一种PCBA探针检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开一种PCBA探针检测装置，其包括固定机构、及分别设置于所述固定机构上、下方的第一检测机构和第二检测机构；所述固定机构包括检测基座，所述检测基座包括第一检测区域、第二检测区域、第三检测区域和第四检测区域；所述第一检测机构包括第一探针组件和第二探针组件，所述第二检测机构包括第三探针组件和第四探针组件，所述第一探针组件、第二探针组件、第三探针组件和第四探针组件均与待检测的PCBA触点抵接。本实用新型专利技术结合设置所述固定机构、第一检测机构和第二检测机构，实现平稳固定待检测的PCBA的前提下，同时获取其正面和背面的检测结果，进而得到精准度高的PCBA电气性能检测结果。气性能检测结果。气性能检测结果。

【技术实现步骤摘要】
一种PCBA探针检测装置


[0001]本技术涉及PCBA测试
，具体涉及一种PCBA探针检测装置。

技术介绍

[0002]现有的PCBA检测装置仅适用于检测单面PCBA板，若针对应用于双面PCBA板，则需在完成单面检测后，翻转该PCBA板，方可对PCBA板的背面进行检测，无法实现针对PCBA板正面和背面同时检测，检测效率极其低下，难以满足大批量检测需求；并且此种检测装置的检测范围较小，无法满足针对大面积PCBA板的不同位置区域进行精准检测，适用性差。

技术实现思路

[0003]为了克服上述技术问题，本技术公开了一种PCBA探针检测装置。
[0004]本技术为实现上述目的所采用的技术方案是：
[0005]一种PCBA探针检测装置，其包括：
[0006]固定机构，用于固定待检测的PCBA；
[0007]第一检测机构，设置于所述固定机构上方，用于获取PCBA正面的检测结果；
[0008]第二检测机构，设置于所述固定机构下方，用于获取PCBA背面的检测结果；
[0009]所述固定机构包括用于承载PCBA的检测基座，所述检测基座包括对应所述第一检测机构设置的第一检测区域和第二检测区域、以及对应所述第二检测机构设置的第三检测区域和第四检测区域；
[0010]所述第一检测机构包括分别对应所述第一检测区域和第二检测区域设置的第一探针组件和第二探针组件，所述第一探针组件和第二探针组件均与待检测的PCBA触点抵接；
[0011]所述第二检测机构包括分别对应所述第三检测区域和第四检测区域设置的第三探针组件和第四探针组件，所述第三探针组件和第四探针组件均与待检测的PCBA触点抵接。
[0012]上述的PCBA探针检测装置，其中所述第一探针组件包括若干组电性连接的信号转接件和测试探针，所述信号转接件与测试系统电性连接，所述测试探针与待检测的PCBA触点抵接。
[0013]上述的PCBA探针检测装置，其中所述测试探针包括探针柱和探针头，所述探针柱内设有中空的缓冲腔，所述探针头穿置于所述缓冲腔中，于所述探针柱的底部与所述探针头之间设置有探针弹簧。
[0014]上述的PCBA探针检测装置，其中所述第一探针组件还包括转接电路板，所述探针头与所述信号转接件通过所述转接电路板电性连接，所述转接电路板与所述测试系统电性连接。
[0015]上述的PCBA探针检测装置，其中当所述探针弹簧压缩时，所述探针头的长度大于所述探针柱的长度。
[0016]上述的PCBA探针检测装置，其中所述第二探针组件、第三探针组件、第四探针组件的结构与所述第一探针组件的结构相同。
[0017]上述的PCBA探针检测装置，其中所述第一检测机构还包括第一升降组件，所述第一探针组件和第二探针组件设置于所述第一升降组件上，所述第一探针组件和第二探针组件与第一升降组件之间设有第一缓冲组件。
[0018]上述的PCBA探针检测装置，其中所述第二检测机构还包括第二升降组件，所述第三探针组件和第四探针组件设置于所述第二升降组件上，所述第三探针组件和第四探针组件与第二升降组件之间设有第二缓冲组件。
[0019]上述的PCBA探针检测装置，其中分别纵向贯穿所述第三检测区域和第四检测区域设置有若干第一检测通孔和第二检测通孔，所述第三探针组件对应所述第一检测通孔设置，所述第四探针组件对应所述第二检测通孔设置。
[0020]上述的PCBA探针检测装置，其中所述固定机构包括结构相同且分别设置于所述检测基座两侧的第一固定组件和第二固定组件，所述第一固定组件包括固定设置的第一气缸和固定推块，所述固定推块对应所述检测基座设置。
[0021]本技术的有益效果为：本技术结合设置所述固定机构、第一检测机构和第二检测机构，实现平稳固定待检测的PCBA的前提下，同时获取其正面和背面的检测结果，进而得到精准度高的PCBA电气性能检测结果；其中，根据PCBA的待检测结构位置，规范划分所述第一检测区域、第二检测区域、第三检测区域和第四检测区域，以有序地限定独立的检测空间，提高PCBA的检测全面性和规范性。
附图说明
[0022]下面结合附图和实施例对本技术进一步说明。
[0023]图1为本技术的结构立体示意图；
[0024]图2为本技术中信号转接件和测试探针的正视示意图。
具体实施方式
[0025]下面通过具体实施例对本技术作进一步说明，以使本技术的技术方案更易于理解、掌握，而非对本技术进行限制。
[0026]实施例：参见图1至图2，本实施例提供的一种PCBA探针检测装置，其包括：
[0027]固定机构1，用于固定待检测的PCBA；
[0028]第一检测机构2，设置于所述固定机构1上方，用于获取PCBA正面的检测结果；
[0029]第二检测机构3，设置于所述固定机构1下方，用于获取PCBA背面的检测结果；
[0030]所述固定机构1包括用于承载PCBA的检测基座，所述检测基座包括对应所述第一检测机构2设置的第一检测区域和第二检测区域、以及对应所述第二检测机构3设置的第三检测区域和第四检测区域；
[0031]所述第一检测机构2包括分别对应所述第一检测区域和第二检测区域设置的第一探针组件和第二探针组件，所述第一探针组件和第二探针组件均与待检测的PCBA触点抵接；
[0032]所述第二检测机构3包括分别对应所述第三检测区域和第四检测区域设置的第三
探针组件和第四探针组件，所述第三探针组件和第四探针组件均与待检测的PCBA触点抵接。
[0033]具体地，结合设置所述固定机构1、第一检测机构2和第二检测机构3，实现平稳固定待检测的PCBA的前提下，同时获取其正面和背面的检测结果，进而得到精准度高的PCBA电气性能检测结果；其中，根据PCBA的待检测结构位置，规范划分所述第一检测区域、第二检测区域、第三检测区域和第四检测区域，以有序地限定独立的检测空间，提高PCBA的检测全面性和规范性。
[0034]较佳地，所述第一探针组件包括若干组电性连接的信号转接件21和测试探针，所述信号转接件21与测试系统电性连接，所述测试探针与待检测的PCBA触点抵接；优化设置所述信号转接件21，改良所述测试探针与测试系统的连接方式，解决传统的导线连接方式因移动位置受阻而存在较大的局限性，确保达到良好的连接稳定性。
[0035]较佳地，所述测试探针包括探针柱22和探针头23，所述探针柱22内设有中空的缓冲腔，所述探针头23穿置于所述缓冲腔中，于所述探针柱22的底部与所述探针头23之间设置有探针弹簧，所述探针弹簧的设置便于在所述探针头23与PCBA触点抵接时起到缓冲作用，降低所述探针头23的老化损坏率，提高对PCBA的触点抵接灵活性。
[0036]进一步地，所述第一探针组件还包括转接电路板，所述探针头23与所述信号转接件21通过所述转接电路板电性连接本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种PCBA探针检测装置，其特征在于，其包括：固定机构，用于固定待检测的PCBA；第一检测机构，设置于所述固定机构上方，用于获取PCBA正面的检测结果；第二检测机构，设置于所述固定机构下方，用于获取PCBA背面的检测结果；所述固定机构包括用于承载PCBA的检测基座，所述检测基座包括对应所述第一检测机构设置的第一检测区域和第二检测区域、以及对应所述第二检测机构设置的第三检测区域和第四检测区域；所述第一检测机构包括分别对应所述第一检测区域和第二检测区域设置的第一探针组件和第二探针组件，所述第一探针组件和第二探针组件均与待检测的PCBA触点抵接；所述第二检测机构包括分别对应所述第三检测区域和第四检测区域设置的第三探针组件和第四探针组件，所述第三探针组件和第四探针组件均与待检测的PCBA触点抵接。2.根据权利要求1所述的PCBA探针检测装置，其特征在于，所述第一探针组件包括若干组电性连接的信号转接件和测试探针，所述信号转接件与测试系统电性连接，所述测试探针与待检测的PCBA触点抵接。3.根据权利要求2所述的PCBA探针检测装置，其特征在于，所述测试探针包括探针柱和探针头，所述探针柱内设有中空的缓冲腔，所述探针头穿置于所述缓冲腔中，于所述探针柱的底部与所述探针头之间设置有探针弹簧。4.根据权利要求3所述的PCBA探针检测装置，其特征在于，所述第一探针组件还包括转接电路板，所述探针头与所述信号转接件通...

【专利技术属性】
技术研发人员：陆盘，杨勇，顾琴芳，刘宗斌，
申请(专利权)人：东莞市司姆特电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：