一种芯片自动测试分选装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于芯片测试分选技术领域，尤其为一种芯片自动测试分选装置，包括输送单元组件和分选组件，输送单元组件包括相互滑动连接的放置板和滑动板，且放置板上固定连接有微型电动推杆，放置板的一侧通过接电座固定连接有金属触头，且金属触头电性连接在导电座上，分选组件包括固定嵌装导电座的固定架，且固定架的上端固定连接有视觉检测相机。本实用新型专利技术通过若干个输送单元组件之间的拼接组成一个完整的输送带，用于稳定的输送芯片进行分选操作，将芯片移动到视觉检测相机下方，进行芯片外观的检测，并在芯片不合格时，利用微型电动推杆移动滑动板，将芯片从放置板上的放置槽中分离出来，整个芯片分选过程速度快、效率高。效率高。效率高。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片自动测试分选装置


[0001]本技术涉及芯片测试分选
，具体为一种芯片自动测试分选装置。

技术介绍

[0002]芯片完成加工制造工序后，需要一一进行测试，以此来确保芯片的质量，使得芯片后续可以稳定的使用。在芯片测试分选过程中就需要对其芯片的外观等进行检测，在芯片外观检测过程中将其不合格的分选出来，避免出现次品。
[0003]目前在芯片分选过程中，需要将芯片逐个的放置到测试分选工位处进行处理，完成后在移动到合适的存放部位处，导致速度慢、效率低。

技术实现思路

[0004](一)解决的技术问题
[0005]针对现有技术的不足，本技术提供了一种芯片自动测试分选装置，解决了芯片分选速度慢、效率低的问题。
[0006](二)技术方案
[0007]本技术为了实现上述目的具体采用以下技术方案：
[0008]一种芯片自动测试分选装置，包括输送单元组件和分选组件，所述输送单元组件包括相互滑动连接的放置板和滑动板，且放置板上固定连接有微型电动推杆，并且微型电动推杆的活动端固定连接在滑动板上，所述放置本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片自动测试分选装置，包括输送单元组件(1)和分选组件(2)，其特征在于：所述输送单元组件(1)包括相互滑动连接的放置板(101)和滑动板(102)，且放置板(101)上固定连接有微型电动推杆(103)，并且微型电动推杆(103)的活动端固定连接在滑动板(102)上，所述放置板(101)的一侧通过接电座(104)固定连接有金属触头(105)，且金属触头(105)电性连接在导电座(204)上，所述分选组件(2)包括固定嵌装导电座(204)的固定架(201)，且固定架(201)的上端固定连接有视觉检测相机(203)，并且视觉检测相机(203)与控制器(202)电性连接，控制器(202)固定连接在固定架(201)上。2.根据权利要求1所述的一种芯片自动测试分选装置，其特征在于：所述放置板(101)上开设有放置槽(1014)，且放置槽(1014)的两侧壁均开设有配合滑动块(1021)的滑动槽(1016)，并且放置板(101)上开设有配合滑动板(102)滑动穿过的滑动孔(1...

【专利技术属性】
技术研发人员：余执钧，尹文波，俞媛媛，
申请(专利权)人：绍兴知乐电子科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：