电性测试座制造技术

本发明专利技术提供一种电性测试座，包含：中间片，包含多个第一导电部分，其中多个第一导电粒子配置于第一弹性物质中；上部片，安置于中间片上方且包含多个第二导电部分，其中多个第二导电粒子配置于第二弹性物质中；以及下部片，安置于中间片下方且包含多个第三导电部分，其中多个第三导电粒子配置于第三弹性物质中，其中第一弹性物质包含在高温下膨胀率小于第二弹性物质及第三弹性物质的材料。性物质及第三弹性物质的材料。性物质及第三弹性物质的材料。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】电性测试座


[0001]本揭示涉及一种电性测试座，且更特定言之，尤其涉及一种甚至在高温及低温环境中可保持极佳电特性且具有增加的使用寿命的电性测试座。

技术介绍

[0002]一般而言，电性测试座设置于待测试元件与测试元件之间以使待测试元件的端子与测试元件的衬垫彼此电连接。电性测试座用于测试过程中以用于判定待测试元件是否有缺陷。
[0003]图1示出根据现有技术的电性测试座(10)。
[0004]电性测试座(10)可包含插座主体，所述插座主体包含：导电部分(11)，在厚度方向上延伸，且其中多个导电粒子(11a)在厚度方向上配置于聚硅氧橡胶中；及绝缘部分(12)，安置于导电部分(11)之间以支撑导电部分(11)且包含聚硅氧橡胶。
[0005]当电性测试座(10)置放于测试元件(30)上时，待测试元件(20)的端子(21)与导电部分(11)的上部末端接触且按压于其上，且接着自测试元件(30)向待测试元件(20)施加某一电信号，电信号经由导电部分(11)自测试元件(30)的衬垫(31)传输至待测试元件(20)的端子(21)，由此执本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种电性测试座，用于使待测试元件的端子与测试元件的衬垫彼此电连接，所述电性测试座包括：中间片，包括：多个第一导电部分，在对应于待测试元件的端子的每一位置处在厚度方向上延伸，且其中多个第一导电粒子配置于第一弹性物质中；及第一绝缘支撑部分，设置于所述多个第一导电部分之间，支撑所述多个第一导电部分中的每一者且包括所述第一弹性物质；上部片，安置于所述中间片上方，且包括：多个第二导电部分，在对应于所述多个第一导电部分的位置处在厚度方向上延伸，且其中多个第二导电粒子配置于第二弹性物质中；及第二绝缘支撑部分，设置于所述多个第二导电部分之间，支撑所述多个第二导电部分且包括所述第二弹性物质；以及下部片，安置于所述中间片下方，且包括：多个第三导电部分，在对应于所述多个第一导电部分的位置处在厚度方向上延伸，且其中多个第三导电粒子配置于第三弹性物质中；及第三绝缘支撑部分，设置于所述多个第三导电部分之间，支撑所述多个第三导电部分且包括所述第三弹性物质，其中所述第一弹性物质包括在高温下膨胀率小于所述第二弹性物质及所述第三弹性物质的材料。2.根据权利要求1所述的电性测试座，其中所述第二弹性物质及所述第三弹性物质各自包括在低温下收缩率小于所述第一弹性物质的材料。3.根据权利要求1所述电性测试座，其中所述高温为约150℃或高于150℃。4.根据权利要求1所述的电性测试座，其中所述第一弹性物质包括耐热聚硅氧橡胶或含有耐热材料的聚硅氧橡胶。5.根据权利要求4所述的电性测试座，其中所述耐热材料包括氧化铁、氮化硼以及氮化铝中的任一者。6.根据权利要求2所述的电性测试座，其中所述低温为约
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55℃或低于
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55℃。7.根据权利要求2所述的电性测试座，其中所述第二弹性物质及所述第三弹性物质各自包括低温用聚硅氧橡胶。8.根据权利要求7所述的电性测试座，其中所述低温用聚硅氧橡胶包括氟硅橡胶。9.根据权利要求1所述的电性测试座，其中覆盖所述中间片的表面的绝缘片在所述中间片的上部表面或下部表面中的至少一者处一体地附接至所述中间片。10.根据权利要求9所述的电性测试座，其中在对应于所述多个第一导电部分中的每一者的每一位置处的所述绝缘片中形成连通孔。11.根据权利要求9所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑永倍，
申请(专利权)人：株式会社ISC，
类型：发明
国别省市：