一种电子元件测值装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种电子元件测值装置，包括感应片安装底座、横向调整机构及垂直调整机构，其特征在于：所述横向调整机构可拆装式设有测值针及测值针组，所述测值针组的下方设有光源，所述测值针及测值针组均位于横向调整机构的一端；本实用新型专利技术能够快速调整单组测值针的横向距离及竖直方向的距离，提高测值针的精确度，提高装置的空间利用率，装置的结构简单，测值针的装针、换针更加方便，不容易卡位而导致装置发生误差。导致装置发生误差。导致装置发生误差。

【技术实现步骤摘要】
一种电子元件测值装置


[0001]本技术涉及测值针相关
，尤其涉及一种电子元件测值装置。

技术介绍

[0002]电子元件生产加工过程中，要求对覆膜包装的电子元件(电阻、电容、电感)进行测值检测，防止错料，主要应用在不撕膜的情况下对电子元件进行测试，保证被测试元件合格，从而保证工厂的产品品质。
[0003]在覆膜元件测试中，最重要的部件为测值针，只有提高测值针的测量精度，才能保证装置的实用性，一般的测值针使用单针强度不够，则容易发生断裂或折弯的情况，只用单杆结构容易发生卡在台阶部位，从而测量值不准确，为了防止出现卡在台阶部位的发生，且现有的测针机构难以调整单组或单个测值针的间距，因此需要对机构进一步地改进。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种电子元件测值装置，以克服现有技术中存在的不足。
[0005]为了实现上述目的，本技术提供如下技术方案：
[0006]一种电子元件测值装置，包括感应片安装底座、横向调整机构及垂直调整机构，所述横向调整机构可拆装式设有测值针及测值针组，所述测值针组的下方设本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子元件测值装置，包括感应片安装底座、横向调整机构及垂直调整机构，其特征在于：所述横向调整机构可拆装式设有测值针及测值针组，所述测值针组的下方设有光源，所述测值针及测值针组均位于横向调整机构的一端。2.如权利要求1所述的一种电子元件测值装置，其特征在于：所述测值针组至少由两根测值针组成，所述测值针包括用于固定测值针的测针安装位及用于装针治具定位的测针治具定位孔，测值针还包括切膜刀口、切膜刀尖及台阶内斜。3.如权利要求1所述的一种电子元件测值装置，其特征在于：所述横向调整机构包括前测针电机、测值针组电机、电机固定架、若干个丝杆及横向延长杆，若干个所述丝杆分别与前测针电机及测值针组电机转动式配合连接，横向延长杆贯穿所述垂直调整机构并与其活动式连接，横...

【专利技术属性】
技术研发人员：柯晓庆，黎伟星，
申请(专利权)人：东莞市冠菱精密设备有限公司，
类型：新型
国别省市：