本发明专利技术提供了测试臂动力矩锁紧装置，包括底板、一号Z轴模组、二号Z轴模组；底板上固定安装一个固定架，一号Z轴模组和二号Z轴模组安装至两个固定架，一号Z轴模组和二号Z轴模组顶部设有锁紧板，锁紧板安装一号Z轴电机和二号Z轴电机，锁紧板上表面设有锁紧组件；一号Y轴安装板连接至一号Z轴升降板，二号Y轴安装板连接至二号Z轴升降板，二号Y轴模组与二号Z轴模组之间配合；底板设有Y轴驱动模组，一号Z轴模组、二号Z轴模组、一号Y轴模组、二号Y轴模组、Y轴驱动模组和锁紧组件均连接至控制器。本发明专利技术安装空间紧凑，运转平稳无冲击振动、动作确认快、制动精确、制动力矩大、不需要进行磨耗调整且工作效率高。效率高。效率高。
【技术实现步骤摘要】
测试臂动力矩锁紧装置
[0001]本专利技术属于IC测试领域，尤其是涉及测试臂动力矩锁紧装置。
技术介绍
[0002]目前旺盛的封测市场需求对封测企业的生产能力以及生产设备多功能和稳定性都提出了新的要求。现有的封测设备如自动测试分类机等，测试臂机构是设置在设备平台上方，测试臂吸取IC运行放置测试座中进行全功能测试，测试时仅靠电机本身的保持扭力保证测试下压位置不动。现有的测试臂最大的电机组件保持力为电机750W保持力120kgf和电机1.5kw保持力240kgf。现有的机构此时如遇到需要大压力测试的芯片，仅靠电机扭力是无法满足的，造成下压位置移动，芯片没有和测试座压到位，测试结果异常；现有机构下压保持力小，直接影响产量良率低。
技术实现思路
[0003]有鉴于此，本专利技术旨在提出测试臂动力矩锁紧装置，安装空间紧凑，运转平稳无冲击振动、动作确认快、制动精确、制动力矩大、不需要进行磨耗调整且工作效率高。
[0004]为达到上述目的，本专利技术的技术方案是这样实现的：测试臂动力矩锁紧装置，包括底板、一号Z轴模组、二号Z轴模组、一号Y轴模组、二号Y轴模组、Y轴驱动模组和锁紧组件；底板上表面两侧分别固定安装一个固定架，一号Z轴模组和二号Z轴模组分别固定安装至两个固定架上，一号Z轴模组和二号Z轴模组顶部设有锁紧板，锁紧板两侧分别安装驱动一号Z轴模组的一号Z轴电机、和驱动二号Z轴模组的二号Z轴电机，锁紧板上表面设有用于抱死一号Z轴电机和二号Z轴电机的锁紧组件；一号Y轴模组的一号Y轴安装板，连接至一号Z轴模组的一号Z轴升降板，二号Y轴模组的二号Y轴安装板，连接至二号Z轴模组的二号Z轴升降板，实现一号Y轴模组与一号Z轴模组之间配合，二号Y轴模组与二号Z轴模组之间配合；底板设有用于驱动一号Y轴模组和二号Y轴模组的Y轴驱动模组，一号Z轴模组、二号Z轴模组、一号Y轴模组、二号Y轴模组、Y轴驱动模组和锁紧组件均连接至控制器。
[0005]进一步的，一号Z轴模组和二号Z轴模组结构相同，且二者相对底板中线对称设置，一号Z轴模组包括一号安装槽体、一号Z轴丝杠、一号Z轴升降板、一号Z轴电机、一号主动轮和一号惰轮，一号安装槽体外侧面安装至固定架，一号安装槽体和二号Z轴模组的二号安装槽体顶部安装锁紧板，一号Z轴丝杠设置在一号安装槽内，且一号Z轴丝杠顶端穿过一号安装槽和锁紧板并安装一号惰轮，一号Z轴电机的输出端安装一号主动轮，一号主动轮通过同步带与一号惰轮连接，实现一号Z轴电机对一号Z轴丝杠的驱动，一号Z轴升降板背部通过螺母座连接至一号Z轴丝杠，进而实现对一号Z轴升降板的驱动。
[0006]进一步的，一号Y轴模组和二号Y轴模组结构相同，一号Y轴模组包括固定安装至一号Z轴升降板的一号Y轴安装板和一号测试臂，一号Y轴安装板设有水平安装的一号Y轴滑轨，一号测试臂的顶端背侧通过滑块与一号Y轴滑轨滑动配合，实现一号测试臂在Y轴方向
的移动，一号测试臂底端安装用于对芯片进行测试的测试压头；二号Y轴模组包括固定安装至二号Z轴升降板的二号Y轴安装板和二号测试臂，二号Y轴安装板设有水平安装的二号Y轴滑轨，二号测试臂的顶端背侧通过滑块与二号Y轴滑轨滑动配合，实现二号测试臂在Y轴方向的移动，二号测试臂底端也安装用于对芯片进行测试的测试压头。
[0007]进一步的，底板中部设有通槽，所述通槽用于一号测试臂和二号测试臂的通过。
[0008]进一步的，Y轴驱动模组包括Y轴驱动电机、Y轴驱动丝杠、一号Y轴驱动滑轨、二号Y轴驱动滑轨、Y轴驱动螺母座和Y轴驱动连接块，Y轴驱动电机安装至底板，Y轴驱动连接块的两侧分别安装一个Y轴驱动滑轨，Y轴驱动丝杠通过Y轴驱动螺母座安装至一号Y轴驱动滑轨上，Y轴驱动螺母座与Y轴驱动丝杠螺纹连接，且Y轴驱动螺母座底部通过滑块连接至一号Y轴驱动滑轨，Y轴驱动丝杠的端部设有从动轮，Y轴驱动电机的输出端设有主动轮，主动轮通过皮带与从动轮连接，实现Y轴驱动电机对Y轴驱动丝杠的驱动；二号Y轴驱动滑轨上设有从动滑块，Y轴驱动螺母座通过Y轴驱动连接块与从动滑块连接，进而实现连接座沿Y轴方向的直线移动。
[0009]进一步的，Y轴驱动连接块的两侧设有Z轴方向的导向滑块，一号测试臂和二号测试臂的侧边均设有一个与导向滑块相配合的导向滑轨，进而实现Y轴驱动电机驱动一号测试臂和二号测试臂同时在Y轴方向移动。
[0010]进一步的，锁紧组件包括锁紧安装架、一号电磁制动器和二号电磁制动器，其中锁紧安装架包括顶板和三个平行设置的隔板，顶板下表面通过三个平行设置的隔板安装至锁紧板，所述三个隔板将顶板和锁紧板之间分隔成两个控制区，在每个控制区内，一号电磁制动器和二号电磁制动器分别通过固定板安装至顶板的下表面，一号电磁制动器的磁吸端对应一号惰轮，二号电磁制动器的磁吸端对应二号Z轴模组的二号惰轮。
[0011]进一步的，三个平行设置的隔板上设有两套对射传感器，分别为与一号电磁制动器对应的一号对射传感器，与二号电磁制动器对应的二号对射传感器，一号对射传感器和二号对射传感器信号连接至控制器。
[0012]进一步的，初始状态，一号电磁制动器和一号惰轮之间存在一号缝隙，二号电磁制动器和二号惰轮之间也存在二号缝隙，一号对射传感器设置在一号缝隙之间，二号对射传感器设置在二号缝隙之间。
[0013]进一步的，一号惰轮的顶部和二号惰轮的顶部均设有刹车片，所述刹车片用于增大电磁制动器的磁吸端与惰轮之间的摩擦力。
[0014]相对于现有技术，本专利技术所述的测试臂动力矩锁紧装置具有以下优势：（1）本专利技术测试臂动力矩锁紧装置，通过在对测试臂增加电磁制动器，对测试臂抱死，避免检测过程中由于检测压力值过大造成测试臂的晃动，提高检测的精确度。
[0015]（2）本专利技术测试臂动力矩锁紧装置，通过一号测试臂和二号测试臂交替作业，最大效率的实现IC检测，极大程度的提高了工作效率。
附图说明
[0016]构成本专利技术的一部分的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：图1为本专利技术实施例测试臂动力矩锁紧装置正视角度示意图；
图2为本专利技术实施例测试臂动力矩锁紧装置后视角度示意图；图3为本专利技术实施例测试臂动力矩锁紧组件爆炸示意图。
[0017]附图标记说明：1、底板；11、通槽；2、一号Z轴模组；21、一号安装槽体；22、一号Z轴丝杠；23、一号Z轴升降板；24、一号Z轴电机；25、一号主动轮；26、一号惰轮；3、二号Z轴模组；4、一号Y轴模组；41、一号Y轴安装板；42、一号测试臂；43、一号Y轴滑轨；5、二号Y轴模组；51、二号Y轴安装板；52、二号测试臂；6、Y轴驱动模组；61、Y轴驱动电机；62、Y轴驱动丝杠；63、一号Y轴驱动滑轨；64、二号Y轴驱动滑轨；65、Y轴驱动螺母座；66、Y轴驱动连接块；661、导向滑块；662、导向滑轨；7、锁紧组件；71、锁紧安装架；711、顶板；712、隔板；72、一号电磁制动器；73、二号电磁制动器；74、一号对射传感本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.测试臂动力矩锁紧装置，其特征在于：包括底板、一号Z轴模组、二号Z轴模组、一号Y轴模组、二号Y轴模组、Y轴驱动模组和锁紧组件；底板上表面两侧分别固定安装一个固定架，一号Z轴模组和二号Z轴模组分别固定安装至两个固定架上，一号Z轴模组和二号Z轴模组顶部设有锁紧板，锁紧板两侧分别安装驱动一号Z轴模组的一号Z轴电机、和驱动二号Z轴模组的二号Z轴电机，锁紧板上表面设有用于抱死一号Z轴电机和二号Z轴电机的锁紧组件；一号Y轴模组的一号Y轴安装板，连接至一号Z轴模组的一号Z轴升降板，二号Y轴模组的二号Y轴安装板，连接至二号Z轴模组的二号Z轴升降板，实现一号Y轴模组与一号Z轴模组之间配合，二号Y轴模组与二号Z轴模组之间配合；底板设有用于驱动一号Y轴模组和二号Y轴模组的Y轴驱动模组，一号Z轴模组、二号Z轴模组、一号Y轴模组、二号Y轴模组、Y轴驱动模组和锁紧组件均连接至控制器。2.根据权利要求1所述的测试臂动力矩锁紧装置，其特征在于：一号Z轴模组和二号Z轴模组结构相同，且二者相对底板中线对称设置，一号Z轴模组包括一号安装槽体、一号Z轴丝杠、一号Z轴升降板、一号Z轴电机、一号主动轮和一号惰轮，一号安装槽体外侧面安装至固定架，一号安装槽体和二号Z轴模组的二号安装槽体顶部安装锁紧板，一号Z轴丝杠设置在一号安装槽内，且一号Z轴丝杠顶端穿过一号安装槽和锁紧板并安装一号惰轮，一号Z轴电机的输出端安装一号主动轮，一号主动轮通过同步带与一号惰轮连接，实现一号Z轴电机对一号Z轴丝杠的驱动，一号Z轴升降板背部通过螺母座连接至一号Z轴丝杠，进而实现对一号Z轴升降板的驱动。3.根据权利要求2所述的测试臂动力矩锁紧装置，其特征在于：一号Y轴模组和二号Y轴模组结构相同，一号Y轴模组包括固定安装至一号Z轴升降板的一号Y轴安装板和一号测试臂，一号Y轴安装板设有水平安装的一号Y轴滑轨，一号测试臂的顶端背侧通过滑块与一号Y轴滑轨滑动配合，实现一号测试臂在Y轴方向的移动，一号测试臂底端安装用于对芯片进行测试的测试压头；二号Y轴模组包括固定安装至二号Z轴升降板的二号Y轴安装板和二号测试臂，二号Y轴安装板设有水平安装的二号Y轴滑轨，二号测试臂的顶端背侧通过滑块与二号Y轴滑轨滑动配合，实现二号测试臂在Y轴方向的移动，二号测试臂底端也安装用于对芯片进行测试的测试压头。4.根据权利要求3所述的测试臂动力矩锁紧装置...
【专利技术属性】
技术研发人员：贺怀珍，仇崴，杨文宝，郝雄，
申请(专利权)人：天津金海通半导体设备股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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