一种金相样品自动制样研磨方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种金相样品自动制样研磨方法及系统，涉及人工智能技术领域，所述方法包括：根据待研磨金相样品的基本信息和预定样品制备要求，确定第一样品研磨参数信息；按照预设时间段对待研磨金相样品的研磨过程进行三维扫描，获得金相样品三维图像信息；按照预设卷积特征对金相样品三维图像信息提取，获得金相样品平整度特征；根据研磨受力信息和金相样品平整度特征，获得第二样品研磨参数信息，并基于第二样品研磨参数信息进行样品研磨制备。达到通过人工智能学习确定样品研磨参数，并根据样品研磨检测情况对研磨参数及时调整，提高样品研磨参数准确性，降低研磨的时间成本和人工成本，进而提高金相样品自动制样效率的技术效果。技术效果。技术效果。

【技术实现步骤摘要】
一种金相样品自动制样研磨方法及系统


[0001]本专利技术涉及人工智能领域，尤其涉及一种金相样品自动制样研磨方法及系统。

技术介绍

[0002]金相分析是研究材料内部组织结构的重要方法，是指金属或合金的化学成分以及各种成分在合金内部的物理状态和化学状态，一般用来进行失效分析、质量控制、研发。而金相试样制备的目的是获得材料内部真实的组织结构，为了获得金属材料的真实显微组织并准确观察、测量和分析，合理有效的试样研磨制备是至关重要的。
[0003]然而，现有技术金相样品研磨的时间成本和人工成本较大，导致影响金相样品制样效率的技术问题。

技术实现思路

[0004]本申请通过提供一种金相样品自动制样研磨方法及系统，解决了现有技术金相样品研磨的时间成本和人工成本较大，导致影响金相样品制样效率的技术问题，达到通过人工智能学习确定样品研磨参数，并根据样品研磨检测情况对研磨参数及时调整，提高样品研磨参数准确性，降低研磨的时间成本和人工成本，进而提高金相样品自动制样效率的技术效果。
[0005]鉴于上述问题，本专利技术提供了一种金相样品自动制样研磨方法及系统。
[0006]第一方面，本申请提供了一种金相样品自动制样研磨方法，所述方法包括：获得待研磨金相样品；根据所述待研磨金相样品的基本信息和预定样品制备要求，确定第一样品研磨参数信息；基于所述第一样品研磨参数信息，对所述待研磨金相样品进行研磨；通过六维力传感器采集获取所述待研磨金相样品的研磨受力信息；按照预设时间段对所述待研磨金相样品的研磨过程进行三维扫描，获得金相样品三维图像信息；按照预设卷积特征对所述金相样品三维图像信息提取，获得金相样品平整度特征；根据所述研磨受力信息和所述金相样品平整度特征，获得第二样品研磨参数信息，并基于所述第二样品研磨参数信息进行样品研磨制备。
[0007]另一方面，本申请还提供了一种金相样品自动制样研磨系统，所述系统包括：第一获得单元，所述第一获得单元用于获得待研磨金相样品；第一确定单元，所述第一确定单元用于根据所述待研磨金相样品的基本信息和预定样品制备要求，确定第一样品研磨参数信息；第一处理单元，所述第一处理单元用于基于所述第一样品研磨参数信息，对所述待研磨金相样品进行研磨；第二获得单元，所述第二获得单元用于通过六维力传感器采集获取所述待研磨金相样品的研磨受力信息；第三获得单元，所述第三获得单元用于按照预设时间段对所述待研磨金相样品的研磨过程进行三维扫描，获得金相样品三维图像信息；第四获得单元，所述第四获得单元用于按照预设卷积特征对所述金相样品三维图像信息提取，获得金相样品平整度特征；第二处理单元，所述第二处理单元用于根据所述研磨受力信息和所述金相样品平整度特征，获得第二样品研磨参数信息，并基于所述第二样品研磨参数信
息进行样品研磨制备。
[0008]第三方面，本申请提供了一种电子设备，包括总线、收发器、存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述收发器、所述存储器和所述处理器通过所述总线相连，所述计算机程序被所述处理器执行时实现上述任意一项所述方法中的步骤。
[0009]第四方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项所述方法中的步骤。
[0010]本申请中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：由于采用了根据待研磨金相样品的基本信息和预定样品制备要求，确定第一样品研磨参数信息，再基于第一样品研磨参数信息对待研磨金相样品进行研磨，同时通过六维力传感器采集获取待研磨金相样品的研磨受力信息，并按照预设时间段对待研磨金相样品的研磨过程进行三维扫描，获得对应的金相样品三维图像信息，然后按照预设卷积特征对金相样品三维图像信息提取，确定金相样品平整度特征，根据研磨受力信息和金相样品平整度特征，对第一样品研磨参数信息进行修正，并基于修正后的第二样品研磨参数信息进行样品研磨制备的技术方案。进而达到通过人工智能学习确定样品研磨参数，并根据样品研磨检测情况对研磨参数及时调整，提高样品研磨参数准确性，降低研磨的时间成本和人工成本，进而提高金相样品自动制样效率的技术效果。
[0011]上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。
附图说明
[0012]图1为本申请一种金相样品自动制样研磨方法的流程示意图；图2为本申请一种金相样品自动制样研磨方法中获得待研磨金相样品的流程示意图；图3为本申请一种金相样品自动制样研磨方法中获得第二金相嵌样的流程示意图；图4为本申请一种金相样品自动制样研磨系统的结构示意图；图5为本申请示例性电子设备的结构示意图。
[0013]附图标记说明：第一获得单元11，第一确定单元12，第一处理单元13，第二获得单元14，第三获得单元15，第四获得单元16，第二处理单元17，总线1110，处理器1120，收发器1130，总线接口1140，存储器1150，操作系统1151，应用程序1152和用户接口1160。
具体实施方式
[0014]在本申请的描述中，所属
的技术人员应当知道，本申请可以实现为方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。因此，本申请可以具体实现为以下形式：完全的硬件、完全的软件（包括固件、驻留软件、微代码等）、硬件和软件结合的形式。此外，在一些实施例中，本申请还可以实现为在一个或多个计算机可读存储介质中的计算机程序产品的形式，该计算机可读存储介质中包含计算机程序代码。
[0015]上述计算机可读存储介质可以采用一个或多个计算机可读存储介质的任意组合。计算机可读存储介质包括：电、磁、光、电磁、红外或半导体的系统、装置或器件，或者以上任意的组合。计算机可读存储介质更具体的例子包括：便携式计算机磁盘、硬盘、随机存取存储器、只读存储器、可擦除可编程只读存储器、闪存、光纤、光盘只读存储器、光存储器件、磁存储器件或以上任意组合。在本申请中，计算机可读存储介质可以是任意包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置、器件使用或与其结合使用。
[0016]本申请技术方案中对数据的获取、存储、使用、处理等均符合国家法律的相关规定。
[0017]本申请通过流程图和/或方框图描述所提供的方法、装置、电子设备。
[0018]应当理解，流程图和/或方框图的每个方框以及流程图和/或方框图中各方框的组合，都可以由计算机可读程序指令实现。这些计算机可读程序指令可以提供给通用计算机、专用计算机或其他可编程数据处理装置的处理器，从而生产出一种机器，这些计算机可读程序指令通过计算机或其他可编程数据处理装置执行，产生了实现流程图和/或方框图中的方框规定的功能/操作的装置。
[0019]也可以将这些计算机可读程序指令存储在能使得计算机或其他可编程数据处理装置以特定方式工作的计算机可读存储介质中。这本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种金相样品自动制样研磨方法，其特征在于，所述方法包括：获得待研磨金相样品；根据所述待研磨金相样品的基本信息和预定样品制备要求，确定第一样品研磨参数信息；基于所述第一样品研磨参数信息，对所述待研磨金相样品进行研磨；通过六维力传感器采集获取所述待研磨金相样品的研磨受力信息；按照预设时间段对所述待研磨金相样品的研磨过程进行三维扫描，获得金相样品三维图像信息；按照预设卷积特征对所述金相样品三维图像信息提取，获得金相样品平整度特征；根据所述研磨受力信息和所述金相样品平整度特征，获得第二样品研磨参数信息，并基于所述第二样品研磨参数信息进行样品研磨制备。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获得待研磨金相样品，包括：对待处理样品进行三维扫描，获得样品三维图像信息；根据所述样品三维图像信息，确定样品外观尺寸和样品观察点；基于所述样品外观尺寸和样品观察点对所述待处理样品进行灌封固化，获得第一金相嵌样；对所述第一金相嵌样进行二次三维扫描，获得所述待处理样品在所述第一金相嵌样中的相对位置；使用激光对所述相对位置蚀刻定位标记，获得所述待研磨金相样品。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，获得第一金相嵌样之后还包括：对所述金相嵌样进行质量检测，获得嵌样质量检测结果；如果所述嵌样质量检测结果存在缺陷，对嵌样缺陷进行类型判断，获得嵌样缺陷类型；根据所述嵌样缺陷类型，制定嵌样缺陷解决方案；基于所述嵌样缺陷解决方案，获得第二金相嵌样。4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定第一样品研磨参数信息，包括：构建金相样品研磨参数分析模型库；根据所述待研磨金相样品的基本信息，获得第一金相样品类型信息；根据所述第一金相样品类型信息，从所述金相样品研磨参数分析模型库中调用第一金相样品研磨参数分析模型；将所述待研磨金相样品的基本信息和所述预定样品制备要求输入所述第一金相样品研磨参数分析模型中，获得所述第一样品研磨参数信息。5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述构建金相样品研磨参数分析模型库，包括：获得历史金相样品数据信息，所述历史金相样品数据信息包括历史金相样品的基本信息和预定样品制备要求；对所述历史金相样品数据库的样品类型进行分类，获得金相样品类型信息；将所述历史金相样品数据信息按照所述金相样品类型信息分别输入神经网络模型，获得与金相样品类型相对应的金相样品研磨...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈圣祥，洪晶晶，
申请(专利权)人：深圳市聚鑫视科技有限公司，
类型：发明
国别省市：