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本申请公开了一种芯片测试用例的处理方法、装置、存储介质及电子设备。该方法包括：根据芯片中当前功能模块的功能设置测试场景参数；根据所述测试场景参数生成对应的测试用例；根据所述测试场景参数与配置参数结构体的对应关系，将所述测试用例转换为对应的测...
该专利属于OPPO广东移动通信有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过OPPO广东移动通信有限公司授权不得商用。

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