基于荧光测量的高介电材料为钻孔量测方法技术

本发明专利技术公开了基于荧光测量的高介电材料为钻孔量测方法，属于图像分析技术领域，该量测方法具体步骤如下：(1)将有机材料进行固定并进行荧光激发；(2)摄像头对有机材料进行监测采集；(3)对采集到的图像信息进行分析判断；(4)对各组数据进行分布式存储；本发明专利技术通过将有机材料被激发光，解决一般照明景深不足，同时呈现孔上缘和底部于影像上，能够反射出圆孔底部样貌进行检测，可大面积取像应用，增加产出，提高工作人员工作效率。提高工作人员工作效率。提高工作人员工作效率。

【技术实现步骤摘要】
基于荧光测量的高介电材料为钻孔量测方法


[0001]本专利技术涉及图像分析
，尤其涉及基于荧光测量的高介电材料为钻孔量测方法。

技术介绍

[0002]钻孔测量是地球物理测井技术的重要组成部分，在钻孔质量检测、钻孔定向、矿产资源评估、建井工程等方面起着极其重要的作用，钻孔是根据地质或工程要求，利用钻探设备，在待测物中钻凿的直径远小于其深度的柱形圆孔。钻孔的最上部称孔口，钻孔的底面称孔底，由孔口至孔底的整个柱状侧面称孔壁，整个钻孔有时也称为孔身，近年来钻孔测量技术应用到工程施工、工程质量检测以及材料检测方面，使钻孔测量技术的研究和应用日益受到重视，同时随着电容器等电力电子器件的制备需求上升，高介电材料需求也随之增加，因此各厂家对高介电材料质量要求也在不断提高，钻孔测量技术随之成为了高介电材料质量检测的重要手段之一；
[0003]现有的基于荧光测量的高介电材料为钻孔量测方法无法反射出圆孔底部样貌进行检测，无法大面积取像应用，降低产出；为此，我们提出基于荧光测量的高介电材料为钻孔量测方法。

技术实现思路

>[0004]本专利本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.基于荧光测量的高介电材料为钻孔量测方法，其特征在于，该量测方法具体步骤如下：(1)将有机材料进行固定并进行荧光激发；(2)摄像头对有机材料进行监测采集；(3)对采集到的图像信息进行分析判断；(4)对各组数据进行分布式存储。2.根据权利要求1所述的基于荧光测量的高介电材料为钻孔量测方法，其特征在于，步骤(1)中所述荧光激发具体步骤如下：步骤一：工作人员将有机材料放置在检测台指定位置后，传感器检测到有机材料，同时发送照射指令，计算机接收到传感器发送的照射指令后，控制灯箱发出光线；步骤二：灯箱光线经过激发滤光片照射在检测台上的有机材料上，同时监视器实时采集光线照射位置、照射范围以及有机材料发光程度，之后依据采集的各组信息对灯箱照射角度进行调整。3.根据权利要求2所述的基于荧光测量的高介电材料为钻孔量测方法，其特征在于，步骤(1)中所述有机材料具体包括PI高介电材料以及ABF高介电材料。4.根据权利要求1所述的基于荧光测量的高介电材料为钻孔量测方法，其特征在于，步骤(2)中所述监测采集具体步骤如下：步骤一：当有机材料发光程度达到光机系统默认或工作人员设定的预期值时，计算机对摄像头采集角度进行调整，之后启动摄像头对，有机材料的反射光源通过长通滤片进行杂讯滤除，之后滤除过的反射光源通过分色镜以及发射滤光片传递给摄像机，之后摄像机将接收到的有机材料图像反馈至计算机；步骤二：依据有机材料图像的显示比例来确定分块数量，并对该有机材料图像进行分块处理，同时对分块完成的有机材料图像通过低通滤波进行模糊处理；步骤三：对处理完成的有机材料图像中的每一个像素逐点进行阈值计算，并通过灰度阀值寻找区域，并对该区域中的各组像素点进行特征点提取，同时依据各组特征点提取固定区域。5.根据权利要求4所述的基于荧光测量的高介电材料为钻孔量测方法，其特征在于，步骤(3)中所述分析判断具体步骤如下：第一步：计算机构建分析神经网络，并将各组有机材料图像导入分析神经网络中，之后分析神经网络将各组有机材料图像中非二进制的数据转换为二进制，之后通过归一化处理将各组有机材料图像转换至规定区间内；第二步：分析神经网络对各组处理后的有机材料进行编号处理，并将各组有机材料图像进行大面积取样，并依据从各组有机材料图像中提取相对应的固定区域判断该有机材料钻孔情况，同时计算机实时对分析神经网络进行性能评估；第三步：若钻孔至存在残材，则将该有机材料编号反馈给工作人员，同时对有机材料图像中残材进行标...

【专利技术属性】
技术研发人员：颜鸿任，古全钧，
申请(专利权)人：古全钧，
类型：发明
国别省市：