时钟芯片及频率测量方法技术

本发明专利技术公开了一种时钟芯片及频率测量方法，该时钟芯片包括频率测量模块，频率测量模块与锁存寄存器连接，频率测量模块在测量标志位中的开始位为1时，从测试系统中获取基准频率，基准频率由测试系统根据时钟源获取，在接收到测试系统的测试指令时，基于基准频率对当前频率进行测量，并将频率测量值存储至锁存寄存器中。由于本发明专利技术通过内部的频率测量模块基于基准频率自动对当前频率进行测量，并将频率测量值存储至锁存寄存器中，测试系统可直接读取锁存寄存器中的频率测量值，相较于现有技术使用频率计在测量频率时需要配合频率测量电路，本发明专利技术上述时钟芯片简化了测试系统和流程，有效降低了设备成本。有效降低了设备成本。有效降低了设备成本。

【技术实现步骤摘要】
时钟芯片及频率测量方法


[0001]本专利技术涉及集成电路
，尤其涉及一种时钟芯片及频率测量方法。

技术介绍

[0002]目前，时钟芯片在生产测试过程中，频率测量是一项非常重要的项目，频率测量的效率越高，时钟芯片的生产效率也越高。现有的测试方法是使用频率计对芯片进行频率测试，在生产测试系统中对所有芯片进行轮询测试，或者使用多台频率计进行测试。但是使用频率计测量频率时，需要手动操作，并且需要配合频率测量电路，每一片芯片或多片芯片公用一个测量电路，测试系统和流程复杂，导致测量需要的成本较高。
[0003]上述内容仅用于辅助理解本专利技术的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

技术实现思路

[0004]本专利技术的主要目的在于提供了一种时钟芯片及频率测量方法，旨在解决现有技术使用频率计的频率测量方法在测量频率时，需要手动操作，并且需要配合频率测量电路，每一片芯片或多片芯片公用一个测量电路，测试系统和流程复杂，导致测量需要的成本较高的技术问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供了一种时钟芯片，所述时钟芯片包括频率测量模块；所述频率测量模块与锁存寄存器连接；所述频率测量模块，用于在测量标志位中的开始位为1时，从测试系统中获取基准频率，所述基准频率由所述测试系统根据时钟源获取；所述频率测量模块，还用于在接收到所述测试系统的测试指令时，基于所述基准频率对当前频率进行测量，并将频率测量值存储至所述锁存寄存器中。
[0006]可选地，所述频率测量模块，还用于在接收到所述测试系统的测试指令时，获取当前标准频率的实际上升沿数量；所述频率测量模块，还用于在所述实际上升沿数量对应的范围内基于所述基准频率确定实际测试时间；所述频率测量模块，还用于通过预设频率公式基于所述实际上升沿数量和所述实际测试时间确定当前频率，并将所述当前频率的频率测量值存储至所述锁存寄存器中；其中，所述预设频率公式为：，其中，f为实际频率，N
实
为当前频率的实际上升沿数量，t0为实际测试时间。
[0007]可选地，所述频率测量模块，还用于在所述实际上升沿数量对应的范围内获取所述基准频率的上升沿数量；所述频率测量模块，还用于通过预设时间公式基于所述基准频率的上升沿数量和
所述基准频率确定实际测试时间；其中，所述预设时间公式为：，其中，N
源
为基准频率的上升沿数量，f
源
为基准频率。
[0008]可选地，所述时钟芯片还包括FLAG模块；所述FLAG模块分别与所述频率测量模块和所述锁存寄存器连接；所述FLAG模块，用于在接收到所述测试系统的测试指令时，检测所述测量标志位中的开始位和结束位；所述FLAG模块，还用于在检测到所述测量标志位中的开始位和结束位均为0时，将所述测量标志位中的开始位设置为1。
[0009]可选地，所述FLAG模块，还用于在检测到所述锁存寄存器被写入数据时，将所述测量标志位中的结束位设置为1，以使所述测试系统在检测到所述结束位为1时读取所述锁存寄存器中的所述频率测量值。
[0010]可选地，所述锁存寄存器，用于在当前频率测量值被所述测试系统读取时，将所述频率测量值清零；所述FLAG模块，还用于在检测到所述寄存器中的数据清零时，将所述测量标志位的开始位和结束位均设置为0。
[0011]可选地，所述FLAG模块，还用于在检测到所述测量标志位中的开始位为0，结束位为1时，判定测试过程中存在错误，终止测试。
[0012]此外，为实现上述目的，本专利技术还提出一种频率测量方法，所述频率测量方法包括以下步骤：在测量标志位中的开始位为1时，从测试系统中获取基准频率，所述基准频率由所述测试系统根据时钟源获取；在接收到所述测试系统的测试指令时，基于所述基准频率对当前频率进行测量，并将频率测量值存储至所述锁存寄存器中。
[0013]可选地，所述在接收到所述测试系统的测试指令时，基于所述基准频率对当前频率进行测量，并将频率测量值存储至所述锁存寄存器中的步骤，包括：在接收到所述测试系统的测试指令时，获取当前标准频率的实际上升沿数量；在所述实际上升沿数量对应的范围内基于所述基准频率确定实际测试时间；通过预设频率公式基于所述实际上升沿数量和所述实际测试时间确定当前频率，并将所述当前频率的频率测量值存储至所述锁存寄存器中；其中，所述预设频率公式为：，其中，f为实际频率，N
实
为当前频率的实际上升沿数量，t0为实际测试时间。
[0014]可选地，所述在所述实际上升沿数量范围内基于所述基准频率确定实际测试时间的步骤，包括：
在所述实际上升沿数量对应的范围内获取所述基准频率的上升沿数量；通过预设时间公式基于所述基准频率的上升沿数量和所述基准频率确定实际测试时间；其中，所述预设时间公式为：，其中，N
源
为基准频率的上升沿数量，f
源
为基准频率。
[0015]本专利技术通过时钟芯片的频率测量模块在测量标志位中的开始位为1时，从测试系统中获取基准频率，基准频率由测试系统根据时钟源获取，然后在接收到测试系统的测试指令时，基于基准频率对当前频率进行测量，最后将频率测量值存储至锁存寄存器中。由于本专利技术通过内部的频率测量模块基于基准频率自动对当前频率进行测量，并将频率测量值存储至锁存寄存器中，测试系统可直接读取锁存寄存器中的频率测量值，相较于现有技术使用频率计在测量频率时需要配合频率测量电路，本专利技术上述时钟芯片简化了测试系统和流程，有效降低了设备成本。
附图说明
[0016]图1为本专利技术时钟芯片第一实施例的结构框图；图2为本专利技术第一实施例所涉及的测试系统与时钟芯片的连接示意图；图3为本专利技术第一实施例频率测量原理示意图；图4为本专利技术时钟芯片第二实施例的结构框图；图5为为本专利技术基于时钟芯片的频率测量方法第一实施例流程示意图。
[0017]本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0018]应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0019]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0020]需要说明，在本专利技术实施例中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本专利技术要求的保护范围之内。
[0021]参照图1，图1为本专利技术时钟芯片第一实施例的结构框图。
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种时钟芯片，其特征在于，所述时钟芯片包括频率测量模块；所述频率测量模块与锁存寄存器连接；所述频率测量模块，用于在测量标志位中的开始位为1时，从测试系统中获取基准频率，所述基准频率由所述测试系统根据时钟源获取；所述频率测量模块，还用于在接收到所述测试系统的测试指令时，基于所述基准频率对当前频率进行测量，并将频率测量值存储至所述锁存寄存器中。2.如权利要求1所述的时钟芯片，其特征在于，所述频率测量模块，还用于在接收到所述测试系统的测试指令时，获取当前标准频率的实际上升沿数量；所述频率测量模块，还用于在所述实际上升沿数量对应的范围内基于所述基准频率确定实际测试时间；所述频率测量模块，还用于通过预设频率公式基于所述实际上升沿数量和所述实际测试时间确定当前频率，并将所述当前频率的频率测量值存储至所述锁存寄存器中；其中，所述预设频率公式为：，其中，f为实际频率，N
实
为当前频率的实际上升沿数量，t0为实际测试时间。3.如权利要求2所述的时钟芯片，其特征在于，所述频率测量模块，还用于在所述实际上升沿数量对应的范围内获取所述基准频率的上升沿数量；所述频率测量模块，还用于通过预设时间公式基于所述基准频率的上升沿数量和所述基准频率确定实际测试时间；其中，所述预设时间公式为：，其中，N
源
为基准频率的上升沿数量，f
源
为基准频率。4.如权利要求1所述的时钟芯片，其特征在于，所述时钟芯片还包括FLAG模块；所述FLAG模块分别与所述频率测量模块和所述锁存寄存器连接；所述FLAG模块，用于在接收到所述测试系统的测试指令时，检测所述测量标志位中的开始位和结束位；所述FLAG模块，还用于在检测到所述测量标志位中的开始位和结束位均为0时，将所述测量标志位中的开始位设置为1。5.如权利要求4所述的时钟芯片，其特征在于，所述FLAG模块，还用于在检测到所述锁存寄存器被写入数据时，将所述测量标志位中的结束位设置为1，以使所述测试系统在检测到所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：林潮兴，邱文才，林满院，田学红，王祥仁，刘启昌，宋晓琴，
申请(专利权)人：深圳市英特瑞半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：