触摸芯片的批量检测系统、批量检测方法以及芯片测试板技术方案

本申请关于触摸芯片的批量检测系统、批量检测方法以及芯片测试板，涉及芯片制造领域。该系统包括芯片测试板以及计算机设备；芯片测试板用于与至少两个测试芯片通信连接，芯片位于芯片测试板的测试位上；芯片测试板与计算机设备通信连接；至少两个芯片位于芯片测试板上，且芯片测试板与计算机设备通信连接；芯片测试板与计算机设备通信连接。通过芯片测试板在测试过程中对于芯片进行功能触发，由计算机设备根据反馈信号进行芯片功能是否正常的判断。通过芯片测试板的功能触发以及数据获取，并通过计算机设备进行核对检验，可以实现在出厂之前，对于芯片的高效批量化的功能测试，从而避免功能不良的芯片流出。而避免功能不良的芯片流出。而避免功能不良的芯片流出。

【技术实现步骤摘要】
触摸芯片的批量检测系统、批量检测方法以及芯片测试板


[0001]本申请涉及芯片制造领域，特别涉及一种触摸芯片的批量检测系统、批量检测方法以及芯片测试板。

技术介绍

[0002]触摸芯片，即通过用户触摸执行对应功能的芯片，在目前得到了广泛的应用。
[0003]相关技术中，在触摸芯片生产之后，投入市场之前，将会对触摸芯片进行Open
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Short Test,即OS测试，该OS测试用以确认在器件测试过程中，芯片所有的信号引脚都与测试系统相应的通道完成了电性能上的连接，并且没有信号引脚与其他信号引脚、电源或地发生短路。通过OS测试，可以验证触摸芯片中各个信号引脚的性能。
[0004]然而，相关技术当中的OS测试，仅能够测试信号引脚的通电情况，而无法对于触摸芯片的功能进行测试，仍会导致功能不良的芯片流出。

技术实现思路

[0005]本申请关于一种触摸芯片的批量检测系统、批量检测方法以及芯片测试板，可以对于芯片的功能进行前置检测，避免功能不良的芯片流出。该技术方案如下：一方面，提供了一种触摸芯片的批量检测系统，该触摸芯片的批量检测系统包括芯片测试板以及计算机设备；所述芯片测试板用于与至少两个测试芯片通信连接，所述芯片位于所述芯片测试板的测试位上；所述芯片测试板与所述计算机设备通信连接；所述至少两个芯片位于所述芯片测试板上，且所述芯片测试板与所述计算机设备通信连接；所述芯片测试板与所述计算机设备通信连接；所述芯片测试板，用于响应于所述芯片与所述芯片测试板的通信连接建立，向至少两个所述芯片同时发送测试信号，所述测试信号用于模拟用户对于所述芯片的触摸情况，当所述测试信号发送时，所述芯片测试板内的电容器处于连接状态；在发送所述测试信号的同时，接收所述芯片发送的反馈信号，所述反馈信号指示在所述测试信号发送后的预设时间段内，所述芯片反馈的连续信号；将至少两个所述反馈信号以及与所述芯片对应的芯片标识发送至计算机设备中，所述反馈信号中包括根据反馈时间变化的反馈电平强度数值，所述芯片标识用于唯一指示所述芯片；所述计算机设备，用于接收至少两个所述反馈信号与所述反馈信号数量对应的芯片标识，基于至少两个反馈信号生成与至少两个所述芯片的对应的检测结果。
[0006]另一方面，提供了一种触摸芯片的批量检测方法，该方法应用于如上所述的触摸芯片的批量检测系统内的芯片测试板中，该方法包括：响应于芯片与所述芯片测试板的通信连接建立，向至少两个所述芯片同时发送测
试信号，所述测试信号用于模拟用户对于所述芯片的触摸情况，当所述测试信号发送时，所述芯片测试板内的电容器处于连接状态；在发送所述测试信号的同时，接收所述芯片发送的反馈信号，所述反馈信号指示在所述测试信号发送后的预设时间段内，所述芯片反馈的连续信号；将至少两个所述反馈信号以及与所述芯片对应的芯片标识发送至计算机设备中，所述反馈信号中包括根据反馈时间变化的反馈电平强度数值，所述芯片标识用于唯一指示所述芯片。
[0007]另一方面，提供了一种芯片测试板，该芯片测试板用于执行如上所述的触摸芯片的批量检测方法。
[0008]本申请提供的技术方案带来的有益效果至少包括：在进行对于触摸芯片的批量测试的过程中，通过芯片测试板在测试过程中对于芯片进行功能触发，并将芯片功能被触发后反馈的信号发送至计算机设备当中，由计算机设备根据反馈信号进行芯片功能是否正常的判断。通过芯片测试板的功能触发以及数据获取，并通过计算机设备进行核对检验，可以实现在出厂之前，对于芯片的高效批量化的功能测试，从而避免功能不良的芯片流出。
附图说明
[0009]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0010]图1示出了本申请一个示例性实施例提供的一种触摸芯片的批量检测系统的结构框图。
[0011]图2示出了本申请一个示例性实施例提供的一种芯片测试板的结构示意图。
[0012]图3示出了本申请一个示例性实施例提供的一种芯片测试板中测试位的接线示意图。
[0013]图4示出了本申请一个示例性实施例提供的一种芯片测试板中的接线示意图。
[0014]图5示出了本申请一个示例性实施例提供的一种触摸芯片的批量检测方法的流程示意图。
具体实施方式
[0015]为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请实施方式作进一步地详细描述。
[0016]首先，对本申请实施例中涉及的名词进行简单的介绍：触摸芯片，是指在单点或多点触控技术当中发挥作用的芯片，其端面可以与摩擦衬片或其他材料层做成一体的金属片或非金属片。在芯片通电的情况下，其会在常规工作状态持续输出高电平信号，而当人体的手部接触到芯片时，芯片会改为输出低电平信号，在与触摸芯片建立有通信连接的其他设备接收到该信号转变时，即会根据信号的转变执行对应的操作。在一个示例中，触摸芯片与计算机台灯连接，在台灯内的单片机接收到触摸芯片
发送的电平信号产生变化后，单片机即可根据该电平信号的变化进行控制信号的发送，以控制台灯的开启和关闭。
[0017]对应上述说明，本申请也即提出了一种对于此类触摸芯片进行批量化检测的系统、方法以及装置。
[0018]图1示出了本申请一个示例性实施例提供的一种触摸芯片的批量检测系统的结构框图。该触摸芯片批量检测系统包括芯片测试板110以及计算机设备120。
[0019]在本申请实施例中，计算机设备实现为具有数据接收、数据发送、数据处理以及输出存储的电子设备。可选地，计算机设备可以实现为个人电脑，或，计算机设备可以实现为工业计算机。
[0020]在本申请实施例中，芯片测试板实现为具有通信功能的用于测试的集成电路。在硬件结构上，芯片测试板上具有凹陷，用于承载并连接芯片。也即，芯片当中具有用于容纳芯片的测试位，当芯片位于该测试位内时，芯片与测试版通过导线通信连接。在一个示例中，导线即为由芯片测试板中引出的“金手指”引脚。
[0021]当计算机设备与芯片测试板实现通信连接后，芯片测试板，用于响应于芯片与芯片测试板的通信连接建立，向至少两个芯片同时发送测试信号，测试信号用于模拟用户对于芯片的触摸情况；在发送测试信号的同时，接收芯片发送的反馈信号，反馈信号指示在测试信号发送后的预设时间段内，芯片反馈的连续信号；将至少两个反馈信号以及与芯片对应的芯片标识发送至计算机设备中，反馈信号中包括根据反馈时间变化的反馈电平强度数值，芯片标识用于唯一指示芯片；计算机设备，用于接收至少两个反馈信号以及与反馈信号数量对应的芯片标识；基于至少两个反馈信号生成与至少两个芯片的对应的检测结果。
[0022]为使芯片测试板可以执行上述过程当中的芯片检测功能，本申请提供了一种芯片测试板的结构示意和具体接线方式距离。图2示出了本申请一个示例性实施例提本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种触摸芯片的批量检测系统，其特征在于，所述系统包括芯片测试板以及计算机设备；所述芯片测试板用于与至少两个测试芯片通信连接，所述芯片位于所述芯片测试板的测试位上；所述芯片测试板与所述计算机设备通信连接；所述至少两个芯片位于所述芯片测试板上，且所述芯片测试板与所述计算机设备通信连接；所述芯片测试板与所述计算机设备通信连接；所述芯片测试板，用于响应于所述芯片与所述芯片测试板的通信连接建立，向至少两个所述芯片同时发送测试信号，所述测试信号用于模拟用户对于所述芯片的触摸情况；在发送所述测试信号的同时，接收所述芯片发送的反馈信号，所述反馈信号指示在所述测试信号发送后的预设时间段内，所述芯片反馈的连续信号；将至少两个所述反馈信号以及与所述芯片对应的芯片标识发送至计算机设备中，所述反馈信号中包括根据反馈时间变化的反馈电平强度数值，所述芯片标识用于唯一指示所述芯片；所述计算机设备，用于接收至少两个所述反馈信号以及与所述反馈信号数量对应的芯片标识；基于至少两个反馈信号生成与至少两个所述芯片的对应的检测结果。2.根据权利要求1所述的触摸芯片的批量检测系统，其特征在于，所述芯片测试板中包括与所述芯片数量对应的测试电路；所述测试电路中包括测试电容电路，所述测试电容电路中包括测试电容以及电路开关，所述测试电容电路与所述芯片连接；所述计算机设备，还用于响应于所述芯片测试板与所述芯片的通信连接建立，向所述芯片测试板发送测试启动信号；所述芯片测试板，用于基于所述启动信号将所述测试电容电路中的所述电路开关闭合，并同时发送所述测试信号。3.根据权利要求2所述的触摸芯片的批量检测系统，其特征在于，所述测试启动信号中包括控制指令，所述控制指令中包括闭合控制指令与开启控制指令，所述闭合控制指令用于控制所述电路开关闭合，所述开启控制指令用于指示所述控制电路断开。4.根据权利要求3所述的触摸芯片的批量检测系统，其特征在于，所述计算机设备，还用于获取所述芯片的类型；基于所述芯片的类型确定反馈信号电平范围；将所述反馈信号中的电平强度与所述反馈信号电平范围进行比较；响应于所述反馈信号中出现超过所述反馈信号电平范围的电平信号，确定所述检测结果为检测未通过。5.根据权利要求4所述的触摸芯片的批量检测系统...

【专利技术属性】
技术研发人员：钟慷慷，
申请(专利权)人：浙江锋华创芯微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：