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用于物理令牌的密钥提取参数的片上估计制造技术
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下载用于物理令牌的密钥提取参数的片上估计的技术资料
文档序号:3478659
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本发明涉及使用物理令牌的方法和设备(11),提供了可测量的参数,以获取至少一个数据集。一个或更多参数的多个值被测量。通过这些所测得的值计算方差的测量。从而确定对所测得的值进行量化的量化区间。随后可从物理令牌提供的所测得的值获取的数据集中的可...
该专利属于NXP股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过NXP股份有限公司授权不得商用。
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