时间测量装置、时间测量方法和距离测量装置制造方法及图纸

提供了一种时间测量装置，包括：第一计数器单元(204)，通过基于参考时钟信号进行计数来获取第一测量信号与第二测量信号之间的差时间作为第一测量结果；延迟信号生成单元(208)，基于从第一计数器单元反馈的第一测量结果使第一测量信号延迟来生成延迟信号；测量单元(210)，测量延迟信号与第二测量信号之间的差时间作为第二测量结果；以及运算单元(212)，使用第一测量结果和第二测量结果来执行运算。行运算。行运算。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】时间测量装置、时间测量方法和距离测量装置


[0001]本公开涉及一种时间测量装置、时间测量方法以及距离测量装置。

技术介绍

[0002]作为用于测量到对象的距离的方法，飞行时间(ToF)传感器(距离测量设备)是已知的。例如，在ToF传感器是间接ToF传感器的情况下，ToF传感器利用具有预定周期的照射光照射对象，并检测照射光与从对象反射的反射光之间的相位差，从而可测量到对象的距离。虽然这种距离测量装置需要提高距离测量准确度，但是距离测量装置的距离测量准确度的提高存在限制。
[0003]因此，为了提高距离测量准确度，可想到通过时间测量装置测量在距离测量装置中生成的时间误差(例如，控制信号之间生成的时间差等)并且基于测量结果校正距离测量装置。例如，作为测量这种微小时间的时间测量装置，可以例示在下述专利文献1中公开的装置。
[0004]现有技术文献
[0005]专利文献
[0006]专利文献1：日本专利申请公开号05
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150056
[0007]专利文献2：日本专利申请公开号2011
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种时间测量装置，包括：第一计数器单元，通过基于参考时钟信号进行计数来获取第一测量信号与第二测量信号之间的差时间，作为第一测量结果；延迟信号生成单元，通过基于从所述第一计数器单元反馈的所述第一测量结果延迟所述第一测量信号，来生成延迟信号；测量单元，测量所述延迟信号与所述第二测量信号之间的差时间，作为第二测量结果；以及运算单元，使用所述第一测量结果和所述第二测量结果来进行运算。2.根据权利要求1所述的时间测量装置，其中，所述第一计数器单元获取具有大致矩形的波的所述第一测量信号的上升时间与具有大致矩形的波的所述第二测量信号的上升时间、或者具有大致矩形的波的所述第一测量信号的下降时间与具有大致矩形的波的所述第二测量信号的下降时间之间的差时间，作为所述第一测量结果。3.根据权利要求2所述的时间测量装置，其中，所述测量单元测量具有大致矩形的波的所述延迟信号的上升时间与所述第二测量信号的所述上升时间、或者具有大致矩形的波的所述延迟信号的下降时间与所述第二测量信号的所述下降时间之间的差时间，作为所述第二测量结果。4.根据权利要求1所述的时间测量装置，其中，所述延迟信号生成单元基于与所述第一测量结果的值成比例的延迟量来生成所述延迟信号。5.根据权利要求1所述的时间测量装置，其中，所述延迟信号生成单元包括：多个触发器电路，在半导体基板上均匀地排列成一行。6.根据权利要求1所述的时间测量装置，其中，所述延迟信号生成单元包括：多个锁存电路，在半导体基板上均匀地排列成一行。7.根据权利要求5所述的时间测量装置，其中，所述多个触发器电路中的每一个电连接至以竞赛图状从参考时钟信号源分支的布线。8.根据权利要求7所述的时间测量装置，其中，所述延迟信号生成单元使用具有大致矩形的波的所述参考时钟信号的上升沿或下降沿来生成所述延迟信号。9.根据权利要求7所述的时间测量装置，其中，所述延迟信号生成单元使用具有大致矩形的波的所述参考时钟信号的上升沿和下降沿来生成所述延迟信号。10.根据权利要求7所述的时间测量装置，其中，所述延迟信号生成单元使用所述参考时钟信号生成用于校准的信号。11.根据权利要求1所述的时间测量装置，其中，...

【专利技术属性】
技术研发人员：阿部敬之，斋藤雅史，园田高大，
申请(专利权)人：索尼半导体解决方案公司，
类型：发明
国别省市：