处理盒制造技术

本发明专利技术涉及一种处理盒。一种处理盒，其包括：具有鼓形状的电子照相感光构件；用于用调色剂使所述电子照相感光构件表面上的静电潜像显影的显影单元；和用于除去所述电子照相感光构件表面上的调色剂的清洁刮板，所述清洁刮板与所述电子照相感光构件接触，其中所述电子照相感光构件包括所述电子照相感光构件表面上的皱褶，并且其中所述调色剂的流动性扭矩E为320mJ以上。为320mJ以上。为320mJ以上。

【技术实现步骤摘要】
处理盒


[0001]本公开涉及用于电子照相设备的处理盒。

技术介绍

[0002]用于电子照相设备的电子照相感光构件通常为鼓状电子照相感光构件(下文中也描述为"电子照相感光鼓"、"感光鼓"、或简称为"电子照相感光构件")。在电子照相设备中，各种电气的外力和机械外力在充电、曝光、显影、转印和清洁的重复步骤中施加于电子照相感光构件的表面(与外表面同义，以下同样适用)。其中，清洁时在电子照相感光构件的表面与清洁刮板之间产生的摩擦力大，并且由于电子照相感光构件的表面的磨耗或清洁力的下降而影响图像的失真。
[0003]为了减轻电子照相感光构件的表面的磨耗，已经推进其表面层的材料的改善，并且迄今已经研究包括通过在表面层中使用耐磨耗性优异的材料例如固化性树脂等来改善其耐磨耗性的改良技术。
[0004]电子照相感光构件通常用于包括充电步骤、曝光步骤、显影步骤、转印步骤和清洁步骤的电子照相图像形成方法中。其中，除去转印步骤之后电子照相感光构件上的残留调色剂的清洁步骤为获得清晰图像的重要步骤。清洁的方法通常为包括使橡胶状的清洁刮板加压接触电子照相感光构件以刮除调色剂的方法。
[0005]同时，为了改善耐磨耗性，已经进行以下改良。使凹凸形成于电子照相感光构件的表面上以减少表面与清洁刮板之间的接触面积，由此减少摩擦力。当摩擦力减少时，抑制了电子照相感光构件的表面的磨耗。另外，可以减少电子照相感光构件的表面与清洁刮板之间的接触扭矩。
[0006]在日本专利申请特开No.2010
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26240中，出于改善清洁性的目的，公开了在其表面中具有特定沟形状的电子照相感光构件。
[0007]在日本专利申请特开No.2010
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250355中，出于同时实现高的清洁性能以及对清洁刮板的缠绕的抑制的目的，公开了在其外周面中具有特定沟形状的调色剂图像承载构件。
[0008]在日本专利申请特开No.2015
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161786中，公开了，当电子照相感光构件的表面经历转印模具构件的凹凸形状的加工时，获得了拥有即使在高温环境中凹凸形状也具有高稳定性的表面的电子照相感光构件。
[0009]已经要求近期的电子照相设备实现扭矩的进一步降低而不导致清洁不良。在清洁步骤中，称为阻挡层的小颗粒的沉积层(该层包括例如调色剂的添加剂)形成于设备的清洁刮板和电子照相感光构件的各自的表面上。阻挡层的维持在清洁时是重要的。清洁不良是指其中阻挡层因某种因素破坏而导致调色剂或其外部添加剂从清洁刮板中逸出的现象。当发生清洁不良时，条纹状的图像不良在图像上出现，或者尽管未出现在图像上，已逸出的微细调色剂或外部添加剂也存在于电子照相感光构件的表面上从而附着于充电辊，由此导致例如充电不良等缺点。尽管可以通过增强清洁刮板的抵接压力而抑制调色剂逸出，但扭矩增加。
[0010]在公开于日本专利申请特开No.2010
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26240和日本专利申请特开No.2010
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250355中的各技术中，观察到通过减少电子照相感光构件与清洁刮板之间的摩擦力导致的扭矩下降。然而，加工与加工方向平行的沟，因此调色剂或其添加剂逸出而在一些情况下导致清洁不良。

技术实现思路

[0011]因此，本公开的一方面是提供同时实现扭矩的下降和清洁性的改善的处理盒。
[0012]上述方面通过下述的本公开来实现。即，根据本公开的处理盒为如下的处理盒，其包括：具有鼓形状的电子照相感光构件；用于用调色剂使所述电子照相感光构件的表面上的静电潜像显影的显影单元；和用于除去所述电子照相感光构件的表面上的调色剂的清洁刮板，所述清洁刮板与所述电子照相感光构件接触，其中所述电子照相感光构件包括所述电子照相感光构件的表面上的褶皱，并且其中所述调色剂的流动性扭矩(fluidity torque)E为320mJ以上。
[0013]本公开的进一步特征将会参考附图从以下示例性实施方案的描述中变得显而易见。
附图说明
[0014]图1A为电子照相感光构件的表面的俯视图，用于示出电子照相感光构件的皱褶的凹凸形状的一个实例。
[0015]图1B为示出由电子照相感光构件的表面中的表面观察获得的高度信息的图形，该图形用于示出电子照相感光构件的皱褶的凹凸形状的一个实例。
[0016]图2为示出包括处理盒的电子照相设备的示意性构成的图，所述处理盒包括电子照相感光构件。
[0017]图3为示出粉末流动性分析仪的螺旋桨式叶片的外观的图。
[0018]图4为示出用于研磨比较例中的电子照相感光构件的表面的研磨机的图。
[0019]图5为示出形成于根据本专利技术的电子照相感光鼓的外表面上的褶皱的凹部和凸部的形状的实例的俯视图。
[0020]图6A为示出通过分析形成于根据本专利技术的电子照相感光鼓的外表面上的褶皱的频率而获得的二维功率谱F(r,θ)的图。
[0021]图6B为示出通过在θ方向上积分借助分析形成于根据本专利技术的电子照相感光鼓的外表面上的褶皱的频率获得的二维功率谱F(r,θ)而获得的一维径向分布函数的图。
[0022]图6C为示出当角分布q(θ)从在一维径向分布函数p(r)具有极大值的频率rp处的二维功率谱F(r,θ)计算时在整个θ范围中的功率值的变化率的图，所述一维径向分布函数p(r)为通过在θ方向上积分借助将形成于根据本专利技术的电子照相感光鼓的外表面上的褶皱进行频率分析获得的二维功率谱F(r,θ)而获得的。
具体实施方式
[0023]本公开的优选实施方案现在将会参考附图详细地描述。
[0024]本公开借助优选实施方案在以下详细地描述。
[0025]在包括在具有鼓形状的电子照相感光构件的表面中布置沟形状的现有技术中，已经采用其中沟形状的方向平行于具有鼓形状的电子照相感光构件的旋转方向的构成。因此，已经发现的是，特别是当清洁刮板的抵接压力低时，电子照相感光构件上的残留调色剂通过沟形状部而从清洁刮板的抵接部逸出，从而导致条纹状图像缺陷或者充电辊的污染。
[0026]鉴于前述，本公开的专利技术人已经进行了深入研究，结果，已经发现，上述缺点可以通过具有以下构成的处理盒来解决。
[0027]具体地，根据本公开的处理盒为如下的处理盒，其包括：包括支承体和感光层的电子照相感光构件；用于用调色剂使电子照相感光构件的表面上的静电潜像显影的显影单元；和用于除去电子照相感光构件的表面上的调色剂的清洁刮板，清洁刮板与电子照相感光构件接触，处理盒的特征在于电子照相感光构件包括电子照相感光构件的表面上的皱褶，以及调色剂的流动性扭矩E为320mJ以上。
[0028]本文中，如下所述，例如，可以识别电子照相感光构件具有遍及整个表面的褶皱的事实。本专利技术中的褶皱意指，其图案为多个山脉状凸部(下文中，凸部)以间隔布置的图案的凹凸。
[0029]在电子照相感光构件的表面中，设置如下的观察区域，其包括：作为各个中心点，将电子照相感光构件在其轴方向上分割本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种处理盒，其包括：具有鼓形状的电子照相感光构件；用于用调色剂使所述电子照相感光构件的表面上的静电潜像显影的显影单元；和用于除去所述电子照相感光构件的表面上的调色剂的清洁刮板，所述清洁刮板与所述电子照相感光构件接触，其特征在于，所述电子照相感光构件包括所述电子照相感光构件的表面上的褶皱，并且其中所述调色剂的流动性扭矩E为320mJ以上。2.根据权利要求1所述的处理盒，其中当每边为50.0μm的正方形观察区域设置于所述电子照相感光构件的表面上的任选位置上，并且由形成所述褶皱的凸部的各脊线的切线和平行于所述电子照相感光构件的圆周方向的线形成的角度由θ表示时，所述观察区域包括该θ落入45
°
与135
°
之间的范围的所述褶皱的一个以上的脊线部分。3.根据权利要求2所述的处理盒，其中当观察点以5.0μm的间隔设置于所述观察区域中的形成所述褶皱的凸部的脊线上时，该θ落入45
°
与135
°...

【专利技术属性】
技术研发人员：樋山史幸，岩崎修平，渡部博之，中村延博，石田知仁，渡边俊太郎，
申请(专利权)人：佳能株式会社，
类型：发明
国别省市：