【技术实现步骤摘要】
一种基于三元材料平面隧穿效应的光电探测器及制备方法
[0001]本专利技术涉及新型材料光探测
,具体涉及一种基于三元材料平面隧穿效应的光电探测器及制备方法。
技术介绍
[0002]半导体能带结构决定了材料的电学、光学和磁性等诸多性质。能带结构的演变,导致电子运动的多样化,最终产生不同性质的半导体并扩展其应用。传统的光电探测器以铟镓砷、碲镉汞等为代表,已在很多领域发挥作用。但是随着人类对光电探测不断增长的需求,尤其近几年来在大数据、智慧城市、人工智能、万物互联等方面对信息的探测和智能感知有着强烈的需求,。而传统光电探测器则受限于选择种类和复杂的结构,不能满足现在多样化的需求。近十年,材料科学技术的发展以及众多新型材料出现,为光电探测技术的发展和进步提供更多的选择空间。
[0003]在众多新材料之中,空气稳定和高迁移率的半导体新型三元材料如碲铋锰(MnBi2Te4)、碲氧铋(Bi2O2Te)、钼硫硒(MoSSe)、铁碲硒(FeTeSe)、铋硒碲(Bi2Se
1.5
Te
1.5
)等 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于三元材料平面隧穿效应的光电探测器,其特征在于,所述探测器结构从下到上依次包括:衬底(1)、绝缘层(2)、新型三元材料(3)、绝缘氧化物层材料(4)、其他薄膜材料(5)、金属电极,金属电极包括金属漏电极(6a)和金属源电极(6b);所述新型三元材料(3)、绝缘氧化物层材料(4)、其他薄膜材料(5)形成平面隧穿结结构,其中,新型三元材料(3)作为底部光敏层,绝缘氧化物层材料(4)作为隧穿效应层,其他薄膜材料(4)作为顶部光敏层。2.根据权利要求1所述的基于三元材料平面隧穿效应的光电探测器,其特征在于:所述的绝缘氧化物层材料(4)位于新型三元材料(3)与其他薄膜材料(5)之间,所述平面隧穿结结构形成隧穿效应区域,增强载流子的传输数量和速度。3.根据权利要求1或2所述的基于三元材料平面隧穿效应的光电探测器,其特征在于:所述绝缘氧化物层材料(4)的厚度为2~20纳米;所述新型三元材料(3)、其他薄膜材料层(5)的厚度为20~100纳米。4.根据权利要求1所述的基于三元材料平面隧穿效应的光电探测器,其特征在于:所述的新型三元材料(3)是碲铋锰、碲氧铋、钼硫硒、铁碲硒或铋硒碲;所述的其他薄膜材料(5)为砷化碲。5.根据权利要求1所述的基于三元材料平面隧穿效应的光电探测器,其特征在于:所述的新型三元材料(3)与金属源电极(6b),其他薄膜材料(5)与金属漏电极(6a)相连接。6.根据权利要求1所述的基于三元材料平面隧穿效应的光电探测器,其特征在于:所述的新型三元材料(3)沉积生长在带有绝缘层的衬底上。7.一种根据权利要求1~6中任一项所述基于三元材料平面隧穿效应的光电探测器的制备方法,其特征在于:包括如下步骤:S1、清洗带有绝缘层(...
【专利技术属性】
技术研发人员:付贵,杨明晔,杨明,张小强,朱新宇,
申请(专利权)人:中国民用航空飞行学院,
类型:发明
国别省市:
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