用于物理令牌的密钥提取参数的片上估计制造技术

本发明专利技术涉及使用物理令牌的方法和设备（１１），提供了可测量的参数，以获取至少一个数据集。一个或更多参数的多个值被测量。通过这些所测得的值计算方差的测量。从而确定对所测得的值进行量化的量化区间。随后可从物理令牌提供的所测得的值获取的数据集中的可能值与每个量化区间相关联。进一步，对随后使得能够确定量化区间的信息进行存储。因此，登记阶段就完成。当准备阶段完成时，获取阶段可以开始。当数据集将要被获取时，例如将要被用作密钥时，对ＰＵＦ提供的任意一个参数的值进行测量。将所测得的值量化入确定的量化区间中，并且可以从用于量化所测得的值的量化区间来获取数据集。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】
一种使用物理令牌（１４）的方法，所述物理令牌提供了可测量的参数以获取至少一个数据集，所述方法包括以下步骤：测量物理令牌（１４）提供的所述参数中至少一个参数的多个值；根据所测得的值计算方差的测量；存储使得能够确定量化区间的信息；基于所述方差的测量，确定对所测得的值进行量化的量化区间，每个量化区间与数据集中的可能值相关联；以及　测量所述至少一个参数的值并将所测得的值量化入确定的量化区间，其中，从与用于量化所测得的值的量化区间相关联的值获取数据集。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：格特施里恩，鲍里斯什科里奇，
申请(专利权)人：NXP股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]