芯片测试用例的处理方法、装置、存储介质及电子设备制造方法及图纸

本申请公开了一种芯片测试用例的处理方法、装置、存储介质及电子设备。该方法包括：根据芯片中当前功能模块的功能设置测试场景参数；根据所述测试场景参数生成对应的测试用例；根据所述测试场景参数与配置参数结构体的对应关系，将所述测试用例转换为对应的测试配置文件。本申请可以节省芯片的验证时长。本申请可以节省芯片的验证时长。本申请可以节省芯片的验证时长。

【技术实现步骤摘要】
芯片测试用例的处理方法、装置、存储介质及电子设备


[0001]本申请属于电子设备
，尤其涉及一种芯片测试用例的处理方法、装置、存储介质及电子设备。

技术介绍

[0002]在芯片的验证过程中，需要针对芯片的功能设计大量的测试用例进行覆盖测试。芯片中一个功能模块功能项的测试可能需要编写几百甚至上千条测试用例，针对每一条测试用例还需要编写测试程序。通常该编写工作由设计人员手工设计编写实现，导致芯片的验证时间较长。

技术实现思路

[0003]本申请实施例提供一种芯片测试用例的处理方法、装置、存储介质及电子设备，可以节省芯片的验证时长。
[0004]第一方面，本申请实施例提供一种芯片测试用例的处理方法，所述方法包括：
[0005]根据芯片中当前功能模块的功能设置测试场景参数；
[0006]根据所述测试场景参数生成对应的测试用例；
[0007]根据所述测试场景参数与配置参数结构体的对应关系，将所述测试用例转换为对应的测试配置文件。
[0008]第二方面，本申请实施例提供一种芯片测试用例的处理装置本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试用例的处理方法，其特征在于，所述方法包括：根据芯片中当前功能模块的功能设置测试场景参数；根据所述测试场景参数生成对应的测试用例；根据所述测试场景参数与配置参数结构体的对应关系，将所述测试用例转换为对应的测试配置文件。2.根据权利要求1所述的芯片测试用例的处理方法，其特征在于，所述根据目标功能模块的功能设置测试场景参数，包括：根据所述当前功能模块的功能设置测试场景；根据所述测试场景设置对应的测试场景参数。3.根据权利要求1所述的芯片测试用例的处理方法，其特征在于，所述根据所述测试场景参数生成对应的测试用例，包括：根据所述测试场景参数生成预设文件格式的多个测试用例。4.根据权利要求1所述的芯片测试用例的处理方法，其特征在于，所述配置参数结构体包括第一配置参数结构体和第二配置参数结构体，所述根据所述测试场景参数与配置参数结构体的对应关系，将所述测试用例转换为对应的测试配置文件，包括：根据所述测试场景参数与所述第一配置参数结构体的对应关系，将所述测试用例转换为对应的第一测试配置文件，以及根据所述测试场景参数与第二配置参数结构体的对应关系，将所述测试用例转换为对应的第二测试配置文件。5.根据权利要求4所述的芯片测试用例的处理方法，其特征在于，所述第一配置参数结构体包括硬件设备可识别的二进制参数结构体，所述第一测试配置文件为包括硬件环境配置参数文件，所述根据所述测试场景参数与所述第一配置参数结构体的对应关系，将所述测试用例转换为对应的第一测试配置文件，包括：根据所述测试场景参数与所述二进制参数结构体的对应关系，将所述测试用例转换为对应的硬件环境配置参数文件。6.根据权利要求5所述的芯片测试用例的处理方法，其特征在于，所述第二配置参数结构体包括仿真软件可识别的文本参数结构体，所述第二测试配置文件包括仿真环境配置参数文件，所述根据所述测试场景参数与第二配置参数结构体的对应关系，将所述测试用例转换为对应的第二测...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘君，
申请(专利权)人：OPPO广东移动通信有限公司，
类型：发明
国别省市：