一种长余辉材料荧光光谱测试工装及方法技术

本发明专利技术公开的一种长余辉材料荧光光谱测试工装及方法，涉及荧光光谱测试技术领域。该工装包括激光光源、荧光光谱仪以及待测材料安装结构；其中，待测材料安装结构包括转动料盘、不透明固定料盘盖以及运动控制器；转动料盘内部装填待测材料，与不透明固定料盘盖转动连接；转动料盘至少朝向不透明固定料盘盖的一侧为透明的；不透明固定料盘盖上设置有狭缝，激光可透过狭缝照射于待测材料上。本发明专利技术随着激发波长的变化，转动料盘相对于不透明固定料盘盖持续转动，被测材料依次连续通过狭缝而被照射产生荧光，已经被照射产生长余辉效应的被测材料会被遮住从而避免对后面的测试产生影响，从而避免了长余辉效应对荧光光谱测试的影响，测试结果更加准确。测试结果更加准确。测试结果更加准确。

【技术实现步骤摘要】
一种长余辉材料荧光光谱测试工装及方法


[0001]本专利技术涉及荧光光谱测试
，具体涉及一种长余辉材料荧光光谱测试工装及方法。

技术介绍

[0002]长余辉发光材料是发光材料的一种，相比于常规的发光材料，其特点是可以在特定波长的激光光源的照射下受到激发而发光，同时能够把激发能量存储起来，在撤掉激发光源后依然保持发光。这一特点使得长余辉发光材料在应急安全指示、防伪标识、信息存储、医学检查、景观亮化等领域都有应用。
[0003]作为一种发光材料，激发光谱和发射光谱的测试是其研究过程中非常重要的表征手段，这一测试不仅仅能够确定发光材料的最佳激励光源和发光颜色，也对其发光过程的研究具有重要意义。因此，对其精确测试是很关键的。
[0004]激发光谱的测试方法通常是在荧光探测器的监控下，逐渐改变激发光的波长，记录不同激发波长下的荧光强度形成光谱；发射光谱的测试方法是在把发光材料置于某一激光光源下，通过单色器和探测器扫描荧光的光谱成分，获得荧光发射光谱。目前，荧光光谱测试是一种比较成熟的技术，但是在长余辉材料的测试上却存在着一些问题，原因是长余辉效应会影响测试结果，以激发光谱测试为例，当激发光源的波长从一个方向向另一个方向扫描时，前一个激发波长点导致的长余辉效应(发光延迟)会叠加到后一个激发波长点引起的荧光效应上，导致激发光谱峰位的变动以及激发光谱的展宽。而且，由于长余辉发光和荧光发光的波长通常是一致的，因此难以通过常规的滤波片等手段使二者分开。
[0005]长余辉效应对激发光谱测试的影响还表现在测试一致性较差上，实践中一般是在测试前对材料进行避光处理或者热处理，尽量降低长余辉效应的影响，但是总的来说无法完全避免这种影响。中国专利技术专利CN108007906B公开了一种长余辉材料磷光激发光谱测量系统及方法，也注意到长余辉发光材料荧光和磷光(长余辉发光)的不同，并尝试进行区分荧光激发光谱和磷光激发光谱，但是其只是通过延迟某一激发波长下的发光采集时间来筛选磷光光谱，也未避免前一个激发点产生的磷光对后一个激发点产生的影响。
[0006]目前，长余辉发光材料的长余辉效应对荧光光谱尤其是激发光谱测试的影响，对研究材料的发光过程、能级结构等都有不利影响。无法精确测量激发光谱的峰位也给长余辉材料的应用带来不便，使人们不能有效确定最高效的激发波长。因此，设计一种能够精确测量长余辉材料荧光光谱的方法是必要的。

技术实现思路

[0007]有鉴于此，本专利技术公开了一种长余辉材料荧光光谱测试工装及方法，能够有效避免长余辉效应对荧光光谱测试的影响，使得测试结果准确可靠。
[0008]根据本专利技术的目的提出的一种长余辉材料荧光光谱测试工装，包括激光光源、荧光光谱仪以及待测材料安装结构；所述待测材料安装结构包括转动料盘、不透明固定料盘
盖、不透明荧光狭缝盖以及运动控制器；所述转动料盘内部装填待测材料，安装于不透明固定料盘盖的一侧，可在运动控制器的控制下相对于不透明固定料盘盖转动；所述转动料盘至少朝向不透明固定料盘盖的一侧为透明的；所述不透明固定料盘盖上设置有狭缝，激光可透过狭缝照射于转动料盘内的待测材料上；所述不透明荧光狭缝盖安装于不透明固定料盘盖上，以遮挡狭缝，并可在运动控制器的控制下打开或关闭。
[0009]优选的，所述转动料盘朝向不透明固定料盘盖的一侧可拆卸固定安装有透明料盘盖。
[0010]优选的，所述转动料盘、透明料盘盖以及不透明固定料盘盖均为形状、大小适配的环形，所述狭缝径向设置于不透明固定料盘盖上。
[0011]优选的，所述不透明固定料盘盖中轴上固定安装有转动电机，所述转动料盘中心通过连杆固定安装有与转动电机配合安装的连接头，所述转动料盘在转动电机的驱动下相对于不透明固定料盘盖转动；所述不透明固定料盘盖固定安装于运动控制器外壳上。
[0012]优选的，所述不透明荧光狭缝盖外表面涂有荧光材料。
[0013]本专利技术另外公开的一种基于上述测试工装进行长余辉材料荧光光谱测试的方法，包括以下步骤：
[0014]步骤一：装填待测材料，将带透明料盘盖的转动料盘安装到不透明固定料盘盖上，关闭不透明荧光狭缝盖使其遮盖不透明固定料盘盖上的狭缝。
[0015]步骤二：将装配好的待测材料安装结构整体安装在荧光光谱仪内。
[0016]步骤三：调整光路使激发光可以照射到不透明荧光狭缝盖，并以不透明荧光狭缝盖外表面的荧光材料为参考调整仪器参数，使荧光光谱仪处于手动扫描模式。
[0017]步骤四：按照荧光光谱扫描速度，设置转动料盘的转动速度，使转动料盘的转动周期小于荧光光谱仪扫描周期，并取最大值。
[0018]步骤五：设置完毕后，打开不透明荧光狭缝盖，同时开始荧光光谱扫描，扫描完毕后保存数据。
[0019]与现有技术相比，本专利技术公开的一种长余辉材料荧光光谱测试工装及方法的优点是：
[0020](1)本专利技术中转动料盘与带狭缝的不透明固定料盘盖配合设置，随着激发波长的变化，转动料盘相对于不透明固定料盘盖持续转动，被测材料依次连续通过狭缝而被照射产生荧光，已经被照射产生长余辉效应的被测材料会被遮住从而避免对后面的测试产生影响，从而有效避免了长余辉效应对荧光光谱测试的影响，测试方法科学、有效，测试结果更加准确，有利于推动长余辉材料科研工作的进步。
[0021](2)本专利技术所公开的工装本身是密封避光结构，整个测试过程不需要在黑暗环境下进行，操作难度降低。
[0022](3)本专利技术所公开的工装成本较低，使用方法简单，有利于标准化生产，对于长余辉发光材料的生产也具有推动作用。
附图说明
[0023]为了更清楚的说明本专利技术实施例或现有技术的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图做简单的介绍，显而易见的，下面描述中的附图仅仅是本发
明的一些实施例，对于本领域中的普通技术人员来说，在不付出创造性劳动的前提下，还可根据这些附图获得其他附图。
[0024]图1为待测材料安装结构拆解图。
[0025]图2为待测材料安装结构整体结构图。
[0026]图中：1
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转动料盘；2
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透明料盘盖；3
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狭缝；4
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不透明固定料盘盖；5
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不透明荧光狭缝盖；6
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转动电机；7
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运动控制器；8
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连接头；9
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连杆。
具体实施方式
[0027]下面结合附图对本专利技术的具体实施方式做简要说明。显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术的一部分实施例，而不是全部实施例，基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，均属于本专利技术保护的范围。
[0028]图1
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图2示出了本专利技术较佳的实施例，对其进行了详细的剖析。
[0029]本专利技术公开的一种长余辉材料荧光光谱测试工装，包括激光本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种长余辉材料荧光光谱测试工装，其特征在于，包括激光光源、荧光光谱仪以及待测材料安装结构；所述待测材料安装结构包括转动料盘(1)、不透明固定料盘盖(4)、不透明荧光狭缝盖(5)以及运动控制器(7)；所述转动料盘(1)内部装填待测材料，安装于不透明固定料盘盖(4)的一侧，可在运动控制器(7)的控制下相对于不透明固定料盘盖(4)转动；所述转动料盘(1)至少朝向不透明固定料盘盖(4)的一侧为透明的；所述不透明固定料盘盖(4)上设置有狭缝(3)，激光可透过狭缝(3)照射于转动料盘(1)内的待测材料上；所述不透明荧光狭缝盖(5)安装于不透明固定料盘盖(4)上，以遮挡狭缝(3)，并可在运动控制器(7)的控制下打开或关闭。2.根据权利要求1所述的一种长余辉材料荧光光谱测试工装，其特征在于，所述转动料盘(1)朝向不透明固定料盘盖(4)的一侧可拆卸固定安装有透明料盘盖(2)。3.根据权利要求2所述的一种长余辉材料荧光光谱测试工装，其特征在于，所述转动料盘(1)、透明料盘盖(2)以及不透明固定料盘盖(4)均为形状、大小适配的环形，所述狭缝(3)径向设置于不透明固定料盘盖(4)上。4.根据权利要求3所述的一种长余辉材料荧光光谱测试工装，其特征在于，所述不透明固定料盘盖(4)中轴上固定安装有转动电机...

【专利技术属性】
技术研发人员：张乐，陈东顺，刘升，马一石，邵统宇，张馨元，王忠英，邵岑，康健，陈浩，
申请(专利权)人：新沂市锡沂高新材料产业技术研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：