一种光学晶体加工的样品台制造技术

本实用新型专利技术公开了一种光学晶体加工的样品台，涉及光学晶体分析装置技术领域。本实用新型专利技术包括基座，基座的上表面凹陷有凹腔，凹腔内衬设有导电材质的盒体，盒体内放置有片状的光学晶体；基座的底侧面设置有支柱，位于基座正下方设置有一底座，底座上表面设置有轴承槽、且轴承槽内安装有轴承，支柱与轴承连接。本实用新型专利技术通过基座下方可转动的连接有底座，实现在使用过程中对载有样品的基座进行转动。现在使用过程中对载有样品的基座进行转动。现在使用过程中对载有样品的基座进行转动。

【技术实现步骤摘要】
一种光学晶体加工的样品台


[0001]本技术属于光学晶体分析装置
，特别是涉及一种光学晶体加工的样品台。

技术介绍

[0002]对样品进行微观形貌观测，是材料性能检测的重要手段。目前最常用于微观形貌观测的手段是扫描电镜(SEM)，其具有在几百至数十万的放大倍数下，对试样表面的微结构进行直观成像的能力。配合X射线能谱仪，还可以对试样同时进行显微形貌观察和微区成分分析。因此扫描电镜是科研、生产工作中非常活跃的分析仪器。
[0003]最常用的是厂家直接配备的普通样品台，此种普通样品台不能够对式样进行旋转等操作，尤其是对于结构与方向差距较大的式样在进行测试时，不同的方向所研究出的结论是不同的，而更换检测方向需要多次更换方向进行多次分析，增加了实验分析的复杂程度。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种光学晶体加工的样品台，通过基座下方可转动的连接有底座，实现在使用过程中对载有样品的基座进行转动，解决了上述
技术介绍
提出的问题。
[0005]为解决上述技术问题，本技术是通过以下技术方案实现的：
[0006]本技术为一种光学晶体加工的样品台，包括基座，所述基座的上表面凹陷有凹腔，所述凹腔内衬设有导电材质的盒体，所述盒体内放置有片状的光学晶体；所述基座的底侧面设置有支柱，位于所述基座正下方设置有一底座，所述底座上表面设置有轴承槽、且所述轴承槽内安装有轴承，所述支柱与轴承连接。
[0007]作为本技术的一种优选技术方案，位于所述支柱周侧的基座底侧面设置有至少一凹槽，所述凹槽内设置有微型伸缩电机，所述微型伸缩电机的端部设置有沿底座上表面滑动的摩擦块；所述底座上表面设置有摩擦块配合的摩擦环，所述摩擦环和摩擦块的相对面均为一粗糙面。
[0008]作为本技术的一种优选技术方案，所述凹腔上配合设置有用于对光学晶体进行夹持的夹持件；所述夹持件包括一搭接在凹腔上方的环体A，所述环体A中心处凹陷有凸沿，所述凸沿的端部连接有一金属网，所述金属网的的网格的边沿经过圆角处理。
[0009]作为本技术的一种优选技术方案，所述凹腔上配合设置有用于配合夹持件的定位件；所述定位件包括一搭接在凹腔上方的环体B，所述环体B的内侧壁设置有抵靠在所述凹腔内侧壁的凸环，所述环体B远离凹腔的一侧面设置至少三个定位柱，所述环体A上设置有与定位柱配合的定位孔组。
[0010]作为本技术的一种优选技术方案，所述定位孔组至少包括两个通孔，所述通孔的孔径依次增大；所述定位柱为一圆台状结构；且所述定位柱最大端和最小端的外径分
别为D1和D2；则所述定位孔组中最大通孔的孔径为D1
’
，最小通孔的孔径为D2
’
；则D1
’
＜D1，D2
’
＞D2。
[0011]更进一步地，所述定位孔组包括5个通孔，5个通孔的内径分别为0.55cm、0.5cm、0.45cm、0.4cm、0.35cm；则定位柱最大端和最小端的外径分别为0.6cm、0.3cm。
[0012]作为本技术的一种优选技术方案，所述盒体为金属钼材质；所述底座底部设置有用于与扫描电镜进样机构相配合的燕尾槽。
[0013]本技术具有以下有益效果：
[0014]本技术通过基座下方可转动的连接有底座，实现在使用过程中对载有样品的基座进行转动。
[0015]当然，实施本技术的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017]图1为本技术样品台结构示意图；
[0018]图2为本技术样品台部分结构示意图；
[0019]图3为图2的主视图；
[0020]图4为图3中A
‑
A处剖面图；
[0021]图5为本技术夹持件结构示意图；
[0022]图6为本技术定位件结构示意图。
具体实施方式
[0023]实施例1，如图2
‑
4所示；
[0024]一种光学晶体加工的样品台，包括基座1，基座1的上表面凹陷有凹腔11，凹腔11内衬设有导电材质的盒体12，盒体12内放置有片状的光学晶体4；基座1的底侧面设置有支柱17，位于基座1正下方设置有一底座10，底座10上表面设置有轴承槽、且轴承槽内安装有轴承14，支柱17与轴承14连接；使用时将片状的光学晶体4放置到盒体12内，转动基座1即可。
[0025]位于支柱17周侧的基座1底侧面设置有至少一凹槽18，凹槽18内设置有微型伸缩电机15，微型伸缩电机15的端部设置有沿底座10上表面滑动的摩擦块16；底座10上表面设置有摩擦块16配合的摩擦环13，摩擦环13和摩擦块16的相对面均为一粗糙面；通过摩擦环13和摩擦块16的设置，方便对转动后的基座1进行限位。
[0026]实施例2，在实施例1的基础上，如图1和4所示，凹腔11上配合设置有用于对光学晶体4进行夹持的夹持件3；夹持件3包括一搭接在凹腔11上方的环体A31，环体A31中心处凹陷有凸沿32，凸沿32的端部连接有一金属网33，金属网33的的网格的边沿经过圆角处理；利用夹持件3对放置在盒体12内的片状的光学晶体4进行夹持。
[0027]实施例2，在实施例2的基础上，如图1和5所示，凹腔11上配合设置有用于配合夹持件3的定位件2；定位件2包括一搭接在凹腔11上方的环体B21，环体B21的内侧壁设置有抵靠
在凹腔11内侧壁的凸环23，环体B21远离凹腔11的一侧面设置至少三个定位柱22，环体A31上设置有与定位柱22配合的定位孔组34，通过定位件2的设置，方便夹持件3的安放
[0028]定位孔组34包括5个通孔，5个通孔的内径分别为0.55cm、0.5cm、0.45cm、0.4cm、0.35cm；则定位柱22最大端和最小端的外径分别为0.6cm、0.3cm；方便控制定位柱22插入不同的通孔满足不同厚度的光学晶体4夹持需求。
[0029]盒体12为金属钼材质；底座10底部设置有用于与扫描电镜进样机构相配合的燕尾槽。
[0030]在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“示例”、“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本技术的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
[0031]以上公开的本技术优选实施例只是用于帮助阐述本技术。优选实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该技术仅为所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学晶体加工的样品台，其特征在于：包括基座(1)，所述基座(1)的上表面凹陷有凹腔(11)，所述凹腔(11)内衬设有导电材质的盒体(12)，所述盒体(12)内放置有片状的光学晶体(4)；所述基座(1)的底侧面设置有支柱(17)，位于所述基座(1)正下方设置有一底座(10)，所述底座(10)上表面设置有轴承槽、且所述轴承槽内安装有轴承(14)，所述支柱(17)与轴承(14)连接。2.根据权利要求1所述的一种光学晶体加工的样品台，其特征在于，位于所述支柱(17)周侧的基座(1)底侧面设置有至少一凹槽(18)，所述凹槽(18)内设置有微型伸缩电机(15)，所述微型伸缩电机(15)的端部设置有沿底座(10)上表面滑动的摩擦块(16)。3.根据权利要求2所述的一种光学晶体加工的样品台，其特征在于，所述底座(10)上表面设置有摩擦块(16)配合的摩擦环(13)，所述摩擦环(13)和摩擦块(16)的相对面均为一粗糙面。4.根据权利要求1所述的一种光学晶体加工的样品台，其特征在于，所述凹腔(11)上配合设置有用于对光学晶体(4)进行夹持的夹持件(3)；所述夹持件(3)包括一搭接在凹腔(11)上方的环体A(31)，所述环体A(31)中心处凹陷有凸沿(32)，所述凸沿(32)的端部连接有一金属网(33)。5.根据权利要求4所述的一种光学晶体加工的样品台，其特征在于，所述金属网(33)的网格的边沿经过圆角处理。6.根据权利要求4所述的一种光学晶体加工的样品台，...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋学瑞，
申请(专利权)人：合肥先端晶体科技有限责任公司，
类型：新型
国别省市：