一种透镜优化方法、装置、设备及可读存储介质制造方法及图纸

技术编号:34848540 阅读:15 留言:0更新日期:2022-09-08 07:47
本发明专利技术提供了一种透镜优化方法、装置、设备及可读存储介质,涉及透镜优化技术领域,包括获取第一信息,所述第一信息包括采用透镜进行成像的待优化目标;根据所述第一信息和预设优化变量,对物点经所述透镜的成像进行优化处理,得到优化后的成像结果;根据优化后的所述成像结果,获取第二信息,所述第二信息包括筛选所述成像结果中符合所述优化目标的透镜参数值,所述物点经所述透镜成像的像面为像散小于预设阈值的像面。有益效果为使得优化后得到的透镜可以满足对各种像差尽可能小的需求,保证了透镜的成像质量,并且仅采用一片透镜,可以兼容便携性和低成本等优势。以兼容便携性和低成本等优势。以兼容便携性和低成本等优势。

【技术实现步骤摘要】
一种透镜优化方法、装置、设备及可读存储介质


[0001]本专利技术涉及透镜优化
,具体而言,涉及透镜优化方法、装置、设备及可读存储介质。

技术介绍

[0002]透镜的设计目标为尽可能的减少成像时的像差,现有VR设备的单片式透镜,例如采用菲涅尔透镜的设计方案,在该方案中,主要校正像差中的场曲和彗差,球差不能完全校正,并且菲涅尔透镜并没有解决场曲、像散等的设计优化问题,使得透镜的成像质量较低,难以达到用户的需求。
[0003]综上所述,现有的透镜,难以兼容较高的成像质量、便携性和低成本等优势。常用的仿真软件诸如FEKO、HFSS、ZEMAX等无法对透镜进行灵活、高效的仿真、优化设计,尤其是在高频段,对电大尺寸的透镜进行仿真、优化设计需要占用极大的内存资源。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种透镜优化方法、装置、设备及可读存储介质,以改善上述问题。为了实现上述目的,本专利技术采取的技术方案如下:
[0005]第一方面,本申请提供了一种透镜优化方法,包括:
[0006]获取第一信息,所述第一信息包括采用透镜进行成像的待优化目标;
[0007]根据所述第一信息和预设优化变量,对物点经所述透镜的成像进行优化处理,得到优化后的成像结果;
[0008]根据优化后的所述成像结果,获取第二信息,所述第二信息包括筛选所述成像结果中符合所述优化目标的透镜参数值,所述物点经所述透镜成像的像面为像散小于预设阈值的像面。
[0009]优选地,根据所述第一信息和预设优化变量,对物点经所述透镜的成像进行优化处理,得到优化后的成像结果,包括:
[0010]根据所述待优化目标和所述优化变量生成目标函数;
[0011]确定所述优化变量的初始值;
[0012]根据所述初始值和所述目标函数,获取第三信息,所述第三信息包括所述物点经所述透镜的成像结果;
[0013]根据所述成像结果与所述待优化目标的对比,调整所述初始值,并根据调整后的优化变量值和所述目标函数获取所述物点经所述透镜的成像结果,直到获取到成像结果符合所述优化目标的透镜参数值为止。
[0014]优选地,得到优化后的成像结果,其中包括:
[0015]对所述第一信息进行高斯波束的二维化处理;
[0016]利用矩量法,对二维化处理后的结果进行仿真分析所述透镜的聚焦效果;
[0017]采用射线追迹法,对所述透镜的曲线进行优化;
[0018]根据优化的结果,采用二维矩量法仿真分析验证所述透镜的聚焦效果。
[0019]优选地,获取第一信息,所述第一信息包括采用透镜进行成像的待优化目标,其中包括:
[0020]获取第一预设条件,所述第一预设条件包括待优化目标包括所述物点经所述透镜成像在所述像面上的光斑符合的条件;
[0021]所述物点经所述透镜成像的像差符合第二预设条件,其中,所述物点的光线包括红光、绿光和蓝光;
[0022]所述物点经所述透镜成像在所述像面上的光斑符合第一预设条件,包括以下一项或多项:所述物点成像在所述像面上的红光斑、绿光斑和蓝光斑的均方根半径小于第一半径值;
[0023]所述物点成像在所述像面上的红光斑、绿光斑和蓝光斑的几何根半径小于第二半径值,其中,所述像差包括:场曲、像散、畸变、色散、球差和慧差。
[0024]第二方面,本申请还提供了一种透镜优化装置,包括:
[0025]获取信息模块:用于获取第一信息,所述第一信息包括采用透镜进行成像的待优化目标;
[0026]处理模块:用于根据所述第一信息和预设优化变量,对物点经所述透镜的成像进行优化处理,得到优化后的成像结果;
[0027]筛选模块:用于根据优化后的所述成像结果,获取第二信息,所述第二信息包括筛选所述成像结果中符合所述优化目标的透镜参数值,所述物点经所述透镜成像的像面为像散小于预设阈值的像面。
[0028]第三方面,本申请还提供了一种透镜优化设备,包括:
[0029]存储器,用于存储计算机程序;
[0030]处理器,用于执行所述计算机程序时实现所述透镜优化方法的步骤。
[0031]第四方面,本申请还提供了一种可读存储介质,所述可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述基于透镜优化方法的步骤。
[0032]本专利技术的有益效果为:使得优化后得到的透镜可以满足对各种像差尽可能小的需求,保证了透镜的成像质量,并且仅采用一片透镜,可以兼容便携性和低成本等优势;并且提高了透镜的仿真、优化设计的效率,更加灵活和高效。
[0033]本专利技术的其他特征和优点将在随后的说明书阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本专利技术实施例了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
[0034]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0035]图1为本专利技术实施例中所述的透镜优化方法流程示意图;
[0036]图2为本专利技术实施例中所述的透镜优化装置结构示意图;
[0037]图3为本专利技术实施例中所述的透镜优化设备结构示意图。
[0038]图中:701、获取信息模块;7011、获取条件单元;7012、第一符合单元;7013、第二符合单元;7014、成像单元;702、处理模块;7021、生成函数单元;7022、确定单元;7023、获取单元;7024、调整单元;7025、处理单元;7026、分析单元;7027、优化单元;7028、验证单元;703、筛选模块;800、透镜优化设备;801、处理器;802、存储器;803、多媒体组件;804、I/O接口;805、通信组件。
具体实施方式
[0039]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此,以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围,而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。
[0040]应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时,在本专利技术的描述中,术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0041]实施例1本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种透镜优化方法,其特征在于,包括:获取第一信息,所述第一信息包括采用透镜进行成像的待优化目标;根据所述第一信息和预设优化变量,对物点经所述透镜的成像进行优化处理,得到优化后的成像结果;根据优化后的所述成像结果,获取第二信息,所述第二信息包括筛选所述成像结果中符合所述优化目标的透镜参数值,所述物点经所述透镜成像的像面为像散小于预设阈值的像面。2.根据权利要求1所述的透镜优化方法,其特征在于,所述根据所述第一信息和预设优化变量,对物点经所述透镜的成像进行优化处理,得到优化后的成像结果,包括:根据所述待优化目标和所述优化变量生成目标函数;确定所述优化变量的初始值;根据所述初始值和所述目标函数,获取第三信息,所述第三信息包括所述物点经所述透镜的成像结果;根据所述成像结果与所述待优化目标的对比,调整所述初始值,并根据调整后的优化变量值和所述目标函数获取所述物点经所述透镜的成像结果,直到获取到成像结果符合所述优化目标的透镜参数值为止。3.根据权利要求1所述的透镜优化方法,其特征在于,所述得到优化后的成像结果,其中包括:对所述第一信息进行高斯波束的二维化处理;利用矩量法,对二维化处理后的结果进行仿真分析所述透镜的聚焦效果;采用射线追迹法,对所述透镜的曲线进行优化;根据优化的结果,采用二维矩量法仿真分析验证所述透镜的聚焦效果。4.根据权利要求1所述的透镜优化方法,其特征在于,所述获取第一信息,所述第一信息包括采用透镜进行成像的待优化目标,其中包括:获取第一预设条件,所述第一预设条件包括待优化目标包括所述物点经所述透镜成像在所述像面上的光斑符合的条件;所述物点经所述透镜成像的像差符合第二预设条件,其中,所述物点的光线包括红光、绿光和蓝光;所述物点经所述透镜成像在所述像面上的光斑符合第一预设条件,包括以下一项或多项:所述物点成像在所述像面上的红光斑、绿光斑和蓝光斑的均方根半径小于第一半径值;所述物点成像在所述像面上的红光斑、绿光斑和蓝光斑的几何根半径小于第二半径值,其中,所述像差包括:场曲、像散、畸变、色散、球差和慧差。5.一种透镜优化装置,其特征在于,包括:获取信息模块:用于获取第一信息,所述第一信息包括采用透镜进行成像的待优化目标;处理模块:用于根据所述第一信息和预设优化变量,对物点经所述透镜的成像进行优化处理,得到优化后...

【专利技术属性】
技术研发人员:蔡小辉白佳委郑福哩乐宜萃张利伟周黎明汪大明
申请(专利权)人:安邦厦门生物科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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