【技术实现步骤摘要】
一体成型芯片电感及DC
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DC电路
[0001]本技术涉及电子元器件领域,尤其是一种一体成型芯片电感及DC
‑
DC电路。
技术介绍
[0002]随着电子产品的体积越来越小,功率越来越大,电子元件也向着小体积,大功率方面发展。电感器的需求朝着低损耗、小体积、大电流,在高频和高温环境下仍保持优良的温升电流及饱和电流特性,工作频率覆盖范围广。随之而来对软磁材料的要求是:低损耗、合适的磁导率以及高饱和磁通密度。现有技术的芯片电感,其Pin针通过塑胶支架粘贴在磁体上,粘贴Pin针后电感的整体体积增大;为了满足尺寸的要求,往往需要把磁体的尺寸做小,这样会影响到电感的电气特性。
技术实现思路
[0003]本技术所要解决的技术问题是:
[0004]提供一种一体成型芯片电感以及DC
‑
DC电路,解决现有电感的整体体积较大,或者,为了满足尺寸的要求把磁体的尺寸做小而造成电气特性较低等问题。
[0005]为解决上述技术问题,本技术采用如下技术方案:
[0006]一体成型芯片电感,包括磁芯以及磁芯内部的绕组,所述一体成型芯片电感的还包括若干Pin针,所述若干Pin针是直接电镀在磁芯上且暴露于磁芯表面的金属镀层;所述Pin针用于与电路中的无源元件连接,起传递信号的作用。
[0007]在一些具体实施例中,所述Pin针的金属镀层在磁体上的厚度>10
µ
m;所述Pin针是在磁芯上形成的一层以上金属镀层。所述无源元件包 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一体成型芯片电感,包括磁芯以及磁芯内部的绕组,其特征在于:所述一体成型芯片电感的还包括若干Pin针,所述若干Pin针是直接电镀在磁芯上且暴露于磁芯表面的金属镀层;所述Pin针用于与电路中的无源元件连接,起传递信号的作用。2.如权利要求1所述的一体成型芯片电感,其特征在于:所述Pin针的金属镀层在磁体上的厚度>10
µ
m;所述Pin针是在磁芯上形成的一层以上的金属镀层;所述无源元件包括电阻、电容、半导体、mos管中的至少一种。3.如权利要求2所述的一体成型芯片电感,其特征在于:所述一层以上金属镀层包括:电镀铜层,电镀铜层厚度>10
µ
m;和/或,电镀镍层,电镀镍层厚度为2
‑5µ
m;和/或,电镀锡层,电镀锡层厚度为2
‑5µ
m。4.如权利要求1所述的一体成型芯片电感,其特征在于:所述金属镀层在磁芯表面形成L形或C形或U形Pin针;多条Pin针平行地设置;磁芯上形成有一对GND端子,所述GND端子暴露于磁芯表面;所述GND端子是直接电镀在磁芯上且暴露于磁芯表面的金属镀层。5.如权利要求1所述的一体成型芯片电感,其特征在于:磁芯内部形成有通槽,所述通槽与绕组相适配;绕组嵌入通槽内,与磁芯形成整体结构;通槽及绕组的布置以使所述芯片电感在通电时的磁通密度分布均匀;磁芯内形成有多道通槽,每道通槽之间平行间隔地设置;多条或多砸绕组导体分别对应地嵌入所述多道通槽内;通槽的两端贯通磁芯的表面形成通孔,绕组嵌入通槽内,绕组的两端穿过所述通孔而暴露于磁芯表面形成芯片电感的电极,所述芯片电感的电极与外部电路电连接。6.如权利要求5所述的一体成型芯片电感,其特征在于:多条平行的绕组导体分别对应地嵌入磁芯和多道通槽内形成绕组,与磁芯一体成型;绕组导体穿过所述通槽,绕组导体的相对两端部暴露于磁芯相对两端的端面形成芯片电感的电极;电极的表面通过电镀形成有金...
【专利技术属性】
技术研发人员:蒋枝杭,王国华,陈阳,伍卓权,王伯辉,
申请(专利权)人:深圳市铂科新材料股份有限公司,
类型:新型
国别省市:
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