一种磁场环境下的动态力学分析测试方法技术

本发明专利技术公开一种磁场环境下的动态力学分析测试方法，包括以下步骤：校准仪器：对动态力学分析仪及其附带的夹具进行校准；组装：先组装辅助所述动态力学分析仪的模具，将待测样品贯穿所述模具固定安装到与所述动态力学分析仪所附带的夹具上；测试：通过所述动态力学分析仪对所述待测样品提供测试环境，并开始测试。本发明专利技术能够实现对磁性材料在不同温度、应变等条件下的动态力学性能参数的测试。变等条件下的动态力学性能参数的测试。变等条件下的动态力学性能参数的测试。

【技术实现步骤摘要】
一种磁场环境下的动态力学分析测试方法


[0001]本专利技术涉及材料动态力学性能测试领域，特别是涉及一种磁场环境下的动态力学分析测试方法。

技术介绍

[0002]动态力学分析测试是通过对样品施加正弦的应力来测量所施力产生的应变并将二者相位差转换为力学参数的方法，其通常用于测量材料的粘弹性力学性能及模量与温度和频率之间的关系。它是一种对流动、弛豫行为极其敏感的探测手段。
[0003]材料的弛豫行为与其微观结构息息相关，即与材料内部的原子平移运动有关。对于粘弹性材料，在外界因素(温度、应力、频率等)的影响下会出现不同的弛豫行为，如α弛豫和β弛豫。就磁性材料而言，其内部的磁性原子或团簇会受到磁场的影响而发生改变，即可能导致不同的弛豫行为。但就目前而言，还不能实现磁场环境下的动态力学分析测试，无法确定磁相互作用对弛豫行为的影响。以及目前薄膜样品的高低温磁场拉伸设备也寥寥无几。
[0004]基于上述情况，本专利首次提出采用定制模具搭配耐高温磁环的方法对动态力学分析仪添加磁场测试环境，以此测试磁性材料在不同温度、应变等条件下的动态力学性能参数。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是提供一种磁场环境下的动态力学分析测试方法，以解决上述现有技术存在的问题，能够实现对磁性材料在不同温度、应变等条件下的动态力学性能参数的测试。
[0006]为实现上述目的，本专利技术提供了如下方案：
[0007]一种磁场环境下的动态力学分析测试方法，包括以下步骤：
[0008]校准仪器：对动态力学分析仪及其附带的夹具进行校准；
[0009]组装：先组装辅助所述动态力学分析仪的模具，将待测样品贯穿所述模具并固定安装到所述动态力学分析仪所附带的夹具上；
[0010]测试：通过所述动态力学分析仪对所述待测样品提供测试环境，并开始测试。
[0011]优选的，所述模具包括两个夹块；两个所述夹块相对的侧面中部分别开设有开放式的凹槽；两个所述凹槽内相抵触有磁环；两个所述夹块两端分别通过螺栓进行紧固。
[0012]优选的，所述测试环境包括对所述待测样品施加的振幅、频率以及测试温度。
[0013]优选的，所述动态力学分析仪的控制电脑对所述待测样品施加的振幅、频率以及测试温度通过软件进行控制。
[0014]优选的，所述磁环为600℃下不会退磁的Sm2Co
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强磁铁，所述磁环外径为5mm
‑
12mm，内径为2mm
‑
10mm，高度为5mm
‑
10mm。
[0015]优选的，所述待测样品选用薄膜样品。
[0016]优选的，所述夹块为2520不锈钢加工制成；所述凹槽直径为5mm
‑
12.5mm。
[0017]本专利技术具有如下技术效果：
[0018]本专利技术实现了磁场条件下的动态力学性能测试。本专利技术通过模具搭配磁环的方法测试不同样品在磁场环境下的力学性能，方法简单，易于操作，时间成本，经济成本都比较低廉。本专利技术是在传统的动态力学分析测试过程中加入磁场装置，方法简单，便于操作。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0020]图1为本专利技术主视结构示意图。
[0021]图2为夹具和模具侧视结构示意图。
[0022]图3为模具侧视结构示意图。
[0023]图4为磁性的待测样品Fe
30
Ni
42
Si
4.8
B
19.2
Nb4在无磁场环境与磁场环境下的损耗模量随温度变化关系曲线对比图。
[0024]图5为磁性的待测样品Fe
30
Ni
42
Si
4.8
B
19.2
Nb4在无磁场环境与磁场环境下的弹性模量随温度变化关系曲线对比图。
[0025]图6为无磁性的待测样品Ni
72
Si
4.8
B
19.2
Nb4在无磁场环境与磁场环境下的损耗模量随温度变化关系曲线对比图。
[0026]图7为无磁性的待测样品Ni
72
Si
4.8
B
19.2
Nb4在无磁场环境与磁场环境下的弹性模量随温度变化关系曲线对比图。
[0027]其中，1、动态力学分析仪；11、夹具；12、控制电脑；2、模具；21、夹块；22、凹槽；23、磁环；3、待测样品。
具体实施方式
[0028]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0029]为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步详细的说明。
[0030]一种磁场环境下的动态力学分析测试方法，包括以下步骤：
[0031]校准仪器：对动态力学分析仪1及其附带的夹具11进行校准；
[0032]组装：先组装辅助动态力学分析仪1的模具2，将待测样品3贯穿模具2并固定安装到动态力学分析仪1所附带的夹具11上；
[0033]测试：通过动态力学分析仪1对待测样品3提供测试环境，并开始测试。
[0034]进一步优化方案，所述模具2包括两个夹块21；两个所述夹块21相对的侧面中部分别开设有开放式的凹槽22；两个所述凹槽22内相抵触有磁环23；两个所述夹块21两端分别
通过螺栓进行紧固。
[0035]进一步优化方案，所述测试环境包括对所述待测样品3施加的振幅、频率以及测试温度。
[0036]进一步优化方案，所述动态力学分析仪1的控制电脑12对所述待测样品3施加的振幅、频率以及测试温度通过软件进行控制。
[0037]进一步优化方案，所述磁环23为600℃下不会退磁的Sm2Co
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强磁铁，所述磁环23外径5mm
‑
12mm，内径2mm
‑
10mm，高度5mm
‑
10mm。
[0038]进一步优化方案，所述待测样品3选用薄膜样品。
[0039]进一步优化方案，所述夹块21为2520不锈钢加工制成；所述凹槽22直径为5mm
‑
12.5mm。
[0040]首先，开启动态力学分析仪1，通过设备自带的电脑和软件“TRIOS”与设备进行联机，在不放置夹具11的情况下对动态力学分析仪1进行位置校准以及仪器校准本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种磁场环境下的动态力学分析测试方法，其特征在于，包括以下步骤：校准仪器：对动态力学分析仪(1)及其附带的夹具(11)进行校准；组装：先组装辅助所述动态力学分析仪(1)的模具(2)，将待测样品(3)贯穿所述模具(2)并固定安装到所述动态力学分析仪(1)所附带的夹具(11)上；测试：通过所述动态力学分析仪(1)对所述待测样品(3)提供测试环境，并开始测试。2.根据权利要求1所述的磁场环境下的动态力学分析测试方法，其特征在于：所述模具(2)包括两个夹块(21)；两个所述夹块(21)相对的侧面中部分别开设有开放式的凹槽(22)；两个所述凹槽(22)内相抵触有磁环(23)；两个所述夹块(21)两端分别通过螺栓进行紧固。3.根据权利要求1所述的磁场环境下的动态力学分析测试方法，其特征在于：所述测试环境包括对所述待测样品(3)施加的振幅、频率以及测试温度。4.根据权利要求3所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨立强，黄波，耿川，王庆，易军，贾延东，王刚，
申请(专利权)人：上海大学，
类型：发明
国别省市：