本发明专利技术提供FPGA原型验证系统的外围扩展设备的热拔除保护系统，包括热拔除处理装置和处理模块；热拔除处理装置包括判断模块和保护模块；判断模块和保护模块与外围扩展设备电连接；处理模块设置于FPGA原型验证系统内；其中，判断模块对FPGA原型验证系统的电源连通状态进行判断，并向保护模块和处理模块发送；根据第一鉴权策略，在下电状态可以对FPGA原型验证系统的外围扩展设备进行释放或者锁定，根据第二鉴权策略，在上电状态对FPGA原型验证系统的外围扩展设备进行下电处理或是预警处理。本发明专利技术还提供FPGA原型验证系统的外围扩展设备的热拔除保护方法。本发明专利技术提供了真正的提供干预子卡热插拔的方式。子卡热插拔的方式。子卡热插拔的方式。
【技术实现步骤摘要】
一种FPGA系统外围扩展设备热拔除保护系统和方法
[0001]本专利技术属于集成电路
，尤其涉及一种FPGA系统外围扩展设备热拔除的保护系统和方法。更具体地，涉及FPGA原型验证领域。
技术介绍
[0002]通常，在FPGA原型验证系统进行芯片设计的原型验证中，即在对FPGA 芯片进行调试编程时需要使用到FPGA板，FPGA板是一块多达十几层的PCB 印刷电路板。
[0003]在所述PCB印刷电路板中，通常FPGA逻辑系统与外围电路的连通方式主要通过板载的连接器实现。连接的通道主要分为两类：子卡和电缆。子卡/ 电缆的公头连接器和FPGA主板的母头连接器紧密结合，实现电路上的连通及功能上的交互。
[0004]目前就FPGA系统本身而言，尚不具备支持热插拔性能。故在上电的情况下，由于误操作或不明情况下的热插拔，极易损坏FPGA的IO管脚。且从电气特性看，这类损坏是不可逆转，即无法进行修复的。当损坏的管脚达到一定规模时，则FPGA系统的调试IO接口将大大减少；对于需要大量调试IO的设计来说，工作将受到极大的影响。目前来说，修复的方式只能是更换FPGA主芯片。因为中高端的FPGA芯片成本十分昂贵，动辄每颗几万甚至几十万人民币；所以这样的方法，将带来十分昂贵的修复成本。从目前的FPGA原型验证市场来看，尚未有一家厂商真正的提供干预子卡热插拔的方式。
[0005]此外，现有技术的FPGA原型验证系统中的互联接口的数量比较少，很难对其进行附加额外的功能设计而不影响FPGA原型验证系统的主功能，因此增加了技术难度。
[0006]基于以上，本申请提供了解决以上技术问题的技术方案。
技术实现思路
[0007]本专利技术的第一目的在于获得一种FPGA系统外围扩展设备移除预警系统。
[0008]本专利技术的第二目的在于获得一种具有FPGA系统外围扩展设备移除预警系统的原型验证系统。
[0009]本专利技术的第三目的在于获得一种FPGA系统外围扩展设备移除预警方法。
[0010]本专利技术的第一方面提供一种FPGA原型验证系统的外围扩展设备的热拔除保护系统，所述热拔除处理系统包括热拔除处理装置和处理模块；
[0011]所述热拔除处理装置包括判断模块和保护模块，且所述热拔除处理装置设置在所述外围FPGA原型验证系统的外围扩展设备的附近；所述判断模块和保护模块与所述FPGA原型验证系统的外围扩展设备电连接；
[0012]所述处理模块设置于所述FPGA原型验证系统内；
[0013]其中，
[0014]‑
按照预设的判断策略，所述判断模块被配置为对所述FPGA原型验证系统的电源连通状态进行判断，得到所述FPGA原型验证系统处于上电状态或是下电状态的电源连通状态信息，并将所述电源连通状态信息向所述保护模块和所述处理模块发送；
[0015]‑
根据预设的第一鉴权策略，所述保护模块被配置为，在所述FPGA原型验证系统处于下电状态的情况下，可以对所述FPGA原型验证系统的外围扩展设备进行释放或者锁定，
[0016]‑
根据预设的第二鉴权策略，在所述FPGA原型验证系统处于上电状态的情况下，所述处理模块被配置为，对所述FPGA原型验证系统的外围扩展设备进行下电处理或是预警处理。
[0017]在本专利技术的一个具体实施方式中，所述处理模块对所述FPGA原型验证系统的外围扩展设备进行下电处理后，按照预设的第一鉴权策略，可以对所述 FPGA原型验证系统的外围扩展设备进行释放或者锁定。
[0018]所述判断模块包括电压判决模块或电流判决模块；
[0019]所述保护模块包含固定装置，所述固定装置用于对所述FPGA原型验证系统的外围扩展设备进行释放或者锁定；和/或
[0020]所述处理模块包含片上系统。
[0021]在一个具体实施方式中，所述固定装置是螺丝固定装置。
[0022]优选的，所述判断模块为电压判决模块。具体的，电压判决在未上电时，连接器则为0V，上了电，则为1.8V或3.3V。
[0023]可选地，所述判断模块为电流判决模块。电流的话，也可以判断：FPGA系统未上电无电流，上电后有电流。
[0024]在本专利技术的一个具体实施方式中，所述热拔除保护装置还包括鉴权单元，所述鉴权单元包括生物信息识别模块、第一存储单元；
[0025]所述第一存储单元设置为储存合法用户的生物信息数据库，所述生物信息识别单元根据所述合法用户的生物信息进行识别非法用户和所述合法用户。
[0026]所述生物信息可以是指纹、虹膜或其组合。优选采用指纹。
[0027]在一个具体实施方式中，所述固定装置根据所述鉴权单元反馈的鉴权结果，根据预设的第一鉴权策略，对所述FPGA原型验证系统的外围扩展设备进行释放或者锁定。
[0028]在一个具体实施方式中，所述处理模块根据所述鉴权单元反馈的鉴权结果，根据预设的第二鉴权策略，对所述FPGA原型验证系统的外围扩展设备进行释放处理或是预警处理。
[0029]在本专利技术的一个具体实施方式中，所述FPGA原型验证系统包括FPGA主板单元和电源控制单元，其特征在于，所述FPGA原型验证的外围扩展设备与所述FPGA主板单元电连接，所述处理模块设置于所述电源控制单元内。
[0030]在本专利技术的一个具体实施方式中，所述FPGA主板单元是多颗FPGA主板单元。
[0031]在本专利技术的一个具体实施方式中，所述电源控制单元包括片上系统；
[0032]所述处理模块设置于所述电源控制单元内包括：所述处理模块设置于所述片上系统内。
[0033]在本专利技术的一个具体实施方式中，所述片上系统(SOC芯片)可以控制对上层的FPGA板进行上电或者下电的操作。
[0034]在本专利技术的一个具体实施方式中，所述FPGA原型验证系统还包括第二存储单元，所述第二存储单元用于存储或记录合法用户的生物信息数据库和/或所述提示信息。
[0035]在一个具体实施方式中，所述记录存储在第二Flash芯片中。更具体地， Flash芯
片设置在电源控制板上的PCM板上。
[0036]优选地，所述第一存储单元存储生物信息，第二存储单元存储或记录合法用户的生物信息数据库和所述提示信息。
[0037]优选的，所述生物信息为指纹。可选地，可以采用虹膜或是其他可以识别合法用户的生物信息，或者也可以组合使用。
[0038]本专利技术的第二方面提供一种含有本专利技术所述的热拔除保护系统的FPGA原型验证系统。
[0039]本专利技术的第三方面提供一种FPGA原型验证系统外围扩展设备的热拔除保护方法，适用于本专利技术所述的热拔除保护系统和本专利技术所述的FPGA原型验证系统，所述热拔除保护方法包括：
[0040]按照预设的判断策略，所述判断模块对所述FPGA原型验证系统的电源连通状态进行判断，得到所述FPGA原型验证系统处于上电状态或是下电状态的电源连通状态信息，并将本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种FPGA原型验证系统的外围扩展设备的热拔除保护系统，其特征在于，所述热拔除处理系统包括热拔除处理装置和处理模块；所述热拔除处理装置包括判断模块和保护模块，且所述热拔除处理装置设置在所述外围FPGA原型验证系统的外围扩展设备的附近；所述判断模块和保护模块与所述FPGA原型验证系统的外围扩展设备电连接；所述处理模块设置于所述FPGA原型验证系统内；其中，
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按照预设的判断策略，所述判断模块被配置为对所述FPGA原型验证系统的电源连通状态进行判断，得到所述FPGA原型验证系统处于上电状态或是下电状态的电源连通状态信息，并将所述电源连通状态信息向所述保护模块和所述处理模块发送；
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根据预设的第一鉴权策略，所述保护模块被配置为，在所述FPGA原型验证系统处于下电状态的情况下，可以对所述FPGA原型验证系统的外围扩展设备进行释放或者锁定，
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根据预设的第二鉴权策略，在所述FPGA原型验证系统处于上电状态的情况下，所述处理模块被配置为，对所述FPGA原型验证系统的外围扩展设备进行下电处理或是预警处理。2.如权利要求1所述的热拔除保护系统，其特征在于，所述判断模块包括电压判决模块、电流判决模块或其组合；所述保护模块包含固定装置，所述固定装置用于对所述FPGA原型验证系统的外围扩展设备进行释放或者锁定；和/或所述处理模块包含片上系统。3.如权利要求1所述的热拔除保护系统，其特征在于，所述热拔除保护装置还包括鉴权单元，所述鉴权单元包括生物信息识别模块、第一存储单元；所述第一存储单元设置为储存合法用户的生物信息数据库，所述生物信息识别单元根据所述合法用户的生物信息进行识别非法用户和所述合法用户。4.如权利要求1～3任一项所述的热拔除保护系统，所述FPGA原型验证系统包括FPGA主板单元和电源控制单元，其特征在于，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：张旭升，杨一峰，
申请(专利权)人：上海国微思尔芯技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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