半导体方向检测及预热装置制造方法及图纸

技术编号:34852486 阅读:27 留言:0更新日期:2022-09-08 07:53
本发明专利技术公开了半导体方向检测及预热装置,其推料机构设置在底板的旁侧,检测机构的横梁上设有升降模块,升降模块上探针和顶针,探针孔与顶针孔油路连接;产品载具上设有上下导通的通孔,产品载具活动配合有横向挡块,横向挡块的首端伸入通孔,横向挡块的尾端能够被下降的顶针作用而横向位移,产品在通孔中并被横向挡块的首端阻挡。升降模块下降,如果产品上的定位孔加工方向错误或未加工时,探针被顶起,顶针沿顶针孔下降,使横向挡块横向位移,不再阻挡产品,产品在重力作用下下落,离开产品载具。本发明专利技术能够在探针判断产品是否合格时将不合格产品直接排出产品载具,利于工作效率的提升。升。升。

【技术实现步骤摘要】
半导体方向检测及预热装置


[0001]本专利技术涉及半导体检测,具体涉及开孔方向及是否开孔的检测设备。

技术介绍

[0002]引线框架作为集成电路的芯片载体,而引线框架是一种借助于键合材料(金丝、铝丝、铜丝)实现芯片内部电路引出端与外引线的电气连接,形成电气回路的关键结构件,它起到了和外部导线连接的桥梁作用,绝大部分的半导体集成块中都需要使用引线框架,是电子信息产业中重要的基础材料。
[0003]引线框架在制造过程中,为了方便后序工位正常工作,会在引线框上开设多个定位孔,同时,为了使芯片在封装时能够具有稳定的结构,需要对引线框架进行预热,而现有的定位孔在引线框架上方向的检测大都为人工手动检测,检测强度高,检测效率低,增加了生产成本,因此,需要有一种半导体方向检测及预热装置。
[0004]申请公布号为CN 114217196 A的专利文件公开了一种半导体方向检测及预热装置,包括底板、推料机构、检测机构和预热机构,所述推料机构、检测机构和预热机构自前至后依次布置,所述推料机构包括移动杆和托板,所述托板水平设置,所述托板的底部设置有升降组件,所述移动杆水平设置在托板的远离检测机构的一侧,本专利技术一种半导体方向检测及预热装置,其可以实现对产品的自动检测。
[0005]上述专利文件中,检测机构设有能够升降的第一探针和第二探针,对产品的方向进行检测时,第一探针和第二探针下降,插入产品上设置的定位孔内,当产品上的定位孔加工方向错误或未加工时,则第一探针被顶起并使第一传感器检测到信号,此时,则判定产品不合格,反之,第一传感器无法检测到信号,则判定产品合格。

技术实现思路

[0006]本专利技术所解决的技术问题:对现有技术进行改进,检测机构对产品的方向进行检测时,探针下降,插入产品上设置的定位孔内,当产品上的定位孔加工方向错误或未加工时,则探针被顶起,将探针顶起的产品不合格,该不合格产品能够被排出产品载具。
[0007]为解决上述技术问题,本专利技术提供如下技术方案:半导体方向检测及预热装置,包括底板、推料机构、检测机构和预热机构,推料机构设置在底板的旁侧,底板上设有对产品载具进行导向的导槽,检测机构包括第一横梁,第一横梁上设有能够升降的升降模块,升降模块上设有探针孔和顶针孔,探针孔内活动配合有探针,顶针孔内活动配合有顶针,探针孔与顶针孔油路连接;产品载具上设有上下导通的通孔,产品载具活动配合有横向挡块,横向挡块的首端能够伸入所述通孔,横向挡块的尾端能够被下降的顶针作用而横向位移,产品放置在所述通孔中并被横向挡块的首端阻挡。
[0008]产品载具上定位若干产品,产品载具放置在导槽中。推料机构推动产品载具,沿导槽位移的产品载具来到检测机构处。升降模块下降,如果产品上的定位孔加工方向错误或未加工时,则探针被顶起,上升的探针通过油路作用于顶针,顶针沿顶针孔下降,作用于横
向挡块的尾端,使横向挡块横向位移,横向挡块的首端退出通孔,不再阻挡产品,产品在重力作用下下落,离开产品载具。
[0009]如果产品上的定位孔加工方向正确,则探针不被顶起,顶针不会下降而驱动横向挡块,产品不会下落而离开产品载具。
[0010]之后,合格的产品留在产品载具上,向前来到预热机构,预热机构对产品进行预热。
[0011]本专利技术能够在探针判断产品是否合格时将不合格产品直接排出产品载具,利于工作效率的提升,利于产品质量得到保证。
附图说明
[0012]下面结合附图对本专利技术做进一步的说明:
[0013]图1为半导体方向检测及预热装置的示意图;
[0014]图2为俯视半导体方向检测及预热装置所得的示意图;
[0015]图3为推料机构将产品载具推至检测机构下方接受检测的示意图;
[0016]图4为图3的俯视图;
[0017]图5为推板63在第二丝杆机构的驱动下将产品载具移送至预热机构的示意图;
[0018]图6为图5的俯视图;
[0019]图7为图1中从左侧观察检测机构的升降模块32所得的示意图;
[0020]图8为在气缸的驱动下,升降模块32下降,探针33作用于不合格产品,引起顶针34作用于横向挡块52的示意图;
[0021]图9为图8中产品下落的示意图。
[0022]图中符号说明:
[0023]10、底板;11、导槽;12、承接板;
[0024]20、推料机构;21、第一丝杆机构;22、横板;23、推杆;24、电机;25、滑台;
[0025]30、检测机构;31、第一横梁;32、升降模块;33、探针;34、顶针;35、油路;36、复位弹簧;
[0026]40、预热机构;
[0027]50、产品载具;51、通孔;52、横向挡块;53、楔形孔;
[0028]60、第二丝杆机构;61、第二横梁;62、升降式气缸;63、推板;64、第一导向架;65、第二导向架;66、导轨;
[0029]70、产品。
具体实施方式
[0030]结合图1、图2、图7,半导体方向检测及预热装置,包括底板10、推料机构20、检测机构30和预热机构40,推料机构设置在底板的旁侧,底板上设有对产品载具进行导向的导槽11,检测机构包括第一横梁31,第一横梁上设有能够升降的升降模块32,升降模块上设有探针孔和顶针孔,探针孔内活动配合有探针33,顶针孔内活动配合有顶针34,探针孔与顶针孔油路35连接;产品载具50上设有上下导通的通孔51,产品载具活动配合有横向挡块52,横向挡块的首端能够伸入所述通孔,横向挡块的尾端能够被下降的顶针作用而横向位移,产品
放置在所述通孔中并被横向挡块的首端阻挡。
[0031]产品载具50上定位若干产品70,产品载具放置在导槽11中。推料机构20推动产品载具,沿导槽11位移的产品载具来到检测机构30处。升降模块32下降,如果产品70上的定位孔加工方向错误或未加工时,则探针33被顶起,参考图7至图9,上升的探针通过油路35作用于顶针34,顶针沿顶针孔下降,作用于横向挡块52的尾端,使横向挡块横向位移,横向挡块的首端退出通孔51,不再阻挡产品,产品在重力作用下下落,离开产品载具50。其中,第一横梁31上安装有气缸,升降模块32与气缸连接,在气缸的驱动下,升降模块下降或上升。底板10上设有承接板12,承接板位于升降模块32的正下方,且位于导槽11的下方,用于承接从产品载具50下落的不合格产品。
[0032]如果产品上的定位孔加工方向正确,则探针33不被顶起,顶针34不会下降而驱动横向挡块52,产品不会下落而离开产品载具50。之后,合格的产品留在产品载具上,向前来到预热机构40,预热机构对产品进行预热。作为一种选择,预热机构包括设置在底板10上的金属板块,金属板块位于导槽11的下方,通电后,金属板块发热,通过导槽11和产品载具50上的通孔51对产品进行预热。
[0033]结合图7、图8,横向挡块52的尾端设有楔形孔53,下降的顶针34的底端通过与楔形孔配合而本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.半导体方向检测及预热装置,包括底板(10)、推料机构(20)、检测机构(30)和预热机构(40),推料机构设置在底板的旁侧,底板上设有对产品载具进行导向的导槽(11),其特征在于:检测机构包括第一横梁(31),第一横梁上设有能够升降的升降模块(32),升降模块上设有探针孔和顶针孔,探针孔内活动配合有探针(33),顶针孔内活动配合有顶针(34),探针孔与顶针孔油路(35)连接;产品载具(50)上设有上下导通的通孔(51),产品载具活动配合有横向挡块(52),横向挡块的首端能够伸入所述通孔,横向挡块的尾端能够被下降的顶针作用而横向位移,产品放置在所述通孔中并被横向挡块的首端阻挡。2.如权利要求1所述的半导体方向检测及预热装置,其特征在于:横向挡块(52)的尾端设有楔形孔(53),下降的顶针(34)的底端...

【专利技术属性】
技术研发人员:林艺宾
申请(专利权)人:苏州工业园区浩高电子科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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