一种多功能联合测试行动组链装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种多功能联合测试行动组链装置，包括芯片本体，所述芯片本体的表面设置有稳固片，所述稳固片上设置有两个限位片，所述限位片的端部之间设置有连接片，所述连接片的中心位置开设有螺孔，所述芯片本体的底部设置有连接板和限位板，所述连接板与芯片本体连接，所述限位板底部设置有两个限位柱；限位片与稳固片卡合连接，限位片被定位住，连接板与限位板卡合连接，便于准确放置芯片本体，且芯片本体被定位住，便于拆装芯片本体，限位片与连接片具有导热性，可传导芯片本体自身的热量，利于散热。利于散热。利于散热。

【技术实现步骤摘要】
一种多功能联合测试行动组链装置


[0001]本技术属于联合测试行动组链
，具体涉及一种多功能联合测试行动组链装置。

技术介绍

[0002]联合测试行动小组（JTAG)是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试，JTAG 技术是一种嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路TAP (测试访问口)，通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。目前大多数比较复杂的器件都支持JTAG协议，如ARM、DSP、FPGA器件等。标准的JTAG接口是4线:TMS、TCK、TDI、TDO，分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出，芯片采用JTAG 技术，便于测试芯片。
[0003]现有的芯片在安装时，存在芯片拆装不够简便灵活，芯片自身受到热量影响的问题，为此我们提出一种多功能联合测试行动组链装置。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种多功能联合测试行动组链装置，以解决上述
技术介绍
中提出的芯片拆装不够简便灵活，芯片自身受到热量影响的问题。
[0005]为实现上述目的，本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多功能联合测试行动组链装置，包括芯片本体（1），其特征在于：所述芯片本体（1）的表面设置有稳固片（2），所述稳固片（2）上设置有两个限位片（3），所述限位片（3）的端部之间设置有连接片（4），所述连接片（4）的中心位置开设有螺孔（5），所述芯片本体（1）的底部设置有连接板（6）和限位板（7），所述连接板（6）与芯片本体（1）连接，所述限位板（7）底部设置有两个限位柱（8）。2.根据权利要求1所述的一种多功能联合测试行动组链装置，其特征在于：所述稳固片（2）为长方形边框形状，所述稳固片（2）的表面开设有定位槽，所述限位片（3）与定位槽配合。3.根据权利要求1所述的一种多功能联合测试行动组链装置，其特征在于：所述限位片（3）为“L”型结构，所述限位片（3）的底端与...

【专利技术属性】
技术研发人员：张胜豪，
申请(专利权)人：南京瑞敬自动化科技有限公司，
类型：新型
国别省市：