【技术实现步骤摘要】
回转体器件全表面检测装置和方法
[0001]本专利技术涉及检测设备,尤其涉及回转体器件全表面检测装置和方法。
技术介绍
[0002]电子元件是电路的基本元素,为了确保电路的可靠性,需对电子元件进行检测。现有的检测采用人工手持检测探头进行检测,难以对电子元件进行全方位检测、且劳动强度大、检测精度低。
技术实现思路
[0003]为了解决现有的电子元件检测采用人工检测,难以实现全方位检测、劳动强度大、检测精度低的技术问题,本专利技术的目的在于提供回转体器件全表面检测装置。
[0004]本专利技术是通过以下技术方案实现的:
[0005]回转体器件全表面检测装置,包括:
[0006]机架;
[0007]平移机构,设置在所述机架上用于移送电子元件;
[0008]若干旋转夹持机构,设置在所述机架上并在所述平移机构的移送方向上间隔分布,各所述旋转夹持机构可夹持电子元件在水平面上转动,所述机架在所述平移机构的移送方向上依次设有若干检测工位,至少部分检测工位上设有所述旋转夹持机构;
[0009]若干表面检测机构,各所述表面检测机构分设在各检测工位旁;
[0010]上料机构,设置在所述机架上并位于所述平移机构输入端的一侧;
[0011]下料机构,设置在所述机架上并位于所述平移机构输出端的一侧;
[0012]分拣机构,设置在所述下料机构与所述平移机构之间。
[0013]如上所述的回转体器件全表面检测装置,所述旋转夹持机构包括第一动力机 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.回转体器件全表面检测装置,其特征在于,包括:机架;平移机构,设置在所述机架上用于移送电子元件;若干旋转夹持机构,设置在所述机架上并在所述平移机构的移送方向上间隔分布,各所述旋转夹持机构可夹持电子元件在水平面上转动,所述机架在所述平移机构的移送方向上依次设有若干检测工位,至少部分检测工位上设有所述旋转夹持机构;若干表面检测机构,各所述表面检测机构分设在各检测工位旁;上料机构,设置在所述机架上并位于所述平移机构输入端的一侧;下料机构,设置在所述机架上并位于所述平移机构输出端的一侧;分拣机构,设置在所述下料机构与所述平移机构之间。2.根据权利要求1所述的回转体器件全表面检测装置,其特征在于,所述旋转夹持机构包括第一动力机构、转盘、第二动力机构和旋转夹具,所述第一动力机构的输出端穿过所述机架连接在所述转盘上,所述第二动力机构设置在所述转盘上随所述转盘转动,所述旋转夹具包括两在所述第二动力机构的输出端上相对设置并在所述第二动力机构的驱动下移动靠近或远离的旋转夹头。3.根据权利要求2所述的回转体器件全表面检测装置,其特征在于,所述第二动力机构的输出端上设有第一导向件,所述第一导向件上与所述旋转夹具相对的端面开设有第一导向槽,各所述旋转夹头上设有至少部分嵌设于所述第一导向槽内并可沿所述第一导向槽移动的第二导向件;各所述旋转夹头上与相应的所述第二导向件相对的端面开设有第一限位槽,各所述第二导向件至少部分嵌设于对应的所述第一限位槽内;所述转盘上与所述第二动力机构相对的端面上开设有第二限位槽,所述第二动力机构至少部分嵌设于所述第二限位槽内;两所述旋转夹头中,任一所述旋转夹头上与另一所述旋转夹头相对的端面设有具有弹性的第一缓冲件,且任一所述旋转夹头上与另一所述旋转夹头相对的端面开设有供所述第一缓冲件嵌入的装配槽;所述转盘包括上下层叠设置的上转盘和下转盘,所述上转盘具有轴向延伸部和径向延伸部,其径向延伸部抵接在所述下转盘上,其轴向延伸部一端穿过所述下转盘与所述第一动力机构的输出端连接、另一端与所述第二动力机构连接,所述下转盘连接在所述机架上。4.根据权利要求1所述的快速平移回转式回转体器件全表面检测装置,其特征在于,所述平移机构至少包括夹持电子元件依次移动经过各所述旋转夹持机构以及各所述表面检测机构的平移夹持机构;所述平移机构还包括基座,所述基座上设有沿其长边方向移动的滑板,所述滑板在其移动方向上间隔设有若干平移夹持机构,各所述平移夹持机构随所述滑板移动依次经过各所述旋转夹持机构和各所述表面检测机构。5.根据权利要求4所述的快速平移回转式回转体器件全表面检测装置,其特征在于,所述平移夹持机构包括设置在所述滑板上的第三动力机构和两在所述第三动力机构的输出端上相对设置的平移夹头;所述第三动力机构的输出端上设有第三导向件,所述第三导向件上与所述平移夹头相
对的端面开设有第二导向槽,各所述平移夹头上设有至少部分嵌设于所述第二导向槽并可沿所述第二导向槽移动的第四导向件;两所述平移夹头中,任一所述平移夹头上与另一所述平移夹头相对的端面凹设有夹持缺口,各所述夹持缺口内嵌设有与其形状配合且具有弹性的第二缓冲件。6.根据权利要求1所述的快速平移回转式回转体器件全表面检测装置,其特征在于,所述若干检测工位包括在所述平移机构的移送方向上依次设置的第一检测工位、第二检测工位、第三检测工位和第四检测工位,所述若干表面检测机构包括第一检测机构、第二检测机构、第三检测机构、第四检测机构、第五检测机构和第六检测机构;所述第一检测机构,其设于第一检测工位的周侧旁,可在水平方向上获取移经第一检测工位的电子元件的图像;所述第二检测机构,其设于第二检测工位的周侧旁,可在与竖直面呈夹角的方向上获取移经第二检测工位的电子元件的图像;所述第三检测机构为若干个,各所述第三检测机构在第三检测工位的周侧上间隔设置,各所述第三检测机构可在水平方向上获取移经第三检测工位的电子元件的图像;所述第四检测机构,其设于第三检测工位下方,可在竖直面上自下而上获取移经第三检测工位的电子元件的图像;所述第五检测机构,其设于第四检测工位的周侧旁,可在水平方向上获取移经第四检测工位的电子元件的图像;所述第六检测机构,其设于第四检测工位上方,可在竖直面上自上而下获取移经第四检测工位的电子元件的图像。7.根据权利要求6所述的快速平移回转式回转体器件全表面检测装置,其特征在于,所述第一检测机构包括自所述机架竖直向上延伸的第一支撑柱、可沿所述第一支撑柱上下滑动的第一滑座以及设于所述第一滑座上的第一摄像头,所述第一支撑柱上设有上下延伸的第一量尺;和/或所述第二检测机构包括设置在所述机架上的第二支撑柱、可沿所述第二支撑柱上下移动的第二滑座以及转动连接在所述第二滑座上的第二摄像头,所述第二支撑柱上设有上下延伸的第二量尺;和/或所述第三检测机构包括自所述机架竖直...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘骏,张啸宇,
申请(专利权)人:深圳宇骏视觉智能科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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