光器、波长检测电路，所述控制单元为温循/老化箱控制系统的控制单元；所述测试板放置在温循/老化箱内，并与温循/老化箱控制系统电连接。5.如权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨新强，曹锋光，李林科，吴天书，杨现文，张健，
申请(专利权)人：武汉联特科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：