散射测量方法、散射校正方法、和X射线CT设备技术

为了校正多片层成像中的散射，将投影ｐ与散射校正因子Ｒ（ｄ，ｄｏ）彼此相关联地存储，从使用检测器厚度为ｄｏ的检测器通过使用具有射束厚度为ｄ的Ｘ射线射束对对象进行成像收集的数据Ｄ０确定投影ｐ，确定与该投影ｐ相关联的散射校正因子Ｒ（ｄ，ｄｏ），并且将数据Ｄ０乘以散射校正因子Ｒ（ｄ，ｄｏ），得到散射校正数据Ｄ１。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种散射测量方法、散射校正方法、和X射线CT(计算机层析成像)设备，并且更具体地涉及一种用于在多片层成像中测量散射的散射测量方法、一种用于在多片层成像中校正散射的散射校正方法、和X射线CT设备。
技术介绍
在采用单行检测器(例如参见专利文献1和2)的X射线CT设备中可以使用几种已知的常规散射校正方法。而且，已经提出了可以应用于采用多行检测器(例如参见专利文献3)的X射线CT设备中的散射校正方法。专利文献1日本专利申请公开H7-213517。专利文献2日本专利申请公开H8-131431。专利文献3日本专利申请公开H11-299768。在使用具有多个检测器行的多行检测器进行多片层成像中，成像受到散射的影响更大，因为射束厚度大于单个检测器的厚度(或检测器行的厚度)。然而在采用单行检测器的X射线CT设备中使用的常规散射校正方法并没有考虑到这种情况，并且该方法存在不能应用于这种条件的问题。在采用多行检测器的X射线CT设备中使用的常规散射校正方法可以应用于这种条件，但是其需要进行两次图像重建，这就会导致高计算负荷的问题。
技术实现思路
因此，本专利技术的目的是提供一种用于在多片层成本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种散射测量方法，包括步骤：通过使用等于检测器厚度ｄｏ的射束厚度对所要成像的对象进行成像测量数据Ｉ（ｄｏ，ｄｏ）；通过使用大于检测器厚度ｄｏ的射束厚度ｄ对所要成像的对象进行成像测量数据Ｉ（ｄ，ｄｏ）；并且根据所述数据Ｉ（ｄｏ，ｄｏ）与所述数据Ｉ（ｄ，ｄｏ）之间的差确定散射量Ｓ（ｄ，ｄｏ）。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：贯井正健，
申请(专利权)人：GE医疗系统环球技术有限公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]