PanelIVL-LT一体机测试设备制造技术

本发明专利技术公开了一种一体机，特别涉及一种Panel IVL

【技术实现步骤摘要】
Panel IVL
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LT一体机测试设备


[0001]本专利技术涉及测试设备
，特别涉及一种Panel IVL
‑
LT一体机测试设备。

技术介绍

[0002]显示行业，关于TFT技术的发展迅速乃至成熟，新型显示材料也是热门研究，TFT技术在多种显示里都有重要的表现，所以Panel测试需求日益饱满，测试需求多数用于TFT器件的光电稳定性检测，或者用TFT器件性能的综合评估。本专利技术是Panel IVL
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LT一体机测试设备，服务于大面积TFT器件的Panel测试，自动化程度高，适用于批量测试，也可以对单个Panel进行独立设定测试。

技术实现思路

[0003]本专利技术为了解决上述现有技术中存在问题，提供一种Panel IVL
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LT一体机测试设备，以解决现在的技术问题。
[0004]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：
[0005]本专利技术提供了一种Panel IVL
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LT一体机测试设备，包括：外壳，所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种Panel IVL
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LT一体机测试设备，包括：外壳，其特征在于：所述外壳内设置有三轴运动控制系统，所述三轴运动控制系统设置于外壳底部，所述外壳内还设置有导热片，所述导热片设置于温度控制系统上。2.根据权利要求1所述的Panel IVL
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LT一体机测试设备，其特征在于：所述三轴运动控制系统包括第一轨道，所述第一轨道上设置有第一滑块，所述第一滑块上设置有第二轨道，所述第二轨道上设置有第二滑块，所述第二滑块上设置有第三轨道，所述第三轨道上设置有第三滑块，所述第三滑块上设置有测试装置。3.根据权利要求1所述的Panel IVL
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LT一体机测试设备，其特征在于：所述温度控制系统包括若干半导体制冷制热模块，所述半导体制冷制热模块固定于导热片的下表面。4.根据权利要求1所述的Panel IVL
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LT一体机测试设备，其特征在于：所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：王剑斌，梁丙生，刘镇岭，严顺，
申请(专利权)人：广州晶合测控技术有限责任公司，
类型：发明
国别省市：