一种测试机(10；10')包括：底座(12)；至少一对立柱(14)，该至少一对立柱连结到底座(12)；以及横向载头(16)，该横向载头在与底座(12)间隔开的位置连结到立柱(14)。设置有至少一对试样固持器(20A，20B)。第一试样固持器(20A)是由横向载头(16)支撑的并且面向底座(12)，并且第二试样固持器(20B)是由底座(12)支撑的，底座(12)是连结到多个立柱(14)中的每一个立柱的、最靠近横向载头(16)的那个部分。致动器(22)串联连接在试样固持器(20A，20B)中的一个试样固持器与对应的底座(12)或横向载头(16)之间。托架组件(30；56；80)在沿着每个立柱(14)的长度在底座(12)与横向载头(16)之间的某个位置连接到多个立柱(14)中的每一个立柱，托架组件(30；56；80)横跨在立柱(14)之间，以便将立柱(14)连接在一起或者将立柱连接到底座(12)或横向载头(16)。底座(12)或横向载头(16)。底座(12)或横向载头(16)。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】具有立柱托架的测试系统
技术介绍
[0001]下文的讨论仅仅是针对一般的背景信息而提供的，不旨在用于帮助确定所要求保护的主题的范围。
[0002]通过采取测试试样并使用致动器施加拉伸载荷和/或压缩载荷和/或位移来对材料和/或部件进行物理测试是众所周知的。通常，拉伸载荷和压缩载荷是在选定的频率下以交替的方式施加到测试试样或者在恒定的位移或幅值下通过一系列频率施加到测试试样的。在(比如以这种测试形式存在的)谐波运动中，致动器的移动部件、试样夹具等的加速度与位移量乘以频率的平方成比例。因此，即使幅值很小(例如0.06mm)，加速度在较高频率(例如700至1000赫兹)下也可能会非常大。
[0003]因此，随着频率的增加，与移动部件的质量乘以加速度成比例的力也随着频率的平方而增加。此外，这个力必须被测试系统的结构反作用，这将引起测试系统中的模态的激发。
[0004]常见的测试机包括具有底座，该底座具有直立立柱，这些直立立柱将横向载头支撑在底座上方。第一试样夹具通过力传感器联接到横向载头，而第二试样夹具使用致动器联接到底座；然而，致动器和力传感器的位置可以颠倒。
[0005]由于动态力很大，操作期间可能会出现振动。一种被证明不利于测试的振动模态是在横向载头、底座和立柱的箱状构造中激发的“箱体模态”。此模态是不利的，因为这些模态导致力传感器(和/或位移传感器)上下移动，这会引起其对应的(多个)输出信号的误差。
技术实现思路
[0006]提供了本
技术实现思路
是为了以简化的形式介绍一些概念，这些概念在下面的具体实施方式中进一步描述。本
技术实现思路
不打算定义本专利技术的关键特征、必要特征或所有特征。附加地，本文提供的描述和所要求保护的主题不应被解释为旨在解决
技术介绍
中讨论的任何缺点。
[0007]一种测试机包括：底座；至少一对立柱，该至少一对立柱连结到底座；以及横向载头，该横向载头在与底座间隔开的位置处连结到立柱。设置有至少一对试样固持器。第一试样固持器是由横向载头支撑的并且面向底座，并且第二试样固持器是由底座支撑的，底座是连结到立柱中的每一个立柱的、最靠近横向载头的那个部分。致动器串联连接在多个试样固持器中的一个试样固持器与对应的底座或横向载头之间。托架连接到多个立柱中的每一个立柱并且横跨在立柱之间，托架沿着每一个立柱的长度在底座与横向载头之间的某个位置处连接到每一个立柱。
[0008]实施例可以包括以下特征中的一个或多个。托架可以在多个不同的位置处连接到多个立柱中的每一个立柱。在第一实施例中，托架在试样固持器的彼此远离的端部之间连接到多个立柱中的每一个立柱，而在另一个实施例中，可以优选的是，托架在试样固持器的最靠近彼此的端部之间连接到多个立柱中的每一个立柱。
[0009]一些优选的范围包括将被连接到多个立柱中的每一个立柱的托架定位在范围为
试样固持器的最靠近彼此的端部之间的距离的约25％到75％的位置。在另外的实施例中，托架在范围为试样固持器的最靠近彼此的端部之间的距离的约40％到60％的位置连接到多个立柱中的每一个立柱。托架还可以在试样固持器的最靠近彼此的端部之间的距离的约50％处连接到多个立柱中的每一个立柱。
[0010]每个立柱包括轴线，并且托架可以包括沿立柱之间的与具有两个立柱的轴线的平面平行的平面延伸的部分。在托架的每个端部的部分沿每个立柱的二等分平面连结到每个相应立柱的外表面的相反两侧，二等分平面法向于在立柱之间延伸的平面。托架可以包括孔口，试样固持器之间的轴线能延伸穿过该孔口。如果期望，则托架可以包括限定孔口的一部分的可移除部分，从而允许在没有沿立柱移除或移动托架的情况下容易地插入和移除测试试样。
[0011]典型地，测试机包括至少一对立柱，但还可以包括更多的立柱，比如四个立柱。在多于两个立柱的情况下，第二托架可以连接在与第一托架相连接的立柱不同的两个立柱之间，第二托架至少沿着相应立柱中的每一个立柱的长度的位置在试样固持器的彼此远离的端部之间连接到相应立柱中的每一个立柱。根据立柱的数量，测试机可以包括第三托架和第四托架，托架、第二托架、第三托架、以及第四托架各自连接环绕一外周的相邻的立柱，该外周环绕在试样固持器之间延伸的轴线。
[0012]立柱可以延伸穿过底座。在这种实施例中，立柱的、在底座的远离横向载头的一侧上的端部被连结在一起。同样，立柱可以延伸穿过横向载头，其中，立柱的、在横向载头的远离底座的一侧上的端部被连结在一起。
[0013]测试机还包括：底座；至少一对立柱，该至少一对立柱连结到底座；横向载头，该横向载头在与底座间隔开的位置连结到立柱；至少一对试样固持器，其中，第一试样固持器是由横向载头支撑的并且面向底座，并且第二试样固持器是由底座支撑的，底座是连结到多个立柱中的每一个立柱的、最靠近横向载头的那个部分；致动器，该致动器串联连接在多个试样固持器中的一个试样固持器与对应的底座或横向载头之间；
[0014]一种测试机包括：底座；至少一对立柱，该至少一对立柱连结到底座；以及横向载头，该横向载头在与底座间隔开的位置处连结到立柱。设置有至少一对试样固持器。第一试样固持器是由横向载头支撑的并且面向底座，并且第二试样固持器是由底座支撑的，底座是连结到多个立柱中的每一个立柱的、最靠近横向载头的那个部分。致动器串联连接在多个试样固持器中的一个试样固持器与对应的底座或横向载头之间。托架组件在底座与横向载头之间沿着每个立柱的长度的位置处连接到多个立柱中的每一个立柱，托架组件横跨在立柱之间，以便将立柱连接在一起或将立柱连接到底座或横向载头。在第一实施例中，托架在与底座和横向载头间隔开的位置处连接到立柱并且横跨在立柱之间。附加地或可替代地，托架组件可以包括连接到每个立柱的角撑，其中，角撑的第一端部连接到立柱，并且第二端部连接到底座或横向载头。
附图说明
[0015]图1是测试机的侧面立视图。
[0016]图2是测试机的一部分的放大视图。
[0017]图3是测试机的一部分的立体图。
[0018]图4是测试机的沿图3中的剖切线IV—IV截取的截面视图。
[0019]图5是在没有立柱托架的情况下，测试机在选定的频率下变形的图形展示。
[0020]图6是在有立柱托架的情况下，测试机在选定频率下变形的图形展示。
[0021]图7展示了不同长度的试样的箱体模态共振频率。
[0022]图8是展示了立柱托架的示意图。
具体实施方式
[0023]图1中展示了用于将力或运动施加到测试试样(未展示)的测试机10的示意图。测试机包括框架11，该框架具有底座12、从底座12向上延伸的一对立柱14、以及在与底座12间隔开的位置将这两个立柱14连结的横向载头16。设置有至少一对试样固持器20A、20B。第一试样固持器20A由横向载头16支撑并且朝底座12延伸。第二试样固持器20B由底座12支撑并且朝横向载头16延伸。应当注意，底座12是测试机10的连结到多个立柱14中的每一个立柱的、最靠近横向载头16的那个部分。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种测试机，包括：底座；至少一对立柱，所述至少一对立柱连结到所述底座；横向载头，所述横向载头在与所述底座间隔开的位置连结到所述立柱；至少一对试样固持器，其中，第一试样固持器是由所述横向载头支撑的并且面向所述底座，并且第二试样固持器是由所述底座支撑的，所述底座是连结到所述立柱中的每一个立柱的、最靠近所述横向载头的那个部分；致动器，所述致动器串联连接在所述至少一对试样固持器中的一个试样固持器与对应的底座或横向载头之间；以及托架，所述托架连接到所述至少一对立柱中的每一个立柱并且横跨在所述立柱之间，所述托架在沿着立柱中的每一个立柱的长度在所述底座与所述横向载头之间的某个位置处连接到所述至少一对立柱中的每一个立柱。2.如权利要求1所述的测试机，其中，所述托架在所述试样固持器的彼此远离的端部之间连接到所述至少一对立柱中的每一个立柱。3.如权利要求1至2中任一项所述的测试机，其中，所述托架在所述试样固持器的最靠近彼此的端部之间连接到所述至少一对立柱中的每一个立柱。4.如权利要求1至3中任一项所述的测试机，其中，所述托架在范围为所述试样固持器的最靠近彼此的端部之间的距离的约25％到75％的位置处连接到所述至少一对立柱中的每一个立柱。5.如权利要求4所述的测试机，其中，所述托架在范围为所述试样固持器的最靠近彼此的端部之间的距离的约40％到60％的位置处连接到所述至少一对立柱中的每一个立柱。6.如权利要求5所述的测试机，其中，所述托架在所述试样固持器的最靠近彼此的端部之间的距离的约50％处连接到所述至少一对立柱中的每一个立柱。7.如权利要求1至6中任一项所述的测试机，其中，每个立柱包括轴线，并且所述托架包括沿所述立柱之间的与具有两个立柱的所述轴线的平面平行的平面延伸的部分。8.如权利要求7所述的测试机，其中，在所述托架的每个端部的部分沿每个立柱的二等分平面连结到每个相应立柱的外表面的相反两侧，所述二等分平面法向于在所述立柱之间延伸的平面。9.如权利要求1至8中任一项所述的测试机，其中，所述托架包括孔口，所述试样固持器之间的轴线延伸穿过所述孔口。10.如权利要求9所述的测试机，其中，所述托架包括限定所述孔口的一部分的可移除部分。11.如权利要求1至10中任一项所述的测试机，其中，所述至少...
【专利技术属性】
技术研发人员：德米特里，
申请(专利权)人：MTS系统公司，
类型：发明
国别省市：
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