基于测温仪的热电阻温度计校准方法技术

一种基于测温仪的热电阻温度计校准方法，包括以下步骤：1)将多个被校热电阻温度计与一具有ITS

【技术实现步骤摘要】
基于测温仪的热电阻温度计校准方法


[0001]本专利技术涉及热学计量
，具体涉及一种基于测温仪的热电阻温度计校准方法。

技术介绍

[0002]热电阻(thermal resistor)是中低温区最常用的一种温度检测器，由一个或多个感温电阻元件组成的，感温电阻元件大多数都是纯金属，如铜、镍、铁、铁
‑
镍，或者铂丝。其中铂热电阻的测量精确度是最高的，它不仅广泛应用于工业测温，而且被制成标准的基准仪——标准铂电阻温度计。
[0003]目前，对热电阻温度计的校准，只能采用数字多用表或者符合测量准确度要求的电桥作电测仪器，在0℃、100℃下分别读取被校热电阻温度计和标准铂电阻温度计的电阻值，通过比较两者阻值的不同，按照下列步骤计算被校热电阻温度计和标准铂电阻温度计的测量偏差：
[0004]⑴
计算被校热电阻温度计和标准铂电阻温度计在温度校准点的温度偏差值
[0005][0006]式中，为在温度校准点测得的标准铂电阻温度计的电阻值，为在水三相点测得的标准铂电阻温度计电阻值，W
tS
为标准铂电阻温度计在温度校准点的电阻比值，dW
tS
/dt为标准铂电阻温度计在温度校准点的电阻比值和电阻比值对温度的变化率，t为温度校准点的温度值。
[0007]⑵
计算被校热电阻温度计在温度校准点的电阻值R
t
'：
[0008][0009]式中，R
i
为在温度校准点测得的被校热电阻温度计的阻值，dR/dt为被校热电阻温度计处于温度校准点时，电阻值对温度的变化率。
[0010](3)计算被校热电阻温度计在校准点的温度偏差Δt
[0011][0012]式中，R
分
为被校热电阻温度计的分度表中与温度校准点对应的电阻值。
[0013]但是，上述这种传统的校准方法由于涉及的参数较多，通过数字多用表测试出电阻值后，还需要人工进行计算，不但工作流程繁琐，校准效率低下，还无法保证校准结果的准确度，如何快速并准确的对热电阻温度计的阻值进行校准，一直是本领域难以解决的难题，亟待一种能够快速对热电阻温度计进行校准的方法，在保证校准结果准确度的同时，来解决传统的校准方法流程繁琐、效率低下的问题。

技术实现思路

[0014]本专利技术的目的是针对现有技术对应的不足，提供一种基于测温仪的热电阻温度计校准方法，采用一个具有ITS
‑
90温标转换功能的测温仪直接一次性批量读取多个被校热电阻温度计的测量值，通过与同在标准恒温槽内标准铂电阻温度计的测量值进行比较，得到各个被校热电阻温度计的校准值。
[0015]本专利技术的目的是采用下述方案实现的：一种基于测温仪的热电阻温度计校准方法，包括以下步骤：
[0016]1)将多个被校热电阻温度计与一具有ITS
‑
90温标转换功能的测温仪的多个校准信号输入端分别一一对应电连接；
[0017]2)将一个标准铂电阻温度计与所述测温仪的标准信号输入端电连接；
[0018]3)将标准铂电阻温度计与多个被校热电阻温度计放入同一标准恒温槽内，并将标准恒温槽提供的温度调整到温度校准点；
[0019]各温度计在标准恒温槽内均应该有足够的插入深度，尽可能减少热损失。
[0020]4)开启测温仪，在测温仪上设置各被校热电阻温度计的性能参数；
[0021]5)在测温仪上设置标准铂电阻温度计的性能参数；
[0022]6)通过测温仪的显示屏读取标准铂电阻温度计，以及各个被校热电阻温度计的测量值；
[0023]值得注意的是，在读取测量值的时候，需要等待足够的时间，待测量值稳定后方可读数。
[0024]7)分别计算各被校热电阻温度计与标准铂电阻温度计的测量值的差，作为该被校热电阻温度计的校准值。
[0025]优选地，所述被校热电阻温度计的性能参数为分度号。
[0026]优选地，所述标准铂电阻温度计的性能参数包括水三相点值第一偏差函数系数a、第二偏差函数系数b、第三偏差函数系数c、第四偏差函数系数d。
[0027]优选地，所述被校热电阻温度计为工业铂热电阻温度计。
[0028]本专利技术的优点在于，直接采用可以将多个被校热电阻温度计以及标准铂电阻温度计的输出值显示为温度值的测温仪进行校准实验，不再需要按照传动校准方法来进行繁琐的人工计算，直接通过测温仪显示的温度值进行一步计算，不但计算简单，效率高，一次性可以快速得到多个被校热电阻温度计的校准值，且大大提高了计算的准确度，使校准结果符合标准要求。
附图说明
[0029]图1为本专利技术的流程图；
[0030]图2为本专利技术测温仪的使用示意图。
具体实施方式
[0031]如图1至图2所示，一种基于测温仪的热电阻温度计校准方法，包括以下步骤：
[0032]1)将多个被校热电阻温度计与一具有ITS
‑
90温标转换功能的测温仪的多个校准信号输入端分别一一对应电连接，本实施例中，所述被校热电阻温度计为工业铂热电阻温
度计。
[0033]2)将一个标准铂电阻温度计与所述测温仪的标准信号输入端电连接；
[0034]3)将标准铂电阻温度计与多个被校热电阻温度计放入同一标准恒温槽内，并将标准恒温槽提供的温度调整到温度校准点；
[0035]4)开启测温仪，在测温仪上设置各被校热电阻温度计的性能参数；
[0036]5)在测温仪上设置标准铂电阻温度计的性能参数；
[0037]本实施例中，所述被校热电阻温度计的性能参数为分度号。
[0038]所述标准铂电阻温度计的性能参数包括水三相点值R
t*p
、第一偏差函数系数a、第二偏差函数系数b、第三偏差函数系数c、第四偏差函数系数d。
[0039]6)通过测温仪的显示屏读取标准铂电阻温度计，以及各个被校热电阻温度计的测量值；
[0040]7)分别计算各被校热电阻温度计与标准铂电阻温度计的测量值的差，作为该被校热电阻温度计的校准值，计算公式如下所示：
[0041]Δt＝t
被
‑
t
标
[0042]式中，t
被
为测温仪显示的任一被校热电阻温度计的测量值，t
标
为测温仪显示的标准铂电阻温度计的测量值，Δt为该被校热电阻温度计的校准值。
[0043]本实施例中，所述温度校准点包括0℃、100℃，首先将标准恒温槽提供的温度调整到0℃，按照步骤4)至7)计算各个被校热电阻温度计在0℃时的校准值，再将标准恒温槽提供的温度调整到100℃，重复步骤4)至7)，计算各个被校热电阻温度计在100℃时的校准值。
[0044]以上所述仅为本专利技术的优选实施例，并不用于限制本专利技术，本领域的技术人员在不脱离本专利技术的精神的前提下，对本专利技术进行的改动均落入本专利技术的保护范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于测温仪的热电阻温度计校准方法，其特征在于，包括以下步骤：1)将多个被校热电阻温度计与一具有ITS
‑
90温标转换功能的测温仪的多个校准信号输入端分别一一对应连接；2)将一个标准铂电阻温度计与所述测温仪的标准信号输入端连接；3)将标准铂电阻温度计与多个被校热电阻温度计放入同一标准恒温槽内，并将标准恒温槽提供的温度调整到温度校准点；4)开启测温仪，在测温仪上设置各被校热电阻温度计的性能参数；5)在测温仪上设置标准铂电阻温度计的性能参数；6)通过测温仪的显示屏读取标准铂电阻温度计，以及各个被校热电阻温...

【专利技术属性】
技术研发人员：梅现均，于海洋，
申请(专利权)人：重庆望江工业有限公司，
类型：发明
国别省市：