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本发明公开了基于荧光测量的高介电材料为钻孔量测方法，属于图像分析技术领域，该量测方法具体步骤如下：(1)将有机材料进行固定并进行荧光激发；(2)摄像头对有机材料进行监测采集；(3)对采集到的图像信息进行分析判断；(4)对各组数据进行分布式存...
该专利属于古全钧所有，仅供学习研究参考，未经过古全钧授权不得商用。

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