本实用新型专利技术公开了一种带有定位机构的电子芯片加工用检测装置，包括工作台，所述工作台上表面两侧固定安装有立板，所述立板呈对称设置有两组，两组所述立板顶面共同连接有顶板，所述顶板底面固定安装有电动滑台，所述电动滑台的滑动平台上固定连接有支架，所述支架内部固定安装有电动推杆，所述电动推杆的输出端固定连接有支撑板，所述支撑板底面等距设置有测试探头，所述支撑板上表面与支架底面之间设置有支撑组件，通过工作台对需要检测的芯片进行放置，工作台上方位置滑动设置有测试探头，通过测试探头下压与芯片表面贴合进行测试，提高芯片的检测效率，设置有测试探头匹配的支撑组件，提高了芯片检测的效果。提高了芯片检测的效果。提高了芯片检测的效果。
【技术实现步骤摘要】
一种带有定位机构的电子芯片加工用检测装置
[0001]本技术涉及芯片加工设备
，具体为一种带有定位机构的电子芯片加工用检测装置。
技术介绍
[0002]芯片是一种集成电路，由大量的晶体管构成，不同的芯片有不同的集成规模，大到几亿；小到几十、几百个晶体管，晶体管有两种状态，开和关，多个晶体管产生的多个信号，这些信号被设定成特定的功能，来表示或处理字母、数字、颜色和图形等，芯片加电以后，首先产生一个启动指令，来启动芯片，以后就不断接受新指令和数据来完成功能，集成电路可以把模拟和数字电路集成在一个单芯片上，以做出如模拟数字转换器等器件；
[0003]芯片在生产加工过程中需要对其进行性能检测等步骤，现有的检测步骤需要人工手持检测器具与芯片表面贴合进行测试，人工测试长时间操作可能会出现疲劳，容易出现漏检与错检的情况，降低芯片的检测效率，且现有的检测器具在与芯片表面贴合检测时，大多没有设置匹配的支撑结构，使得检测探头与芯片表面的触点贴合时性能不够稳定，降低了芯片检测的效果。
技术实现思路
[0004]本技术的目的在于提供一种锂电子电池固定夹具，通过工作台对需要检测的芯片进行放置，工作台上方位置滑动设置有检测探头，通过检测探头下压与芯片表面贴合进行测试，不易产生人工测试操作因为疲劳而出现漏检与错检的情况，提高芯片的检测效率，设置有检测探头匹配的支撑组件，使得检测探头下压与芯片表面的触点贴合时性能较为稳定，提高了芯片检测的效果，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种带有定位机构的电子芯片加工用检测装置，包括工作台，所述工作台上表面两侧固定安装有立板，所述立板呈对称设置有两组，两组所述立板顶面共同连接有顶板，所述顶板底面固定安装有电动滑台，所述电动滑台的滑动平台上固定连接有支架，所述支架内部固定安装有电动推杆，所述电动推杆的输出端固定连接有支撑板，所述支撑板底面等距设置有测试探头，所述支撑板上表面与支架底面之间设置有支撑组件，所述工作台上表面对称设置有两组夹板，两组对称设置的夹板之间设置有托盘。
[0006]优选的，所述测试探头与托盘匹配设置，所述测试探头设置于托盘上方位置，所述托盘上内部开设有放置槽。
[0007]优选的，所述支撑组件包括底杆和支杆，所述支杆顶端滑动连接于底杆内部，所述支杆顶端与底杆内部之间固定连接有弹簧。
[0008]优选的，所述弹簧设置为压缩弹簧，所述底杆顶端固定连接于支架底面，所述支杆底端与支撑板上表面固定连接。
[0009]优选的，所述底杆内壁对称开设有第一滑槽，所述支杆顶端固定安装有第一滑块，
所述第一滑块与第一滑槽滑动间隙配合。
[0010]优选的，所述工作台上两侧对称开设有第二滑槽，所述夹板底面固定安装有第二滑块，所述第二滑块与第二滑槽滑动间隙配合。
[0011]优选的，所述工作台上两侧对称螺纹连接有螺杆，所述螺杆一端贯穿延伸至第二滑槽内部与第二滑块一侧转动连接，所述螺杆一端固定连接有手轮。
[0012]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0013]1、本技术通过工作台对需要检测的芯片进行放置，工作台上方位置滑动设置有测试探头，测试探头滑动连接于顶板底面的滑动平台上，通过电动推杆带动测试探头下压与芯片表面贴合进行测试，不易产生人工测试操作因为疲劳而出现漏检与错检的情况，提高芯片的检测效率；
[0014]2、通过支架底面与支撑板之间设置的支撑组件对测试探头形成支撑力，支撑组件与测试探头匹配设置，电动推杆带动测试探头下压的时候不易产生晃动，使得测试探头与芯片表面的触点贴合时性能较为稳定，检测数据更加准确，提高了芯片检测的效果。
附图说明
[0015]图1为本技术的主视结构示意图；
[0016]图2为本技术的工作台部分侧视结构剖视示意图；
[0017]图3为本技术的支撑板部分立体结构示意图；
[0018]图4为本技术的支撑组件部分剖视结构示意图；
[0019]图5为本技术的托盘部分立体结构示意图。
[0020]图中：1、工作台；2、立板；3、顶板；4、电动滑台；5、支架；6、电动推杆；7、支撑板；8、测试探头；9、支撑组件；901、底杆；902、支杆；10、夹板；11、托盘；12、放置槽；13、弹簧；14、第一滑槽；15、第一滑块；16、第二滑槽；17、第二滑块；18、螺杆；19、手轮。
具体实施方式
[0021]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0022]请参阅图1
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5，本技术提供一种技术方案：一种带有定位机构的电子芯片加工用检测装置，包括工作台1，工作台1上表面两侧固定安装有立板2，立板2呈对称设置有两组，两组立板2顶面共同连接有顶板3，顶板3底面固定安装有电动滑台4，电动滑台4的滑动平台上固定连接有支架5，支架5内部固定安装有电动推杆6，电动推杆6的输出端固定连接有支撑板7，支撑板7底面等距设置有测试探头8；
[0023]支撑板7上表面与支架5底面之间设置有支撑组件9，支撑组件9包括底杆901和支杆902，支杆902顶端滑动连接于底杆901内部，支杆902顶端与底杆901内部之间固定连接有弹簧13，弹簧13设置为压缩弹簧，底杆901顶端固定连接于支架5底面，支杆902底端与支撑板7上表面固定连接，底杆901内壁对称开设有第一滑槽14，支杆902顶端固定安装有第一滑块15，第一滑块15与第一滑槽14滑动间隙配合；
[0024]通过支架5底面与支撑板7之间设置的支撑组件9对测试探头8形成支撑力，支撑组件9与测试探头8匹配设置，电动推杆6带动测试探头8下压的时候不易产生晃动，使得测试探头8与芯片表面的触点贴合时性能较为稳定，检测数据更加准确，提高了芯片检测的效果；
[0025]工作台1上表面对称设置有两组夹板10，工作台1上两侧对称开设有第二滑槽16，夹板10底面固定安装有第二滑块17，第二滑块17与第二滑槽16滑动间隙配合，工作台1上两侧对称螺纹连接有螺杆18，螺杆18一端贯穿延伸至第二滑槽16内部与第二滑块17一侧转动连接；
[0026]螺杆18一端固定连接有手轮19，两组对称设置的夹板10之间设置有托盘11，通过工作台1对需要检测的芯片进行放置，工作台1上方位置滑动设置有测试探头8，测试探头8滑动连接于顶板3底面电动滑台4的滑动平台上，通过电动推杆6带动测试探头8下压与芯片表面贴合进行测试，不易产生人工测试操作因为疲劳而出现漏检与错检的情况，提高芯片的检测效率；
[0027]测试探头8与托盘11匹配设置，测试探头8设置于托盘11上方位本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种带有定位机构的电子芯片加工用检测装置，包括工作台（1），其特征在于：所述工作台（1）上表面两侧固定安装有立板（2），所述立板（2）呈对称设置有两组，两组所述立板（2）顶面共同连接有顶板（3），所述顶板（3）底面固定安装有电动滑台（4），所述电动滑台（4）的滑动平台上固定连接有支架（5），所述支架（5）内部固定安装有电动推杆（6），所述电动推杆（6）的输出端固定连接有支撑板（7），所述支撑板（7）底面等距设置有测试探头（8），所述支撑板（7）上表面与支架（5）底面之间设置有支撑组件（9），所述工作台（1）上表面对称设置有两组夹板（10），两组对称设置的夹板（10）之间设置有托盘（11）。2.根据权利要求1所述的一种带有定位机构的电子芯片加工用检测装置，其特征在于：所述测试探头（8）与托盘（11）匹配设置，所述测试探头（8）设置于托盘（11）上方位置，所述托盘（11）上内部开设有放置槽（12）。3.根据权利要求1所述的一种带有定位机构的电子芯片加工用检测装置，其特征在于：所述支撑组件（9）包括底杆（901）和支杆（902），所述支杆（902）顶端滑动连接于底杆（901）内部，所述支...
【专利技术属性】
技术研发人员：魏婉华，
申请(专利权)人：武汉东湖学院，
类型：新型
国别省市：
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