用于键盘测试的变距结构以及键盘测试设备制造技术

本申请涉及一种用于键盘测试的变距结构以及键盘测试设备，属于键盘按键测试设备领域。所述的用于键盘测试的变距结构，包括：底座；多个检测模组，沿第一方向间隔设置，所述检测模组可活动地连接于所述底座，每个所述检测模组均包括第一驱动件和检测件，所述第一驱动件用于驱动所述检测件沿第二方向移动，以使所述检测件按压键盘的按键，所述第二方向垂直于所述第一方向；变距模组，用于移动所述多个检测模组中至少一者沿所述第一方向移动，以调整相邻的两个所述检测模组之间的距离。相邻的两个所述检测模组之间的距离。相邻的两个所述检测模组之间的距离。

【技术实现步骤摘要】
用于键盘测试的变距结构以及键盘测试设备


[0001]本申请涉及键盘按键测试设备领域，具体而言，涉及用于键盘测试的变距结构以及键盘测试设备。

技术介绍

[0002]键盘通常包括一个壳体，壳体上设置有多个按键，使用者将按键按下，即可在智能设备输入相应的信息，随着相关技术的发展，目前出现了具有压力感应的键盘，具有压力感应的键盘好传统的键盘的区别在于，传统的键盘在按下键盘时，在键程的范围内只能输入一种信息，而具有压力感应的键盘的键程范围内，随着使用者按压键盘的深度不同，按键对应的输入不同的信息，相比于传统的键盘增加了输入的信息量以及键盘的功能。
[0003]按键测试是键盘出厂必经的工艺流程，即通过按压键盘的按键，以测试键盘的每个按键是否正常工作，现有的按键测试设备功能较为单一，例如，部分按键测试设备只能测试单个按键，效率低下；部分按键测试设备又针对传统的键盘设计，无法兼具压力测试的功能，导致对具有压力感应的键盘的按键测试非常不便。

技术实现思路

[0004]本申请旨在提供一种用于键盘测试的变距结构以及键盘测试设备，能够同时对键盘的多个按键进行测试，并且能够对键盘进行压力测试。
[0005]本申请的实施例是这样实现的：
[0006]第一方面，本申请提出了一种用于键盘测试的变距结构，包括：底座；多个检测模组，沿第一方向间隔设置，所述检测模组可活动地连接于所述底座，每个所述检测模组均包括第一驱动件和检测件，所述第一驱动件用于驱动所述检测件沿第二方向移动，以使所述检测件按压键盘的按键，所述第二方向垂直于所述第一方向；变距模组，用于移动所述多个检测模组中至少一者沿所述第一方向移动，以调整相邻的两个所述检测模组之间的距离。
[0007]在上述方案中，所述检测件在所述第一驱动件的作用下沿所述第二方向移动，使得所述检测件能够按压所述键盘的按键，对所述按键进行压力测试，再有，同行或同列的所述按键的间距可能不同，通过所述变距模组调整相邻的所述检测模组之间的距离，使得各个所述检测件能够准确地对准对应的所述按键，使得所述多个检测模组能够同时对多个所述按键进行压力测试，一方面弥补了现有的按键测试设备效率低下的缺点，同时，兼具压力测试功能，能够满足具有压力感应的键盘的按键测试。
[0008]根据本申请的一些实施例，所述变距模组包括变距板和第二驱动件，所述变距板沿所述第二方向滑动连接于所述底座，所述变距板设有多个第一轨迹槽，所述多个检测模组与所述多个第一轨迹槽一一对应，每个所述检测模组与对应的所述第一轨迹槽滑动连接；第二驱动件用于驱动所述变距板相对于所述底座沿所述第二方向移动；其中，所述多个第一轨迹槽用于在所述第二驱动件驱动所述变距板沿所述第二方向移动时引导所述多个检测模组中至少一者相对于所述底座沿所述第一方向移动。
[0009]在上述方案中，所述变距板在所述第二驱动件的作用下相对所述底座沿所述第二方向移动，由于所述检测模组滑动连接于对应的所述第一轨迹槽，同时，所述检测模组的位移又受到所述底座的限制，即通过合理设置所述第一轨迹槽的延伸方向，当所述变距板移动时，由于所述第一轨迹槽的限位作用，所述第一轨迹槽对对应的所述检测模组产生使其沿所述第一方向移动的分力，实现调整所述检测模组的位置的目的，使得所述多个检测模足的所述检测件能够分别和对应的所述按键对准，即同时能够按压多个所述按键，提高了对键盘的测试效率。
[0010]根据本申请的一些实施例，所述多个第一轨迹槽包括至少一个第一槽段，所述第一槽段包括依次连接的第一槽段、第二槽段和第三槽段；所述第一槽段和所述第三槽段均为直线式槽段，所述第一槽段的延伸方向与所述第三槽段的延伸方向平行或共线或相交设置。
[0011]在上述方案中，所述第一槽段和所述第三槽段决定了所述检测模组在所述变距板移动至行程末端时，对应的所述检测模组相对所述底座的位置，所述第二槽段起到连接所述第一槽段和所述第三槽段的作用，同时，通过合理设置所述第一槽段、第二槽段和第三槽段的路径，三者共同配合，能够灵活设置所述检测模组相对所述底座的移动行程、速度、路径等移动参数，满足各种间距的所述按键的测试需求。
[0012]根据本申请的一些实施例，所述第一槽段的延伸方向与所述第一方向和所述第二方向均相交或者，所述第一槽段的延伸方向与所述第二方向平行设置。
[0013]在上述方案中，所述第一槽段相对所述底座的延伸方向也决定了所述变距板移动时，所述检测模块相对于所述底座的移动参数，通过合理设置所述第一槽段的延伸方向能够调整所述检测模组相对所述底座的移动参数。
[0014]根据本申请的一些实施例，所述多个第一轨迹槽还包括至少一个第二槽段，所述第二槽段为直线槽，所述第二槽段的延伸方向与所述第二方向平行，或，所述第二槽段的延伸方向与所述第二方向和所述第一方向均相交。
[0015]在上述方案中，所述第二槽段起到连接所述第一槽段和所述第三槽段的作用，所述第二槽段可以根据情况设置多个，同时，相邻的所述第二槽段之间的夹角、长度等参数可以根据实际情况灵活设置。
[0016]根据本申请的一些实施例，所述变距模组还包括：滑轨，设置于所述底座；垫块，设置于所述滑轨与所述底座之间，以调整所述滑轨与所述底座之间的间距；滑块，滑动连接于所述滑轨，所述变距板连接于所述滑块。
[0017]在上述方案中，所述滑块和所述滑轨滑动连接，实现将所述变距板滑动连接于所述底座的目的。
[0018]根据本申请的一些实施例，所述变距模组包括变距辊和第三驱动件，所述变距辊转动设置于所述底座，所述变距辊的轴线沿所述第一方向延伸，所述变距辊的外周面上沿所述变距辊的周向设有多个第二轨迹槽，所述多个第二轨迹槽沿所述变距辊的轴向间隔设置，所述多个检测模组与所述多个第二轨迹槽一一对应，每个所述检测模组与对应的所述第二轨迹槽滑动连接；第三驱动件用于驱动所述变距辊旋转；其中，所述多个第二轨迹槽用于在所述第三驱动件驱动所述变距辊旋转时引导所述多个检测模组中至少一者相对于所述底座沿所述第一方向移动。
[0019]在上述方案中，给出了所述变距模组的另一种设置方式，即在所述变距辊的外周面间隔设置多个所述第二轨迹槽，由于所述检测模组相对于所述变距辊的轴线距离不变，当所述检测模组旋转过程中，由于所述第二轨迹槽的路径变化，所述检测模组在所述变距辊的轴线上的投影的位置会发生改变，即所述检测模组沿所述第一方向移动。
[0020]根据本申请的一些实施例，所述检测模组包括本体和配合部，所述检测件沿所述第二方向可滑动地设置于所述本体，所述第一驱动件安装于所述本体，所述配合部转动设置于所述本体，所述配合部的转动轴线沿第三方向延伸，所述第三方向垂直于所述第一方向和所述第二方向，所述配合部用于与对应的轨迹槽配合。
[0021]在上述方案中，由于对应的所述检测模组通过所述配合部与对应的所述轨迹槽配合，而所述配合部与所述本体之间转动连接，使得所述配合部与所述轨迹槽之间的滚动摩擦，降低了所述配合部与所述轨迹槽之间的摩擦力，使得所述检测模组移本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于键盘测试的变距结构，其特征在于，包括：底座；多个检测模组，沿第一方向间隔设置，所述检测模组可活动地连接于所述底座，每个所述检测模组均包括第一驱动件和检测件，所述第一驱动件用于驱动所述检测件沿第二方向移动，以使所述检测件按压键盘的按键，所述第二方向垂直于所述第一方向；变距模组，用于移动所述多个检测模组中至少一者沿所述第一方向移动，以调整相邻的两个所述检测模组之间的距离。2.根据权利要求1所述的用于键盘测试的变距结构，其特征在于，所述变距模组包括变距板和第二驱动件，所述变距板沿所述第二方向滑动连接于所述底座，所述变距板设有多个第一轨迹槽，所述多个检测模组与所述多个第一轨迹槽一一对应，每个所述检测模组与对应的所述第一轨迹槽滑动连接；第二驱动件用于驱动所述变距板相对于所述底座沿所述第二方向移动；其中，所述多个第一轨迹槽用于在所述第二驱动件驱动所述变距板沿所述第二方向移动时引导所述多个检测模组中至少一者相对于所述底座沿所述第一方向移动。3.根据权利要求2所述的用于键盘测试的变距结构，其特征在于所述多个第一轨迹槽包括至少一个第一槽段，所述第一槽段包括依次连接的第一槽段、第二槽段和第三槽段；所述第一槽段和所述第三槽段均为直线式槽段，所述第一槽段的延伸方向与所述第三槽段的延伸方向平行或共线或相交设置。4.根据权利要求3所述的用于键盘测试的变距结构，其特征在于，所述第一槽段的延伸方向与所述第一方向和所述第二方向均相交。5.根据权利要求3所述的用于键盘测试的变距结构，其特征在于，所述第一槽段的延伸方向与所述第二方向平行设置。6.根据权利要求3所述的用于键盘测试的变距结构，其特征在于，所述多个第一轨迹槽还包括至少一个第二槽段，所述第二槽段为直线槽，所述第二槽段的延伸方向与所述第二方向平行，或，所述第二槽段的延伸方向与所述第二方向和所述第一方向均相交。7.根据权利要求2所述的用于键盘测试的变距结构，其特征在于，所述变距模组还包括：滑轨，设置于所述底座；垫块，设置于所述滑轨与所述底座之间，以调整所述滑轨与所述底座之间的间距；滑块，滑动连接于所述滑轨，所述变距板连接于所述滑块。8.根据权利要求1所述的用于键盘测试的变距结构，其特征在于，所述变距模组包括变距辊和第...

【专利技术属性】
技术研发人员：李泽峰，魏新，杨朴，孙淑萍，
申请(专利权)人：湃瑞电子科技苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：