光学测量鼻肿胀的设备制造技术

本发明专利技术涉及装置制造领域和方法以及例如可以用于测量鼻堵塞的设置。该目的在于提供一种方法和一种设置，利用该方法可以测量鼻肿胀状态。该目的通过一种设置得以实现，该设置由基本装置（１２）组成，带有发光元件（１３）和光检测元件（１４）以及可设置在基本装置（１２）外面的设置在实施部件（１）上的发射元件和接收元件（２，３）。该目的还通过一种方法得以实现，其中，光从一光学发射元件（２）发出，在光从鼻翼发出的区域内，一光学接收元件（３）接收发出的光并将相关数值记录下来，从中计算出诊断用参数。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及医学和装置制造领域，还涉及用于光学测量鼻肿胀的一种方法和一种设置，该设置例如可以用于根据过敏性激发测量鼻堵塞。
技术介绍
从医学角度看，存在着对例如在鼻激发检查时引起的例如过敏性反应下的肿胀状态和肿胀变化的测量客观化的要求。过敏性鼻炎目前通过提高症状反应区(刺激打喷嚏，分泌，如眼泪远症状)以及通过借助测鼻压在过敏刺激后测量鼻堵塞进行诊断(Clement et al.；″Rhinomanometry-a review″，OPLJ.Otorhinolaryngol.Relat.Spec.46，173-91，1984)。在这种情况下测鼻压的缺点是不能在过敏实施期间进行测量。若鼻堵塞严重，测鼻压会使患者很不舒服。若患者不配合经常会出现测量误差。确定鼻和特别是鼻息肉肿胀状态的另一种可能性是鼻测量法(Fischer″Acoustic rhinometry″，Clin.Otolaryngol.22，307-17，1997)。这些测量的测量值差值范围相当大。只能对鼻前端部分达到足够的精确度。测量期间不能进行药物激发或过敏激发。这种方法中也不能连续测量。此外，利用这两种方法也不能说明本文档来自技高网...

【技术保护点】
光学测量鼻肿胀状态的设置，由下列部件组成：－基本装置（１２），带有发光元件（１３）和光检测元件（１４）以及对应的发射电子装置（１５）和接收电子装置（１６）和控制器（１７），－基本装置（１２）和光学发射元件（２）之间的至少一个 光学连接（６），其中，通过将发光元件（１３）产生的光继续发送到光学连接（６）内实现通过光学元件（１８）的发射元件（２），－光学接收元件（３）和发光元件（１４）之间的至少一个光学连接（７），－可设置在基本装置（１２）外面的设置 在实施部件（１）上的发射元件和接收元件（２，３），其中，实施部件实现发射元件和接收元件（...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：乌韦汉佩尔，埃克哈德施莱歇，艾克冈特维斯藤贝格，乌韦厄米陈，卡尔伯德胡藤布润克，
申请(专利权)人：德累斯顿工业技术大学，
类型：发明
国别省市：DE[德国]